光栅传感器的位移信号校正方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请适用于光栅传感器技术领域，提供一种光栅传感器的位移信号校正方法、装置、设备及存储介质。光栅传感器的位移信号校正方法包括：获取光栅传感器产生的初始位移信号；根据初始位移信号，对光栅传感器对应光源的发光强度进行调整，以校正光栅传感器产生的位移信号。通过本方法可以根据初始位移信号对光栅传感器对应光源的发光强度进行调整，可以校正光栅传感器产生的位移信号，提高了光栅传感器产生的位移信号的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于光栅传感器，尤其涉及一种光栅传感器的位移信号校正方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

1、光栅传感器是一种能够测量物体直线位移的设备。光栅传感器的原理为通过光源发射初始光信号至光栅，在光栅的作用下，初始光信号会转换为目标光信号，之后目标光信号会通过光栅传感器的光电探测器进行光电转换，产生带有位移信息的位移信号，之后则可以根据位移信号得到物体的位移。

2、在实际应用中，光栅传感器的光栅难免会受到环境的污染(如受到油污或粉尘的污染)，当光栅传感器受到污染时，光栅传感器产生的位移信号会失真，导致光栅传感器产生的位移信号的准确性较低。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请实施例提供了一种光栅传感器的位移信号校正方法、装置、设备及存储介质，以解决光栅传感器产生的位移信号的准确性较低的技术问题。

2、第一方面，本申请实施例提供一种光栅传感器的位移信号校正方法，包括：

3、获取光栅传感器产生的初始位移信号；

4、根据所述初始位移信号，对所述光栅传感器对应光源的发光强本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光栅传感器的位移信号校正方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述初始位移信号，对所述光栅传感器对应光源的发光强度进行调整，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述初始位移信号包括至少两路正交的正余弦信号；所述确定所述初始位移信号的目标有效值，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标有效值和预设的标准有效值，对所述光源的发光强度进行调整，包括：

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标有效值和预设的标准有效值，对所述光源的发光强度进行调整...

【技术特征摘要】

1.一种光栅传感器的位移信号校正方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述初始位移信号，对所述光栅传感器对应光源的发光强度进行调整，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述初始位移信号包括至少两路正交的正余弦信号；所述确定所述初始位移信号的目标有效值，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标有效值和预设的标准有效值，对所述光源的发光强度进行调整，包括：

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标有效值和预设的标准有效值，对所述光源的发光强度进行调整，包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁志宏，黄奕敏，杨权，李景恒，
申请(专利权)人：深圳新益昌科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：