【技术实现步骤摘要】
集束装置终端光学组件成像系统及方法
[0001]本专利技术涉及大口径光学元件在线成像系统设计领域。
技术介绍
[0002]大型激光装置在进行惯性约束核聚变(Inertial Confinement Fusion,ICF)实验时,多束种子激光经过能量预放、整形、多程放大后在光路末端达到峰值,聚焦于真空靶室靶点,完成打靶实验。终端光学组件(Final Optics Assembly,FOA)位于整个光路的末端,由8块光学元件组成,因承受着非常高的激光能量,极易产生激光诱导损伤。这会导致元件自身性能变差,致使激光功率和能量水准不满足打靶需求,直接导致点火失败;同时损伤的存在使光束近场调制度增加,近场质量恶化,加大下游元件损伤风险;光学元件损伤过于严重会在实验中炸裂,飞溅的炸裂物污染整个靶室环境。导致严重实验事故,造成巨大经济损失;最后,终端光学元件价格异常昂贵,晶体加工周期漫长。综上所述,终端光学元件检测对保障装置负载能力、系统安全运行、提高激光打靶成功率、降低ICF实验的运行成本有着重要意义。
[0003]某工程集束装置启动,建设完成后将会成为世界上规模最大的高能量激光装置。集束装置较某激光主机装置在终端组件部分有了较大的改动。为了提高单束激光能量,单束终端光学组件由8个子束按“口”字型排列组成,且光学元件间距很小,仅有2mm。以上变动导致需要检测的光学元件数量激增为主机装置的8倍,如果依旧采用主机装置对每块光学元件依次成像方式,即使各环节以最快速度运动,完成集束装置终端元件的检测也需要10小时以上,检测耗时过长
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.集束装置终端光学组件成像系统,其特征在于,所述系统包括成像物镜(1)、分光棱镜(2)和图像探测器(3),光学组件由8个子束按口字型排列组成,8个子束分别排布在口字型的4个顶点位置、口字型的上下边上、口字型的左右边上;其中排布在口字型的4个顶点位置的4个子束为第一组子束;排布在口字型的上下边上的2个子束为第二组子束;排布在口字型的左右边上的2个子束为第三组子束;光学组件、成像物镜(1)、分光棱镜(2)和图像探测器(3)依次同轴排列;图像探测器(3)包括6块探测芯片(3
‑
1);4块探测芯片(3
‑
1)与第一组子束内的4个子束位置相对,另外2块探测芯片(3
‑
1)与4块探测芯片(3
‑
1)垂直,且另外2块探测芯片(3
‑
1)相对设置,成像物镜(1)采集光学组件的像,将采集到的像输出至分光棱镜(2),第一组子束的像经过分光棱镜(2)透射到对应的4块探测芯片(3
‑
1)上,同时第二组子束的像或者第三组子束的像经过分光棱镜(2)反射到另外所述2块探测芯片(3
‑
1)上,将成像物镜(1)、分光棱镜(2)和图像探测器(3)一同绕光轴顺时针线旋转90
°
后,第三组子束的像或者第二组子束的像经过分光棱镜(2)反射到所述另外2块探测芯片(3
‑
1)上,图像探测器(3)完成对8个子束图像的全部采集。2.根据权利要求1所述的集束装置终端光学组件成像系统,其特征在于,分光棱镜(2)包括2个三棱柱(2
‑
1)和1个梯形台(2
‑
2);2个三棱柱(2
‑
1)的结构均相同,2个三棱柱(2
‑
1)分别粘贴在梯形台(2
‑
2)的两边,2个三棱柱(2
‑
1)和1个梯形台(2
‑
2)粘贴成长方体结构;在每个三棱柱(2
‑
1)与梯形台(2
‑
2)的粘贴位置各镀一半反射膜和一半透射膜;当两个粘贴位置与第二组子束内的2个子束的位置相对时,第一组子束的像经过分光棱镜(2)上的透射膜透射到对应的4块探测芯片(3
‑
1)上,同时第二组子束中的2个子束的像各经过分光棱镜(2)上的1个反射膜反射到另外2块探测芯片(3
‑
1)上,将成像物镜(1)、分光棱镜(2)和图像探测器(3)一同绕光轴顺时针线旋转90
°
后,两个粘贴位置与第三组子束内的2个子束的位置相对,第三组子中的2个子束的像各经过分光棱镜(2)上的1个反射膜反射到另外2块探测芯片(3
‑
1)上,图像探测器(3)完成对8个子束图像的全部采集;当两个粘贴位置与第三组子束内的2个子束的位置相对时,第一组子束的像经过分光棱镜(2)上的透射膜透射到对应的4块探测芯片(3
‑
1)上,同时第三组子束中的2个子束的像各经过分光棱镜(2)上的1个反射膜反射到另外2块探测芯片(3
‑
1)上,将成像物镜(1)、分光棱镜(2)和图像探测器(3)一同绕光轴顺时针线旋转90
°
后,两个粘贴位置与第二组子束内的2个子束的位置相对,第二组子中的...
【专利技术属性】
技术研发人员:路程,刘国栋,韩越越,刘炳国,陈凤东,甘雨,卢丙辉,
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学,
类型:发明
国别省市:
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