一种精密型膜厚测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种精密型膜厚测试装置，包括测试台，在所述测试台的顶部铰接有一能够开启或者闭合的开合盖，在所述开合盖上通过一滑动结构安装有一能够与外部的计算机可拆卸连接的膜厚测试仪；在所述测试台的上端且位于所述膜厚测试仪的正下方开设有一贯穿该测试台的顶部用于放置外部的金属元素样品的放置槽，在所述放置槽上设有至少一个用于夹持固定外部的金属元素样品的固定结构。本实用新型专利技术具有能够对金属元素样品进行稳固的固定、在检测时金属元素样品不易因遭受外界环境因素影响而发生偏移、能够有效提高检测的效率以及精度的优点。精度的优点。精度的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种精密型膜厚测试装置


[0001]本技术涉及金属膜厚测试
，更具体地说，尤其涉及一种精密型膜厚测试装置。

技术介绍

[0002]金属膜厚测试是通过膜候测试装置与计算机相配合来实现对金属膜厚的测试。目前，在对金属的膜厚进行测试的过程中，先通过膜候测试装置产生一次X射线穿透金属元素样品产生低能量的二次荧光，再通过计算机来计算二次荧光的能量以计算金属的膜厚值。
[0003]然而，现有的膜候测试装置在使用的过程中，由于膜候测试装置缺乏对金属元素样品的固定结构，在通过膜候测试装置对金属元素样品进行透光检测时，存在膜候测试装置因遭受外界环境因素影响而导致金属元素样品在膜候测试装置内发生偏移，进而需要使用人员重新对膜候测试装置内的金属元素样品进行调整后再检测，不仅严重影响了检测的效率，而且影响了检测的精度，难以满足实际的应用需求。
[0004]如何解决上述问题，成为亟待解决的技术难题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种能够对金属元素样品进行稳固的固定、在检测时金属元素样品不易因遭受外界环境因素影响而发生偏移、能够有效提高检测的效率以及精度的精密型膜厚测试装置。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种精密型膜厚测试装置，包括测试台，在所述测试台的顶部铰接有一能够开启或者闭合的开合盖，在所述开合盖上通过一滑动结构安装有一能够与外部的计算机可拆卸连接的膜厚测试仪；在所述测试台的上端且位于所述膜厚测试仪的正下方开设有一贯穿该测试台的顶部用于放置外部的金属元素样品的放置槽，在所述放置槽上设有至少一个用于夹持固定外部的金属元素样品的固定结构。
[0007]优选地，所述固定结构包括纵向安装在所述放置槽上的支撑柱，在所述支撑柱上套设有一能够沿着该支撑柱上下滑动的滑动板，在所述滑动板上且远离所述支撑柱的一端底部设有一用于夹持固定外部的金属元素样品的夹持压块，还在所述支撑柱、夹持压块之间设有复位弹簧，其中，所述复位弹簧的一端与所述滑动板连接，所述复位弹簧的另一端与所述放置槽连接。
[0008]优选地，所述滑动结构包括设在所述开合盖的内部且两端均贯穿该开合盖的两端的滑槽，在所述滑槽的两端均设有轴承座，还包括设在两个所述轴承座上的滚珠丝杆且该滚珠丝杆的一端伸出所述开合盖的外部与一安装在该开合盖上驱动电机的输出端连接，在所述滚珠丝杆上套设有滚珠螺母，其中，所述膜厚测试仪是安装在所述滚珠螺母上。
[0009]优选地，所述膜厚测试仪为Defelsko
‑
NAS3膜厚测试仪；所述驱动电机为40AEA01030
‑
SC3驱动电机。
[0010]优选地，还包括设在所述开合盖上带有显示屏的控制面板，其中，所述控制面板通过导电线束与所述膜厚测试仪、驱动电机电连接。
[0011]优选地，在所述开合盖的外表面上设有把手。
[0012]与现有技术相比，本技术具有的有益效果：
[0013]本技术使用时，先打开开合盖，将金属元素样品放置于放置槽上，再向上移动固定结构的滑动板使滑动板连同夹持压块一起上移，此时固定结构的复位弹簧伸展开，再将金属元素样品移动至夹持压块的下方，松开固定结构的滑动板，在复位弹簧的复位力的作用下拉动滑动板连同夹持压块一起下移，利用夹持压块在复位弹簧的复位力的作用下将金属元素样品夹持固定在放置槽上，从而使本技术具备对金属元素样品的稳固固定功能，在金属元素样品检测的过程中，通过固定结构对金属元素样品进行固定，在遭受外界环境因素影响时能够确保金属元素样品不会发生偏移，从而能够有效提高检测的效率和精度，因此，本技术具有能够对金属元素样品进行稳固的固定、在检测时金属元素样品不易因遭受外界环境因素影响而发生偏移、能够有效提高检测的效率以及精度的优点。
附图说明
[0014]图1为本技术所述的一种精密型膜厚测试装置的剖视图；
[0015]图2为本技术所述的一种精密型膜厚测试装置的外部结构示意图。
[0016]附图标记说明：1、测试台，2、开合盖，3、滑动结构，31、滑槽，32、轴承座，33、滚珠丝杆，34、驱动电机，35、滚珠螺母，4、膜厚测试仪，5、放置槽，6、固定结构，61、支撑柱，62、滑动板，63、夹持压块，64、复位弹簧，7、控制面板，8、把手。
具体实施方式
[0017]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0018]请参阅图1至图2所示，本技术提供了一种精密型膜厚测试装置，包括测试台1，在所述测试台1的顶部铰接有一能够开启或者闭合的开合盖2，在所述开合盖2上通过一滑动结构3安装有一能够与外部的计算机可拆卸连接的膜厚测试仪4；在所述测试台1的上端且位于所述膜厚测试仪4的正下方开设有一贯穿该测试台1的顶部用于放置外部的金属元素样品的放置槽5，在所述放置槽5上设有至少一个用于夹持固定外部的金属元素样品的固定结构6。
[0019]所述固定结构6包括纵向安装在所述放置槽5上的支撑柱61，在所述支撑柱61上套设有一能够沿着该支撑柱61上下滑动的滑动板62，在所述滑动板62上且远离所述支撑柱61的一端底部设有一用于夹持固定外部的金属元素样品的夹持压块63，还在所述支撑柱61、夹持压块63之间设有复位弹簧64，其中，所述复位弹簧64的一端与所述滑动板62连接，所述复位弹簧64的另一端与所述放置槽5连接。
[0020]所述滑动结构3包括设在所述开合盖2的内部且两端均贯穿该开合盖2的两端的滑槽31，在所述滑槽31的两端均设有轴承座32，还包括设在两个所述轴承座32上的滚珠丝杆33且该滚珠丝杆33的一端伸出所述开合盖2的外部与一安装在该开合盖2上驱动电机34的输出端连接，在所述滚珠丝杆33上套设有滚珠螺母35，其中，所述膜厚测试仪4是安装在所
述滚珠螺母35上。
[0021]其中，所述膜厚测试仪4为Defelsko
‑
NAS3膜厚测试仪；所述驱动电机34为40AEA01030
‑
SC3驱动电机。
[0022]还包括设在所述开合盖2上带有显示屏的控制面板7，其中，所述控制面板7通过导电线束与所述膜厚测试仪4、驱动电机34电连接。
[0023]在所述开合盖2的外表面上设有把手8。
[0024]本实施例具体使用时：首先，抓住把手8掀起开合盖2，此时，露出位于测试台1的上端的放置槽5，再将膜厚测试仪4与外部的计算机连接；其次，将金属元素样品放置于放置槽5上，再向上移动固定结构6的滑动板62，使滑动板62连同夹持压块63一起相对支撑柱61上移，此时复位弹簧64被拉动伸展开；然后，将金属元素样品移动至夹持压块63的下方，再松开滑动板62，在复位弹簧64的复位力的作用下拉动滑动板62连同夹持压块63一起相对支撑柱61下移，利用夹持压块63在复位弹簧64的复位力的作用下将金属元素样品夹持固定在放置槽5上，再盖合开本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种精密型膜厚测试装置，包括测试台(1)，在所述测试台(1)的顶部铰接有一能够开启或者闭合的开合盖(2)，在所述开合盖(2)上通过一滑动结构(3)安装有一能够与外部的计算机可拆卸连接的膜厚测试仪(4)；其特征在于：在所述测试台(1)的上端且位于所述膜厚测试仪(4)的正下方开设有一贯穿该测试台(1)的顶部用于放置外部的金属元素样品的放置槽(5)，在所述放置槽(5)上设有至少一个用于夹持固定外部的金属元素样品的固定结构(6)。2.根据权利要求1所述的一种精密型膜厚测试装置，其特征在于：每一所述固定结构(6)均包括纵向安装在所述放置槽(5)上的支撑柱(61)，在所述支撑柱(61)上套设有一能够沿着该支撑柱(61)上下滑动的滑动板(62)，在所述滑动板(62)上且远离所述支撑柱(61)的一端底部设有一用于夹持固定外部的金属元素样品的夹持压块(63)，还在所述支撑柱(61)、夹持压块(63)之间设有复位弹簧(64)，其中，所述复位弹簧(64)的一端与所述滑动板(62)连接，所述复位弹簧(64)的另一端与所述放置槽(5)连接。3.根据权利要求1所述的一种精密型膜厚测试装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏瑞年，
申请(专利权)人：广州柏菲特电子通信科技有限公司，
类型：新型
国别省市：