一种高精度缺陷限度判断方法技术

本发明专利技术公开一种高精度缺陷限度判断方法，通过设置处理终端，预配置限度判断组件并构建坐标系并在该坐标系中搭建网格体系并预设缺陷限度参数，随后通过架设线扫相机组构建扫描通道并通过扫描通道对待检测工件表面进行视觉扫描，获取待检测工件表面的立体构型，并在立体构型上标记缺陷位置并架设CT扫描通道，使待检测工件通过CT扫描通道对其进行断层解析，从而获得缺陷位置的具体构型，将立体构型及缺陷位置的具体构型录入限度判断组件并在网格体系中按照实际尺寸及对应位置进行复现并与预设的缺陷限度参数进行比较以完成对缺陷限度的精确判断，本发明专利技术的优点在于可以实现对缺陷的有效扫描识别及高精度的缺陷限度判断。陷的有效扫描识别及高精度的缺陷限度判断。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度缺陷限度判断方法


[0001]本专利技术涉及缺陷视觉检测领域，具体地说，是一种高精度缺陷限度判断方法。

技术介绍

[0002]显示屏制造企业会根据生产需求切换生产的显示屏型号，通常把一类型号相同的显示屏产品称作一个机种。面对频繁切换机种的情况，由于机种之间差异较大，主要体现在屏幕尺寸、屏幕材质、透光度、背光亮度、屏幕分辨率、屏幕类型和品质严格程度上，使得显示屏AOI视觉缺陷检测面临巨大难题。这种差异导致了不同机种之间的品质基准衡量标准无法统一，在实际检测时，制造企业OQA和客户品质工程师需不断对品质进行沟通，才能制定出检测数字基准或缺陷限度样本。
[0003]数字基准是一些缺陷尺寸形状等特征的限定值，有时需要利用特制量具进行测量后，从而判断当产品尺寸大于限定值时为缺陷产品。缺陷基准限度样本是从可疑缺陷中挑选出的缺陷样品，当人眼观察可疑缺陷样本的对比度程度或尺寸大于缺陷基准样本时，判断该屏幕为缺陷。
[0004]然而，利用现有技术的生产过程中，不管是数字基准还是缺陷基准限度样本都需要从生产产品中先挑选出可疑缺陷样本，再进行人工观察和客户讨论后进行判定。面临的主要问题有，新产品生产初期缺陷样本不足造成部分缺陷基准限度样本无法制定，导致产品品质不高；另外，缺陷样本主要来源于生产真实样本，有时无法拿到指定程度合适的缺陷样本，缺陷基准限度样本可能需要经历多次修改制定，导致缺陷检测过程繁琐、检验效率低。
[0005]特别是移动终端的生产企业，由于其常规使用的显示屏尺寸规格较小，因此其在缺陷限度控制上的要求更高，故需要一种能够高精度实现缺陷限度判断的方法。

技术实现思路

[0006]专利技术目的：本专利技术目的在于针对现有技术的不足，提供一种高精度缺陷限度判断方法。
[0007]技术方案：本专利技术所述一种高精度缺陷限度判断方法，包括以下步骤：
[0008]S1、设置处理终端，预配置限度判断组件，限度判断组件包括一个基准平面及一个沿基准平面向上延伸的向量，依据基准平面和向量构建坐标系并在该坐标系中搭建网格体系并预设缺陷限度参数；
[0009]S2、架设线扫相机组构建扫描通道并通过扫描通道对待检测工件表面进行视觉扫描，获取待检测工件表面的立体构型，并在立体构型上标记缺陷位置；
[0010]S3、架设CT扫描通道，使待检测工件通过CT扫描通道对其进行断层解析，从而获得缺陷位置的具体构型；
[0011]S4、将待检测工件的立体构型及缺陷位置的具体构型录入限度判断组件并在网格体系中按照实际尺寸及对应位置进行复现；
[0012]S5、测定复现在网格体系内的待检测工件的立体构型及缺陷位置的体量及边界尺寸，并与预设的缺陷限度参数进行比较以完成对缺陷限度的精确判断。
[0013]作为优选的，S1中，预设的缺陷限度参数包括缺陷边界尺寸参数和缺陷体积参数。
[0014]作为优选的，S5中，复现在网格体系内的待检测工件的立体构型及缺陷位置的体量及边界尺寸分别与缺陷体积参数和缺陷边界尺寸参数进行比较。
[0015]作为优选的，S5中，首先将缺陷位置的边界尺寸与缺陷边界尺寸参数进行比较，若缺陷位置的边界尺寸大于缺陷边界尺寸参数则直接判断缺陷过大，不合格，若缺陷位置的边界尺寸小于缺陷边界尺寸参数，则继续将缺陷位置的体量与缺陷体积参数比较，若缺陷位置的体量大于缺陷体积参数则判定不合格，否则为合格。
[0016]本专利技术相比于现有技术具有以下有益效果：通过CT扫描通道对待检测工件进行断层解析，从而获得缺陷位置的具体构型，同时预设了网格体系并预设缺陷限度参数，便于将缺陷位置的具体构型与预设缺陷限度参数进行量化比较，从而可以实现对缺陷的有效扫描识别及高精度的缺陷限度判断。
具体实施方式
[0017]下面将对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0018]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0019]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，也可以是成一体；可以是机械连接，也可以是电连接，也可以是通讯连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介的间接连接，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0020]下面以具体地实施例对本专利技术的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
[0021]实施例：一种高精度缺陷限度判断方法，包括以下步骤：
[0022]S1、设置处理终端，预配置限度判断组件，限度判断组件包括一个基准平面及一个沿基准平面向上延伸的向量，依据基准平面和向量构建坐标系并在该坐标系中搭建网格体系并预设缺陷限度参数，预设的缺陷限度参数包括缺陷边界尺寸参数和缺陷体积参数；
[0023]S2、架设线扫相机组构建扫描通道并通过扫描通道对待检测工件表面进行视觉扫描，获取待检测工件表面的立体构型，并在立体构型上标记缺陷位置；
[0024]S3、架设CT扫描通道，使待检测工件通过CT扫描通道对其进行断层解析，从而获得缺陷位置的具体构型；
[0025]S4、将待检测工件的立体构型及缺陷位置的具体构型录入限度判断组件并在网格体系中按照实际尺寸及对应位置进行复现；
[0026]S5、测定复现在网格体系内的待检测工件的立体构型及缺陷位置的体量及边界尺寸，并与预设的缺陷限度参数进行比较以完成对缺陷限度的精确判断，首先将缺陷位置的边界尺寸与缺陷边界尺寸参数进行比较，若缺陷位置的边界尺寸大于缺陷边界尺寸参数则直接判断缺陷过大，不合格，若缺陷位置的边界尺寸小于缺陷边界尺寸参数，则继续将缺陷位置的体量与缺陷体积参数比较，若缺陷位置的体量大于缺陷体积参数则判定不合格，否则为合格。
[0027]这一技术方案的优点在于通过CT扫描通道对待检测工件进行断层解析，从而获得缺陷位置的具体构型，同时预设了网格体系并预设缺陷限度参数，便于将缺陷位置的具体构型与预设缺陷限度参数进行量化比较，从而可以实现对缺陷的有效扫描识别及高精度的缺陷限度判断。
[0028]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一特征和第二特征直本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高精度缺陷限度判断方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、设置处理终端，预配置限度判断组件，限度判断组件包括一个基准平面及一个沿基准平面向上延伸的向量，依据基准平面和向量构建坐标系并在该坐标系中搭建网格体系并预设缺陷限度参数；S2、架设线扫相机组构建扫描通道并通过扫描通道对待检测工件表面进行视觉扫描，获取待检测工件表面的立体构型，并在立体构型上标记缺陷位置；S3、架设CT扫描通道，使待检测工件通过CT扫描通道对其进行断层解析，从而获得缺陷位置的具体构型；S4、将待检测工件的立体构型及缺陷位置的具体构型录入限度判断组件并在网格体系中按照实际尺寸及对应位置进行复现；S5、测定复现在网格体系内的待检测工件的立体构型及缺陷位置的体量及边界尺寸，并与预设的缺陷限度参数进行比较以...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱康，
申请(专利权)人：厦门聚视智创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：