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本申请涉及存储器的设计与制造领域，具体而言，涉及一种存储器测试方法、设备及系统。本申请实施例提供的存储器测试方法，包括：根据上位机发送的测试方式指示信息，生成目标存储区域中每个存储位对应的测试数据，目标存储区域位于被测存储器中；针对目标存储...
该专利属于合肥悦芯半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥悦芯半导体科技有限公司授权不得商用。

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