【技术实现步骤摘要】
存储器测试方法、设备及系统
[0001]本申请涉及存储器的设计与制造领域，具体而言，涉及一种存储器测试方法、设备及系统。
技术介绍
[0002]存储器的制造工艺复杂、工序繁多，因此，在存储器的制造过程中可能会导致存储器产生诸多缺陷，例如，导致存储器中某些存储位失效。当然，也有部分存储器在使用初期时性能正常，但是，经过一段时间的使用之后，缺陷被激发，同样可能会导致存储器中某些存储位失效的可能性。
技术实现思路
[0003]本申请的目的在于，提供一种存储器测试方法、设备及系统，以解决上述问题。
[0004]本申请实施例提供的存储器测试方法，包括：
[0005]根据上位机发送的测试方式指示信息，生成目标存储区域中每个存储位对应的测试数据，目标存储区域位于被测存储器中；
[0006]针对目标存储区域中的每个存储位，将存储位对应的测试数据写入存储位中；
[0007]从目标存储区域中的每个存储位中读取实际数据；
[0008]对目标存储区域中每个存储位对应的测试数据和实际数据进行对比...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种存储器测试方法，其特征在于，包括：根据上位机发送的测试方式指示信息，生成目标存储区域中每个存储位对应的测试数据，所述目标存储区域位于被测存储器中；针对所述目标存储区域中的每个存储位，将所述存储位对应的测试数据写入所述存储位中；从所述目标存储区域中的每个存储位中读取实际数据；对所述目标存储区域中每个存储位对应的测试数据和实际数据进行对比，获得地址失效测试结果。2.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述根据上位机发送的测试方式指示信息，生成目标存储区域中每个存储位对应的测试数据，包括：根据所述测试方式指示信息获取区域选取策略和数据生成策略；根据所述区域选取策略从所述被测存储器中选取出所述目标存储区域，所述目标存储区域中包括至少一个储存库；根据所述数据生成策略生成所述目标存储区域中每个存储位对应的测试数据。3.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述针对所述目标存储区域中的每个存储位，将所述存储位对应的测试数据写入所述存储位中，包括：获取所述目标存储区域中每个存储位的存储地址和对应的测试数据；针对所述目标存储区域中的每个存储位，对所述存储位的存储地址和对应的测试数据进行重组设置，获得第一重组数据；将所述第一重组数据发送给所述被测存储器，以供所述被测存储器将所述存储位对应的测试数据写入所述存储位中。4.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，所述对所述存储位的存储地址和对应的测试数据进行重组设置，获得第一重组数据，包括：获取存储器测试设备与电子引脚阵列之间的第一连接关系，以及所述电子引脚阵列与所述被测存储器之间的第二连接关系；根据所述第一连接关系和所述第二连接关系，从所述存储器测试设备的引脚集合中分别确定出与所述被测存储器中地址控制引脚数组对应的目标地址控制引脚数组，以及与所述被测存储器中数据输入输出引脚对应的目标数据引脚；根据所述目标地址控制引脚数组和所述目标数据引脚对所述存储位的存储地址和对应的测试数据进行重组设置，获得第一重组数据。5.根据权利要求4所述的存储器测试方法，其特征在于，所述将所述第一重组数据发送给所述被测存储器，以供所述被测存储器将所述存储位对应的测试数据写入所述存储位中，包括：按照所述第一连接关系将所述第一重组数据发送给所述电子引脚阵列，以供所述电子引脚阵列对所述存储位对应的测试数据进行电平转换，并按照所述第二连接关系将所述存储位的存储地址和经过电平转换之后的测试数据发送给所述被测存储器，以供所述被测存储器将所述经过电平转换之后的测试数据写入所述存储位中。6.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述从所述目标存储区域中的每个存储位中读取实际数据，包括：
针对所述目标存储区域中的每个存储位，在通过电子引脚阵列从所述存储位中读取实际数据，并对所述实际数据进行电平比较之后，从所述电子引脚阵列获取经过电平比较之后的实际数据。7.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述对所述目标存储区域中每个存储位对应的测试数据和实际数据进行对比，获得地址失效测试结果，包括：从所述目标存储区域中每读取一条实际数据...
【专利技术属性】
技术研发人员：崔荣熏，钱黄生，刘金海，
申请(专利权)人：合肥悦芯半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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