【技术实现步骤摘要】
半导体CVD设备用锅形陶瓷件加工方法及系统
[0001]本专利技术涉及陶瓷加工
,具体地,涉及一种半导体CVD设备用锅形陶瓷件加工方法及系统。
技术介绍
[0002]目前半导体行业CVD设备用的大型锅形陶瓷件均被欧美、日本等工业发达国家垄断和封锁。然而国内目前大型锅形陶瓷件的加工方法、工艺和工装治具均处于空白状态。
[0003]由于金属的洛氏硬度普遍在30
°‑
65
°
范围内,而高纯Al2O3陶瓷的洛氏硬度在85
°‑
95
°
,因此金属加工领域相关的加工工艺不适用于高纯Al2O3陶瓷加工。
[0004]对于纯度达到99.5%
‑
99.9%的Al2O3陶瓷产品,其密度在3.5g/cm3‑
3.97g/cm3,洛氏硬度在85
°‑
95
°
,材料特性脆且易崩裂,加工过程各工序难度极高,为此,专利技术了一种陶瓷件加工方法。
技术实现思路
[0005]针对现有技术中 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体CVD设备用锅形陶瓷件加工方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:将粉料加工成坯料进行一次成型烧结;步骤S2:将烧结好的坯料放进治具中,并通过治具上的螺丝锁紧固定坯料;步骤S3:将坯料连同治具放在平面磨床上,采用砂轮精磨平面;步骤S4:将磨好的坯料放在立磨设备上,校准中心,采用加长刀杆装上砂轮,精磨内腔圆弧至目标尺寸;步骤S5:采用数控车床对坯料内腔进行磨削加工。2.根据权利要求1所述的半导体CVD设备用锅形陶瓷件加工方法,其特征在于:所述步骤S3包括以下子步骤:步骤S3.1:将坯料连同治具放在平面磨床上,找正平面,将治具固定;步骤S3.2:采用φ150砂轮精磨平面,使坯料高度达到工艺要求。3.根据权利要求1所述的半导体CVD设备用锅形陶瓷件加工方法,其特征在于:所述步骤S4包括以下子步骤:步骤S4.1:将磨好的坯料放在立磨设备上,校正中心,保证平面度为0.02,将治具进行固定;步骤S4.2:采用加长刀杆装上φ150砂轮,精磨内腔圆弧至图纸尺寸。4.根据权利要求1所述的半导体CVD设备用锅形陶瓷件加工方法,其特征在于:所述步骤S5包括以下子步骤:步骤S5.1:采用压板压紧治具,内圆分中,保证平面度0.02;步骤S5.2:采用加长刀杆装上φ16.5磨头加工内腔底面,达到工艺要求。5.根据权利要求1所述的半导体CVD设备用锅形陶瓷件加工方法,其特征在于:加工过程采用硬度10的金刚石刀具。6.根据权利要求1所述的半导体CVD设备用锅形陶瓷件加工方法,其特征在于:加工过程中刀具的走刀方式为:孔采用螺旋式走刀加工,槽和...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈刚,王维详,熊明鹏,陶近翁,陶岳雨,
申请(专利权)人:卡贝尼新材料科技上海有限公司,
类型:发明
国别省市:
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