本发明专利技术提供抖动校正装置，在确保装置的小型化的同时能够高精度地对摄像元件的相对位置进行检测。通过将Ｘ轴振子（３２０ｘ）和Ｙ轴振子（３２０ｙ）配置在靠近各自的长度方向轴（Ｌｘ、Ｌｙ）交叉的假想的交叉点（Ｐ）且相互不交叉的位置上，将检测ＣＣＤ（３１）的相对位置的位置检测构件配置在由Ｘ轴振子（３２０ｘ）和Ｙ轴振子（３２０ｙ）的各一端部包围且包含假想的交叉点（Ｐ）的区域（Ｅ）内，从而能够通过利用由Ｘ轴振子（３２０ｘ）和Ｙ轴振子（３２０ｙ）的配置产生的死空间来确保装置的小型化，并且，通过将位置检测构件配置在接近ＣＣＤ（３１）的位置，从而能够降低重叠的误差量，高精度地对ＣＣＤ（３１）的相对位置进行检测。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及在数字照相机等摄像装置中用于对手抖进行校正的抖动 校正装置。
技术介绍
以往，在摄像装置中，具有下述的抖动校正装置为了对手抖进行校正，利用致动器(actuator)使CCD等摄像元件在与摄影光轴正交的平 面内向水平方向和垂直方向分别独立地移位移动，由此对在摄像元件的 摄像面上成像的被摄体光束的位置进行校正(例如，参照专利文献1)。 在该情况下，为了对致动器的驱动量进行控制，需要具有对移位移动的 摄像元件的相对位置进行检测的位置检测传感器。此处，在专利文献1 中，位置检测传感器配置在使摄像元件单元动作的致动器的外侧。专利文献1日本特开2006—81348号公报但是，在专利文献1所述的装置中，将位置检测传感器配置为比配 置有致动器的位置更靠外侧，因此，抖动校正装置大型化。并且，由于 位置检测传感器从摄像元件离开，所以，误差量容易重叠从而摄像元件 的位置检测精度降低。
技术实现思路
本专利技术就是鉴于上述情况而完成的，其目的在于，提供一种能够确 保装置的小型化、同时能够高精度地对摄像元件的相对位置进行检测的 抖动校正装置。为了解决上述课题，达成目的，本专利技术所涉及的抖动校正装置通过 使矩形的摄像元件向该摄像元件的第一边方向和/或与该第一边垂直的第 二边方向移动，从而对在所述摄像元件面上成像的被摄体光束的位置进行校正，所述抖动校正装置具有固定部件，其具有第一致动器，所述 第一致动器具有整体呈细长形状的压电元件，且在所述摄像元件的所述 第一边附近与该第一边方向平行地进行配置；第一移动部件，其具有第 二致动器，所述第二致动器具有整体呈细长形状的压电元件，且在所述 摄像元件的所述第二边附近与该第二边方向平行地进行配置，所述第一 移动部件由所述第一致动器驱动，由此在所述固定部件上向与所述摄像 元件的所述第一边方向平行的方向被驱动；第二移动部件，其配置有所 述摄像元件，由所述第二致动器驱动，由此在所述第一移动部件上向与 所述摄像元件的所述第二边方向平行的方向被驱动；以及位置检测构件， 所述位置检测构件对通过所述第一致动器和/或所述第二致动器而移动的 所述摄像元件的相对位置进行检测，所述第一致动器配置在下述位置 靠近该第一致动器的长度方向轴和所述第二致动器的长度方向轴交叉的 假想的交叉点且不与所述第二致动器交叉的位置，所述第二致动器配置 在靠近所述假想的交叉点且不与所述第一致动器交叉的位置上，所述位 置检测构件配置在由所述第一和第二致动器的各一端部包围且包含所述 假想的交叉点的区域内。并且，本专利技术所涉及的抖动校正装置形成为，在上述专利技术中，所述 位置检测构件具有臂部，其从所述第二移动部件向所述区域延伸；磁 铁，其设在该臂部的前端部；以及检测部，其配置在所述固定部件上， 并具有多个霍尔元件，所述多个霍尔元件用于在所述区域内对所述磁铁 的磁力的变化进行检测。并且，本专利技术所涉及的抖动校正装置形成为，在上述专利技术中，所述 检测部在与所述摄像元件的所述第一和第二边方向对应的假想的X轴和 Y轴上分别具有至少各一个所述霍尔元件，所述磁铁在光轴方向的两端 部上具有磁极，在所述第一和第二移动部件位于移动量为0的标准位置 时，其磁力线中心与所述假想的X轴和Y轴的中心大致一致。并且，本专利技术所涉及的抖动校正装置形成为，在上述专利技术中，所述 磁铁在与所述检测部对置的磁极端面上具有闭环形状的等磁力线分布。并且，本专利技术所涉及的抖动校正装置形成为，在上述专利技术中，所述霍尔元件沿着所述假想的X轴或者Y轴配置有多个。并且，本专利技术所涉及的抖动校正装置形成为，在上述专利技术中，所述 霍尔元件以与磁检测面上的比磁通密度分布的最大部分靠内侧的倾斜分 布部分对应的方式，配置在相对于磁检测面上的磁铁中心对称的位置上。并且，本专利技术所涉及的抖动校正装置形成为，在上述专利技术中，所述位置检测构件具有X轴传感器，其配置在所述固定部件上；X轴标尺， 其配置在所述第一移动部件上并利用所述X轴传感器检测移动量；Y轴 传感器，其配置在所述第一移动部件上；以及Y轴标尺，其配置在所述 第二移动部件上并利用所述Y轴传感器检测移动量，在包含所述第一致 动器的长度方向轴和所述第二致动器的长度方向轴交叉的假想的交叉点 在内的区域中，在与光轴平行的Z轴方向上，从所述固定部件依次配置 有所述X轴传感器、X轴标尺、Y轴传感器、Y轴标尺。并且，本专利技术所涉及的抖动校正装置形成为，在上述专利技术中，所述 X轴传感器和所述Y轴传感器由反射型光传感器构成，所述X轴标尺和 所述Y轴标尺由以预定间距等间隔地形成的明暗图形构成。并且，本专利技术所涉及的抖动校正装置形成为，在上述专利技术中，所述 X轴标尺具有覆盖相对于所述X轴传感器的移动范围的大小，所述Y轴 标尺具有覆盖相对于所述Y轴传感器和所述X轴传感器的移动范围的大 小。对于本专利技术所涉及的抖动校正装置，第一和第二致动器配置在靠近 各自的长度方向轴交叉的假想的交叉点且相互不交叉的位置上，检测摄 像元件的相对位置的位置检测构件配置在由第一和第二致动器的各一端 部包围且包含假想的交叉点的区域内，因此，能够利用由第一和第二致 动器的配置产生的死空间来配置位置检测构件，能够确保装置的小型化。 并且，能够将位置检测构件配置在接近摄像元件的位置上，能够降低重 叠的误差量从而高精度地对摄像元件的相对位置进行检测。进而，能够 将位置检测构件配置在尽量接近对摄像元件的位置进行控制的第一和第 二致动器的位置上，能够直接对成为致动器的移动对象的摄像元件的动 作进行检测，能够对致动器适当地进行反馈控制。并且，由于X轴传感器、X轴标尺、Y轴传感器、以及Y轴标尺重叠配置，所以能够使位置 检测构件小型化。由此，即使是在第一和第二致动器的各延长线上的死 空间中也能够配置位置检测构件。附图说明图1是概略地示出搭载有本专利技术的抖动校正装置的电子照相机的主 要电气系统结构的框图。图2是示出振子的动作原理的示意图。图3是示出本专利技术的实施方式的抖动校正装置的结构的分解立体图。图4是概略地示出抖动校正装置的主要部分的结构的俯视图。 图5是沿图4中的E—E，线的剖面图。 图6是沿图4中的A—A，线的剖面图。图7是将沿图4中的D—D'线的剖面图包含在一部分的沿C一C， 线的剖面图。图8是沿图7中的B—B'线的剖面图。图9是将从CCD的背面侧观察的配置关系简化表示的示意图。 图10是将磁铁和检测部的结构例放大进行表示的概略立体图。 图11是以主视图的方式示出磁铁的磁力线分布和霍尔元件的配置关 系的说明图。图12是以俯视图的方式示出磁铁的磁力线分布和霍尔元件的配置 关系的说明图。图13是在与图7对应的CC'剖面上的变形例的抖动校正装置的主 要部分的剖面图。图14是以主视图的方式示出Y轴传感器和Y轴标尺的配置关系的 说明图。图15是以主视图的方式示出X轴传感器和X轴标尺的配置关系的 说明图。符号说明31: CCD; 31a:第一边；31b:第二边；35:保持器；301: X框； 302:框架；300:抖动校正装置；320x: X轴振子；320y: Y轴振子； 323x、 323y:压电元件；360:位置检测装置；361:臂部；362:磁铁； 363:检测部;364x、 364y、 365x、 365y:霍尔元件;370:位置本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种抖动校正装置，所述抖动校正装置通过使矩形的摄像元件向该摄像元件的第一边方向和／或与该第一边垂直的第二边方向移动，从而对在所述摄像元件面上成像的被摄体光束的位置进行校正，其特征在于，所述抖动校正装置具有： 固定部件，其具有第一致动器，所述第一致动器具有整体呈细长形状的压电元件，且在所述摄像元件的所述第一边附近与该第一边方向平行地进行配置； 第一移动部件，其具有第二致动器，所述第二致动器具有整体呈细长形状的压电元件，且在所述摄像元件的所述第二边附近与该第二边方向平行地进行配置，所述第一移动部件由所述第一致动器驱动，由此在所述固定部件上向与所述摄像元件的所述第一边方向平行的方向被驱动； 第二移动部件，其配置有所述摄像元件，由所述第二致动器驱动，由此在所述第一移动部件上向与所述摄像元件的所述第二边方向平行的方向被驱动；以及 位置检测构件，所述位置检测构件对通过所述第一致动器和／或所述第二致动器而移动的所述摄像元件的相对位置进行检测， 所述第一致动器配置在下述位置：靠近该第一致动器的长度方向轴和所述第二致动器的长度方向轴交叉的假想的交叉点且不与所述第二致动器交叉的位置， 所述第二致动器配置在靠近所述假想的交叉点且不与所述第一致动器交叉的位置上， 所述位置检测构件配置在由所述第一和第二致动器的各一端部包围且包含所述假想的交叉点的区域内。...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：川合澄夫，
申请(专利权)人：奥林巴斯映像株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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