测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种测试装置，测试装置包括：底座，具有放置部，放置部用于放置被测试件；检测组件，具有测试部，测试部对应放置部设置，测试部用于检测被测试件；传动组件，传动组件包括滑块、推杆以及第一弹性件，滑块可移动地设置在底座上，滑块具有避让孔，推杆具有连接端和驱动端，推杆的连接端可移动地设置在避让孔内，推杆的驱动端对应放置部设置，推杆用于推动被测试件移动至测试位置，第一弹性件设置在避让孔内；驱动件，与滑块驱动连接，驱动件通过滑块驱动推杆移动。通过本申请提供的技术方案，能够解决现有技术中的测试装置无法满足芯片的测试要求的问题。芯片的测试要求的问题。芯片的测试要求的问题。

【技术实现步骤摘要】
测试装置


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体而言，涉及一种测试装置。

技术介绍

[0002]在现有技术中，为了保证芯片的工作性能，需要将芯片漏极的翅片根部与PCB的输出端靠近以用于进行性能测试。但在现有方案中，性能测试是通过手动侧推芯片来与PCB的输出端靠近来实现的，如此无法保证芯片测试位置的准确性，同时也增加了测试时长和人工成本，从而导致现有的测试装置无法满足芯片的测试要求。

技术实现思路

[0003]本技术提供一种测试装置，以解决现有技术中的测试装置无法满足芯片的测试要求的问题。
[0004]本技术提供了一种测试装置，测试装置包括：底座，具有放置部，放置部用于放置被测试件；检测组件，具有测试部，测试部对应放置部设置，测试部用于检测被测试件；传动组件，传动组件包括滑块、推杆以及第一弹性件，滑块可移动地设置在底座上，滑块具有避让孔，推杆具有连接端和驱动端，推杆的连接端可移动地设置在避让孔内，推杆的驱动端对应放置部设置，推杆用于推动被测试件移动至测试位置，第一弹性件设置在避让孔内，第一弹性件的一端与避让孔的内壁抵接，第一弹性件的另一端与推杆抵接；驱动件，与滑块驱动连接，驱动件通过滑块驱动推杆移动。
[0005]进一步地，底座的上表面具有凹槽，凹槽形成放置部，凹槽的侧壁具有通孔，推杆的驱动端对应通孔设置，推杆的驱动端能够从通孔穿出并驱动被测试件移动。
[0006]进一步地，底座具有容纳腔，滑块可移动地设置在容纳腔内。
[0007]进一步地，容纳腔在滑块移动方向的尺寸大于滑块的行程。
[0008]进一步地，测试装置还包括：导向组件，设置在滑块和底座之间，导向组件用于对滑块导向。
[0009]进一步地，导向组件包括：导向件，固定在底座上，导向件的延伸方向与滑块的移动方向相同，滑块可移动地穿设在导向件上；第二弹性件，第二弹性件与滑块驱动连接，第二弹性件用于驱动滑块复位。
[0010]进一步地，传动组件还包括紧固件，紧固件设置在避让孔的远离放置部的一侧，第一弹性件的一端与紧固件抵接，第一弹性件的另一端与推杆抵接。
[0011]进一步地，滑块上并排设置有多个避让孔，传动组件包括多个推杆和多个第一弹性件，推杆与避让孔一一对应设置，每个避让孔内均设置有一个第一弹性件。
[0012]进一步地，驱动件包括气缸和驱动杆，驱动杆的一端与气缸连接，驱动杆的另一端与滑块驱动连接。
[0013]应用本技术的技术方案，在测试过程中，将被测试件放置在放置部上，通过驱动件与滑块、推杆配合可以将被测试件自动推动至测试位置，同时由于在滑块上的避让孔
内设置有第一弹性件，将第一弹性件的一端与避让孔的内壁抵接，将第一弹性件的另一端与推杆抵接，如此使得推杆能够与被测试件弹性抵接，避免由于推杆侧推力过大而挤压被测试件，导致被测试件被损坏的情况发生，使传动组件能够适用于不同误差尺寸的被测试件，保证了不同误差的被测试件都能移动到测试位置，并且通过上述结构可实现自动推送，准确度较高，从而能够提高了装置的测试效率。
附图说明
[0014]构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
[0015]图1示出了本技术提供的测试装置的结构示意图；
[0016]图2示出了本技术提供的测试装置的俯视图；
[0017]图3示出了图2中A处的局部放大图；
[0018]图4示出了本技术提供的传动组件的结构示意图；
[0019]图5示出了本技术提供的传动组件的剖视图。
[0020]其中，上述附图包括以下附图标记：
[0021]10、底座；11、凹槽；12、容纳腔；
[0022]20、检测组件；
[0023]30、传动组件；31、滑块；32、推杆；33、第一弹性件；34、紧固件；
[0024]40、驱动件；41、气缸；42、驱动杆；
[0025]50、导向组件；51、导向件；52、第二弹性件。
具体实施方式
[0026]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本技术及其应用或使用的任何限制。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]如图1至图3所示，本技术实施例提供一种测试装置，该测试装置包括：底座10、检测组件20、传动组件30和驱动件40。其中，底座10具有放置部，放置部用于放置被测试件。检测组件20具有测试部，测试部对应放置部设置，测试部用于检测被测试件，传动组件30包括滑块31、推杆32以及第一弹性件33，滑块31可移动地设置在底座10上，滑块31具有避让孔，推杆32具有连接端和驱动端，推杆32的连接端可移动地设置在避让孔内，推杆32的驱动端对应放置部设置，推杆32用于推动被测试件移动至测试位置。第一弹性件33设置在避让孔内，第一弹性件33的一端与避让孔的内壁抵接，第一弹性件33的另一端与推杆32抵接，驱动件40与滑块31驱动连接，驱动件40通过滑块31驱动推杆32移动。具体地，在本实施例中，被测试件为芯片，推杆32能够推动芯片与测试部贴合连接，以通过测试部对芯片进行测试。
[0028]其中，在本申请的实施例中，当芯片尺寸存在误差且偏大时，推杆32的侧推行程会
偏小，如此不会对芯片造成挤压以使芯片损坏；当芯片尺寸存在误差且偏小时，推杆32的侧推行程会偏大，如此能够保证芯片被推至测试部。
[0029]通过设置上述结构，在测试过程中，将被测试件放置在放置部上，通过驱动件40与滑块31、推杆32配合可以将被测试件自动推动至测试位置，同时由于在滑块31上的避让孔内设置有第一弹性件33，将第一弹性件33的一端与避让孔的内壁抵接，将第一弹性件33的另一端与推杆32抵接，如此使得推杆32能够与被测试件弹性抵接，避免由于推杆32侧推力过大而挤压被测试件，导致被测试件被损坏的情况发生，使传动组件30能够适用于不同误差尺寸的被测试件，保证了不同误差的被测试件都能移动到测试位置，并且通过上述结构可实现自动推送，准确度较高，从而能够提高了装置的测试效率。
[0030]进一步地，底座10的上表面具有凹槽11，凹槽11形成放置部，凹槽11的侧壁具有通孔，推杆32的驱动端对应通孔设置，推杆32的驱动端能够从通孔穿出并驱动被测试件移动。测试时，将被测试件放置在凹槽11中，推杆32通过通孔推动被测试件移动到测试位置，如此能够限制测试过程中被测试件的移动范围，保证了测试过程的准确性。并且，采用嵌入式结构可以使装置整体结构紧凑，缩小装置整体占用空间。
[本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：底座(10)，具有放置部，所述放置部用于放置被测试件；检测组件(20)，具有测试部，所述测试部对应所述放置部设置，所述测试部用于检测所述被测试件；传动组件(30)，所述传动组件(30)包括滑块(31)、推杆(32)以及第一弹性件(33)，所述滑块(31)可移动地设置在所述底座(10)上，所述滑块(31)具有避让孔，所述推杆(32)具有连接端和驱动端，所述推杆(32)的连接端可移动地设置在所述避让孔内，所述推杆(32)的驱动端对应所述放置部设置，所述推杆(32)用于推动所述被测试件移动至测试位置，所述第一弹性件(33)设置在所述避让孔内，所述第一弹性件(33)的一端与所述避让孔的内壁抵接，所述第一弹性件(33)的另一端与所述推杆(32)抵接；驱动件(40)，与所述滑块(31)驱动连接，所述驱动件(40)通过所述滑块(31)驱动所述推杆(32)移动。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述底座(10)的上表面具有凹槽(11)，所述凹槽(11)形成所述放置部，所述凹槽(11)的侧壁具有通孔，所述推杆(32)的驱动端对应所述通孔设置，所述推杆(32)的驱动端能够从所述通孔穿出并驱动所述被测试件移动。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述底座(10)具有容纳腔(12)，所述滑块(31)可移动地设置在所述容纳腔(12)内。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述容纳腔(12)在所述滑块(31)移动方向...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴俊洁，
申请(专利权)人：苏州华太电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：