一种测试对接装置制造方法及图纸

技术编号:33778314 阅读:18 留言:0更新日期:2022-06-12 14:32
本实用新型专利技术属于电容器生产制造技术领域,具体涉及一种测试对接装置,包括运送组件、容置组件和收集组件,容置组件和收集组件相邻设置,容置组件和收集组件均与运送组件对应设置,运送组件用于在容置组件与收集组件之间运送物料,容置组件用于对来自运送组件的物料进行测试,收集组件用于对测试后的不良物料进行分类收集。运送组件将待测试的物料运送至容置组件中,接着容置组件对物料进行测试,然后运送组件将测试合格的物料直接运送到下一加工工位,将测试不良的物料运送至收集组件中,收集组件对测试后的不良物料进行分类收集,实现了自动化地上下料测试,节约了人工成本,提高了生产效率。了生产效率。了生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种测试对接装置


[0001]本技术属于电容器生产制造
,具体涉及一种测试对接装置。

技术介绍

[0002]目前牛角型铝电解电容器经老化机老化后再做性能测试时,需人工从收料装置取出,进而重新上料至测试机完成测试等一系列操作,在此过程中,易出现人为出错和重复工序等问题。
[0003]综上可知,相关技术亟待完善。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于:提供一种测试对接装置,旨在解决如何自动上下料进行老化测试的问题。
[0005]为实现上述目的,本技术提供了一种测试对接装置,包括运送组件、容置组件和收集组件,所述容置组件和所述收集组件相邻设置,所述容置组件和所述收集组件均与所述运送组件对应设置,所述运送组件用于在所述容置组件与所述收集组件之间运送物料,所述容置组件用于对来自所述运送组件的物料进行测试,所述收集组件用于对测试后的不良物料进行分类收集。
[0006]在一个实施例中,所述运送组件包括至少一个直线模组和至少一个取放机构,各个所述取放机构分别与各个所述直线模组的输出端一一对应连接。
[0007]在一个实施例中,所述运送组件包括第一直线模组、第一取放机构和第二取放机构,所述第一取放机构和所述第二取放机构分别与所述第一直线模组的两个输出端一一对应连接。
[0008]在一个实施例中,所述容置组件包括测试机构和暂存机构,所述暂存机构与所述测试机构相邻设置,所述测试机构用于对来自所述第一取放机构的物料进行测试,所述第二取放机构用于运送测试后物料,所述暂存机构用于存放测试合格的物料。
[0009]在一个实施例中,所述运送组件还包括第二直线模组和第三取放机构,所述第一直线模组与所述第二直线模组相邻并列设置,所述第三取放机构与所述第二直线模组的输出端连接,所述第三取放机构用于将所述暂存机构上的合格物料运送出去。
[0010]在一个实施例中,所述暂存机构包括伸缩器和载物结构,所述载物结构与所述伸缩器的输出端连接,所述载物结构用于承载来自所述第二取放机构的测试合格物料,所述伸缩器用于带动所述载物结构移动以进出接料工位。
[0011]在一个实施例中,所述容置组件还包括基座,所述测试机构和所述暂存机构均设置于所述基座。
[0012]在一个实施例中,所述收集组件包括分选机构和收集机构,所述分选机构设置于所述接料工位,所述收集机构与所述分选机构对接,所述载物结构、所述分选机构和所述收集机构沿着所述取放机构输出端的延伸方向依次排列设置。
[0013]在一个实施例中,所述分选机构包括支架、第一导槽和驱动器,所述第一导槽与所述支架旋转连接,所述驱动器的输出端与所述第一导槽连接,所述驱动器用于驱动所述第一导槽沿着所述支架进行摆动。
[0014]在一个实施例中,所述收集机构设置有多个料槽。
[0015]本技术的有益效果是:在应用中,首先,运送组件将待测试的物料运送至容置组件中,接着容置组件对物料进行测试,然后运送组件将测试合格的物料直接运送到下一加工工位,将测试不良的物料运送至收集组件中,收集组件对测试后的不良物料进行分类收集,例如测试的物料为电容器时,如果电容器出现耐压或耐爆问题,则将耐压的电容器与耐爆的电容器分类收集,实现了自动化地上下料测试,节约了人工成本,提高了生产效率。
附图说明
[0016]此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解,构成本技术的一部分,本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术,并不构成对本技术的不当限定。在附图中:
[0017]图1为本技术实施例中测试对接装置的立体图之一;
[0018]图2为本技术实施例中测试对接装置的立体图之二;
[0019]图3为本技术实施例中测试对接装置的主视图;
[0020]图4为本技术实施例中测试对接装置的局部立体图之一;
[0021]图5为本技术实施例中测试对接装置的局部立体图之二;
[0022]其中:1、运送组件;11、第一直线模组;12、第一取放机构;13、第二取放机构;14、第二直线模组;15、第三取放机构;2、容置组件;21、测试机构;22、暂存机构;221、伸缩器;222、载物结构;223、滑轨;224、滑块;23、基座;3、收集组件;31、分选机构;311、支架;312、第一导槽;313、驱动器;32、收集机构;321、料槽;4、第二导槽。
具体实施方式
[0023]如在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可理解,硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式,而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式用语,故应解释成“包含但不限定于”。“大致”是指在可接受的误差范围内,本领域技术人员能够在一定误差范围内解决所述技术问题,基本达到所述技术效果。
[0024]在本技术的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0025]在本技术中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件的内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术
语在本技术中的具体含义。
[0026]以下结合附图对本技术作进一步详细说明,但不作为对本技术的限定。
[0027]本申请提供的测试对接装置可以应用于电容器的老化测试,尤其适用于对电容器进行自动上下料测试,在本实施例中,以将测试对接装置应用于电容器的自动上下料测试进行示例性说明。
[0028]请参阅图1至图3,本申请实施例提供了一种测试对接装置,包括运送组件1、容置组件2和收集组件3,容置组件2和收集组件3相邻设置,容置组件2和收集组件3均与运送组件1对应设置,运送组件1用于在容置组件2与收集组件3之间运送物料,容置组件2用于对来自运送组件1的物料进行测试,收集组件3用于对测试后的不良物料进行分类收集。
[0029]在应用中,首先,运送组件1将待测试的物料运送至容置组件2中,接着容置组件2对物料进行测试,然后运送组件1将测试合格的物料直接运送到下一加工工位,将测试不良的物料运送至收集组件3中,收集组件3对测试后的不良物料进行分类收集,例如测试的物料为电容器时,如果电容器出现耐压或耐爆问题,则将耐压的电容器与耐爆的电容器分类收集,实现了自动化地上下料测试,节约了人工成本,提高了生产本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试对接装置,其特征在于:包括运送组件(1)、容置组件(2)和收集组件(3),所述容置组件(2)和所述收集组件(3)相邻设置,所述容置组件(2)和所述收集组件(3)均与所述运送组件(1)对应设置,所述运送组件(1)用于在所述容置组件(2)与所述收集组件(3)之间运送物料,所述容置组件(2)用于对来自所述运送组件(1)的物料进行测试,所述收集组件(3)用于对测试后的不良物料进行分类收集。2.根据权利要求1所述的测试对接装置,其特征在于:所述运送组件(1)包括至少一个直线模组和至少一个取放机构,各个所述取放机构分别与各个所述直线模组的输出端一一对应连接。3.根据权利要求2所述的测试对接装置,其特征在于:所述运送组件(1)包括第一直线模组(11)、第一取放机构(12)和第二取放机构(13),所述第一取放机构(12)和所述第二取放机构(13)分别与所述第一直线模组(11)的两个输出端一一对应连接。4.根据权利要求3所述的测试对接装置,其特征在于:所述容置组件(2)包括测试机构(21)和暂存机构(22),所述暂存机构(22)与所述测试机构(21)相邻设置,所述测试机构(21)用于对来自所述第一取放机构(12)的物料进行测试,所述第二取放机构(13)用于运送测试后物料,所述暂存机构(22)用于存放测试合格的物料。5.根据权利要求4所述的测试对接装置,其特征在于:所述运送组件(1)还包括第二直线模组(14)和第三取放机构(15),所述第一直线模组(11)与所述第二直线模组(14)相邻并列设置,所述第三取放机构(15)...

【专利技术属性】
技术研发人员:方俊杰杨立新张尚明
申请(专利权)人:深圳新益昌科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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