【技术实现步骤摘要】
一种抑制高频GaN功率器件dv/dt串扰的多电平驱动电路
[0001]本专利技术属于电力电子器件的驱动
,具体涉及一种抑制高频GaN功率器件dv/dt串扰的多电平驱动电路。
技术介绍
[0002]高频GaN功率器件相比第一代半导体Si功率器件具有更小的寄生电容,这使得其开关损耗进一步降低,且开关频率可达到MHz以上的级别,可有效降低磁性元件的体积,提高系统的变换效率和功率密度,因此被广泛应用于消费快充、汽车电子等功率变换领域。
[0003]由于开关速度快,GaN功率器件漏源极之间的快速电压变化(dv/dt)常伴随在其直流高压电路应用中,这种dv/dt现象会在GaN功率器件的栅极产生正向或负向串扰尖峰脉冲。此外,由于GaN材料具有较高的电子迁移率,所以GaN功率器件常应用在MHz以上级别的高频开关场合。目前商用GaN功率器件的最小阈值电压约为0.8~1.1V,最小栅极安全负压仅为
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10V,开关频率可达10MHz以上。因此在高开关频率工况下,dv/dt正负串扰使高频Ga ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种抑制高频GaN功率器件dv/dt串扰的多电平驱动电路,所述驱动电路包括:驱动信号选通电路、负压产生电路和比较器控制电路,所述驱动信号选通电路用于选通正负方波,以驱动GaN功率器件,所述负压产生电路用于产生负电压,以防止GaN功率器件关断期间的误导通,所述比较器控制电路用于实现中间电平钳位,以防止GaN功率器件开通瞬间的反向击穿。2.根据权利要求1,所述抑制高频GaN功率器件dv/dt串扰的多电平驱动电路,其特征在于,所述驱动信号选通电路,包括:PMOS管M1和NMOS管M2,其中所述PMOS管M1的源极与半桥驱动IC的输出端相连,用于选通半桥驱动IC产生的正方波;所述NMOS管M2的源极与负压产生电路的输出端相连,用于选通负压产生电路产生的负方波,所述PMOS管M1的栅极与NMOS管M2的栅极共同接地,用于为正负脉冲的选通做参考。3.根据权利要求1,所述抑制高频GaN功率器件dv/dt串扰的多电平驱动电路,其特征在于,所述负压产生电路,包括:电容C1和肖特基二极管D1,其中所述电容C1的一端与半桥驱动...
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