一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置及方法，包括光源、挡刀组件和相机，所述挡刀组件设置在靠近光源处，所述相机对准所述光源通过挡刀组件射出的光路，所述光源和挡刀组件后方设置有待测玻璃，其中，所述挡刀组件包括挡光板和扩散板、所述扩散板紧贴挡光板设置。通过本装置的一种方法，将光源用档光板和扩散板遮挡，在光源照射下发光亮区和挡刀暗区的过渡区形成挡刀区，相机对准挡刀区，检测识别夹杂物变形的光偏折引起光聚集和分散，实现玻璃夹杂物变形质量在线识别管控。识别管控。识别管控。

【技术实现步骤摘要】
一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置及方法


[0001]本专利技术涉及检测平板玻璃缺陷变形领域，具体为一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置及方法。

技术介绍

[0002]平板玻璃生产过程大体可分为原料加工、备制配合科、熔化和澄清、冷却和成型及切裁等。在各生产过程中,由于制造工艺、人为等因素,在玻璃原板的生产过程中可能产生缺陷,根据平板玻璃现行生产标准中的规定,玻璃常见的夹杂物缺陷主要包括气泡、铂金、锆石等夹杂物缺陷，该类缺陷引起玻璃上下表面微小凹陷或凸起变形。
[0003]液晶面板使用2片玻璃基板，表面蒸镀有ITO膜层，夹杂物变形引起膜脱落或破膜，对液晶面板制程良品率造成了严重影响，为此需要在玻璃基板制程中精确检测夹杂物变形，管控夹杂物变形不良缺陷漏检，预防玻璃基板质量风险。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中存在的问题，本专利技术提供一种，本专利技术利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置结构，将光源用档光板和扩散板遮挡，在光源照射下发光亮区和挡刀暗区的过渡区形成挡刀区，相机对准挡刀区，检测识别夹杂物变形的光偏折引起光聚集和分散，实现玻璃夹杂物变形质量在线识别管控。
[0005]本专利技术是通过以下技术方案来实现：一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置，其特征在于，包括光源、挡刀组件和相机，所述挡刀组件设置在靠近光源处，所述相机对准所述光源通过挡刀组件射出的光路，所述光源和挡刀组件后方设置有待测玻璃，其中，所述挡刀组件包括挡光板和扩散板、所述扩散板紧贴挡光板设置。
[0006]进一步的，所述挡刀组件与光源距离30mm
‑
60mm。
[0007]进一步的，所述光源选用白光LED灯珠，大小为3mmx3mm以内，光束角度在80
°‑
150
°
之间。
[0008]进一步的，所述挡光板被固定在光源宽度40％
‑
50％的位置。
[0009]进一步的，所述挡光板中加入有特种燃料。
[0010]进一步的，所述光扩散板的基材选用聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)。
[0011]进一步的，所述相机选用高速高分辨双线相机。
[0012]本专利技术还提供了一种基于上述利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置的方法，S1：通过挡刀组件对光源进行遮挡，通过挡刀组件射出的光被分为亮区、挡刀区和暗区；
[0013]S2：所述相机对准挡刀区设置；
[0014]S3：所述相机对光信号进行识别；
[0015]S4：检测挡刀区的亮光电信号和暗光电信号；
[0016]S5：计算亮光电信号与暗光电信号和与差；
[0017]S6：分析得到检测结果。
[0018]进一步的，步骤S1中，所述挡刀组件中的挡光板通过调整插入深度，对出射光强进行调整。
[0019]进一步的，步骤S2中，所述相机以≤0.020毫米距离逐行和逐像素扫描移动玻璃。
[0020]与现有技术相比，本专利技术具有以下有益的技术效果：本专利技术通过挡光板和扩散板紧贴设置能够保证光源亮区、挡刀区和暗区的区分；通过光扩散板能够有效保证光源亮区、挡刀区、暗区中心均匀。
[0021]进一步的，通过所述光源的选择，能够达到用于集束光，小面积能产生高亮度，光照度≥10kLux的效果；通过挡光板在遮挡光源后，将光源分为≤50％亮区、≤10％挡刀区和≥40％暗区；所述所述特种燃料加入后的能够滤除光量≥90％。
[0022]进一步的，通过本装置的方法，能够有效的保证经信号处理可以检测到夹杂物的变形量；通过插拔挡光板可以调整挡刀大小，也就控制挡刀区面积大小，挡刀区面积越小灵敏度越高、检测夹杂物变形识别精度高。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1为本专利技术实施例提供的一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置的系统示意图。
[0025]图2为本专利技术实施例提供的一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置的光源组件的结构示意图。
[0026]图3为本专利技术实施例提供的一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置的光源结构示意图。
[0027]图4为本专利技术实施例提供的一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置检测结果示意图。
[0028]图5为本专利技术实施例提供的一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置的气泡变形结构示意图。
[0029]图6为本专利技术实施例提供的一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置的光路示意图。
[0030]图中：挡光板1、扩散板2、挡刀组件3、待测玻璃4、相机5、光源罩6、光源10、亮区11、挡刀区12、暗区13、气泡40、固定底板101、灯珠102、光源模块103、气泡夹杂物引起光路201、无缺陷光路202、玻璃内部气泡204、气泡夹杂物引起玻璃表面凹陷变形205、亮光电信号Ⅰ1与暗光电信号Ⅰ2。
具体实施方式
[0031]在下文中，仅简单地描述了某些示例性实施例。正如本领域技术人员可认识到的那样，在不脱离本专利技术的精神或范围的情况下，可通过各种不同方式修改所描述的实施例。
因此，附图和描述被认为本质上是示例性的而非限制性的。
[0032]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0033]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多该特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0034]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接，还可以是通信；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0035]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置，其特征在于，包括光源(10)、挡刀组件(3)和相机(5)，所述挡刀组件(3)设置在靠近光源(10)处，所述相机(5)对准所述光源(10)通过挡刀组件(3)射出的光路，所述光源(10)和挡刀组件后方设置有待测玻璃，其中，所述挡刀组件(3)包括挡光板(1)和扩散板(2)、所述扩散板(2)紧贴挡光板(1)设置。2.根据权利要求1所述的一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置，其特征在于，所述挡刀组件(3)与光源(10)距离30mm
‑
60mm。3.根据权利要求1所述的一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置，其特征在于，所述光源(10)选用白光LED灯珠，大小为3mmx3mm以内，光束角度在80
°‑
150
°
之间。4.根据权利要求1所述的一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置，其特征在于，所述挡光板(1)被固定在光源宽度40％
‑
50％的位置。5.根据权利要求1所述的一种利用挡刀检测平板玻璃夹杂物缺陷变形的装置，其特征在于，所述挡光板(1)中加入...

【专利技术属性】
技术研发人员：焦宗平，延洪剑，陈建国，
申请(专利权)人：彩虹显示器件股份有限公司，
类型：发明
国别省市：