一种芯片测试检测设备制造技术

本实用新型专利技术属于芯片领域，具体的说是一种芯片测试检测设备，包括外壳，所述外壳的内部固定安装有检测机构，所述检测机构包括支撑板，所述支撑板的内部固定安装有滑轨；通过操作机构、电动升降套杆、外框、驱动电机、转轴、旋转台和放置盒的配合安装，实现了便于对芯片升降和旋转的功能，在使用过程中，可通过向上拉动电动升降套杆带动外框进行升降，使得外框上方的芯片进行升降，使得该芯片能够贴合检测扫描头，能够更好的对芯片进行扫描，然后在检测时，可通过驱动电机带动转轴产生的电流，对旋转台进行旋转，使得放置在旋转台上的芯片进行旋转，从而达到调整角度的目的，而该检测扫描头能够扫描到芯片的边角，提高了检测设备的使用效率。用效率。用效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试检测设备


[0001]本技术涉及芯片领域，具体是一种芯片测试检测设备。

技术介绍

[0002]晶片/芯片在电子学中是一种将电路主要包括半导体设备，也包括被动组件等小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，检测设备有很多种类，工厂常用的检测设备有很多，包括测量设备卡尺、天平、打点机等，另外还有质量检测分析仪器，材质检测、包装检测设备等也是常见的检测设备。在包装环节中比较常见的有包装材料检测仪、金属检测设备、非金属检测设备以及无损检测设备等，该检测设备可以对芯片进行测试，从而可以检测出该芯片合不合格。
[0003]但是目前的检测设备存在不便于对芯片进行调节角度检测的问题，在使用过程中，无法对该芯片进行旋转，使得该芯片边角容易检测不到，因此导致不合格的芯片流落到市场进行使用，因此需要进行改进。
[0004]因此，针对上述问题提出一种芯片测试检测设备。

技术实现思路

[0005]为了弥补现有技术的不足，解决便于对芯片进行调节角度检测的问题，本技术提出一种芯片测试检测设备。
[0006]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：本技术所述的一种芯片测试检测设备，包括外壳，所述外壳的内部固定安装有检测机构，所述检测机构包括支撑板，所述支撑板的内部固定安装有滑轨，所述滑轨的内部活动连接有滑块，所述滑轨的活动连接有连接板，所述连接板的底部固定安装有连接杆，所述连接杆的底端固定安装有支撑块，所述支撑块的底部固定安装有检测扫描头，所述检测扫描头的两侧均固定安装有螺杆。
[0007]所述外壳的内部固定安装有操作机构，所述操作机构包括电动升降套杆，所述电动升降套杆的顶端固定安装有外框，所述外框的内部固定安装有驱动电机，所述驱动电机的输出轴通过联轴器固定连接有转轴，所述转轴的顶端固定安装有旋转台，所述旋转台的顶部固定安装有放置盒。
[0008]优选的，所述外壳的底部固定安装有底座，且底座以外壳的垂直中线对称轴对称设置。
[0009]优选的，所述外壳的正面固定安装有检修门，且检修门的外壁固定安装有合页，且检修门的正面固定安装有把手。
[0010]优选的，所述连接板通过滑轨与支撑板活动连接，且支撑板与滑轨为水平分布。
[0011]优选的，所述连接板通过连接杆与检测扫描头固定连接，且连接杆与检测扫描头为垂直分布。
[0012]优选的，所述外壳通过电动升降套杆与旋转台升降连接，且电动升降套杆与旋转台为垂直分布。
[0013]优选的，所述驱动电机通过转轴与旋转台活动连接，且转轴为圆柱形结构。
[0014]优选的，所述旋转台与放置盒为固定连接，且放置盒为方形结构。
[0015]本技术的有益之处在于：
[0016]1.本技术通过操作机构、电动升降套杆、外框、驱动电机、转轴、旋转台和放置盒的配合安装，实现了便于对芯片升降和旋转的功能，在使用过程中，可通过向上拉动电动升降套杆带动外框进行升降，使得外框上方的芯片进行升降，使得该芯片能够贴合检测扫描头，能够更好的对芯片进行扫描，然后在检测时，可通过驱动电机带动转轴产生的电流，对旋转台进行旋转，使得放置在旋转台上的芯片进行旋转，从而达到调整角度的目的，而该检测扫描头能够扫描到芯片的边角，解决了一般检测设备不便于升降和角度不好调整的问题，提高了检测设备的使用效率；
[0017]2.本技术通过检测机构、支撑板、滑轨、滑块、连接板、连接杆、支撑块、检测扫描头和螺杆的配合安装，实现了便于对芯片进行检测的功能，在使用过程中，可通过向左拉动连接板带动滑轨内部的滑块对检测扫描头进行前后移动的作用，从而达到了对芯片的任何角落进行检测的目的，解决了一般检测设备检测扫描头不易活动的问题，提高了检测设备的适应性。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0019]图1为实施例的正剖图；
[0020]图2为实施例的正视图；
[0021]图3为实施例的检测扫描头结构示意图；
[0022]图4为实施例的操作机构结构示意图；
[0023]图5为实施例的图1中A处结构放大图。
[0024]图中：1、外壳；2、检测机构；201、支撑板；202、滑轨；203、滑块； 204、连接板；205、连接杆；206、支撑块；207、检测扫描头；208、螺杆； 3、操作机构；301、电动升降套杆；302、外框；303、驱动电机；304、转轴；305、旋转台；306、放置盒；4、底座；5、检修门；6、合页；7、把手。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]请参阅图1
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5所示，一种芯片测试检测设备，包括外壳1，外壳1的内部固定安装有检测机构2，检测机构2包括支撑板201，支撑板201的内部固定安装有滑轨202，滑轨202的内部活动连接有滑块203，滑轨202的活动连接有连接板204，连接板204的底部固定安装有连接杆205，连接杆205的底端固定安装有支撑块206，支撑块206的底部固定安装有检测扫描
头207，检测扫描头207的两侧均固定安装有螺杆208，通过检测机构2、支撑板201、滑轨202、滑块203、连接板204、连接杆205、支撑块206、检测扫描头207和螺杆208的配合安装，实现了便于对芯片进行检测的功能，在使用过程中，可通过向左拉动连接板204带动滑轨202内部的滑块203对检测扫描头207 进行前后移动的作用，从而达到了对芯片的任何角落进行检测的目的，解决了一般检测设备检测扫描头207不易活动的问题，提高了检测设备的适应性。
[0027]外壳1的内部固定安装有操作机构3，操作机构3包括电动升降套杆301，电动升降套杆301的顶端固定安装有外框302，外框302的内部固定安装有驱动电机303，驱动电机303的输出轴通过联轴器固定连接有转轴304，转轴304 的顶端固定安装有旋转台305，旋转台305的顶部固定安装有放置盒306，通过操作机构3、电动升降套杆301、外框302、驱动电机303、转轴304、旋转台305和放置盒306的配合安装，实现了便于对芯片升降和旋转的功能，在使用过程中，可通过向上拉动电动升降套杆301带动外框302进行升降，使得外框302上方的芯片进行升降，而该芯片能够贴合检测扫描头207，能够更好的对芯片进行扫描，然后，在检测时，可通过驱动电机30本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试检测设备，其特征在于：包括外壳(1)，所述外壳(1)的内部固定安装有检测机构(2)，所述检测机构(2)包括支撑板(201)，所述支撑板(201)的内部固定安装有滑轨(202)，所述滑轨(202)的内部活动连接有滑块(203)，所述滑轨(202)的活动连接有连接板(204)，所述连接板(204)的底部固定安装有连接杆(205)，所述连接杆(205)的底端固定安装有支撑块(206)，所述支撑块(206)的底部固定安装有检测扫描头(207)，所述检测扫描头(207)的两侧均固定安装有螺杆(208)；所述外壳(1)的内部固定安装有操作机构(3)，所述操作机构(3)包括电动升降套杆(301)，所述电动升降套杆(301)的顶端固定安装有外框(302)，所述外框(302)的内部固定安装有驱动电机(303)，所述驱动电机(303)的输出轴通过联轴器固定连接有转轴(304)，所述转轴(304)的顶端固定安装有旋转台(305)，所述旋转台(305)的顶部固定安装有放置盒(306)。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试检测设备，其特征在于：所述外壳(1)的底部固定安装有底座(4)，且底座(4)以外壳(1)的垂直中线对称轴对...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘洁静，
申请(专利权)人：上海滨赛光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：