本实用新型专利技术涉及一种双平面孔位置度与对称度同步测量检具，所属轮毂法兰的双平面位置度检测设备技术领域，包括检具机架，所述的检具机架上设有工装盘，所述的工装盘上端设有与工装盘相连接固定的单面限位测量组件和嵌入式限位测量组件。所述的单面限位测量组件包括测量限位盘，所述的测量限位盘上端侧边设有与测量限位盘呈一体化的侧限位块。所述的嵌入式限位测量组件包括嵌入式限位座。具有结构简单、检测难度小和效率高的特点。解决了对两个平面孔位置度检测和垂直方向孔位对称度检测同步测量的问题。同步测量的问题。同步测量的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种双平面孔位置度与对称度同步测量检具
[0001]本技术涉及轮毂法兰的双平面位置度检测设备
，具体涉及一种双平面孔位置度与对称度同步测量检具。
技术介绍
[0002]现有技术存在三坐标检测困难及过程中检测困难的问题。由于孔位在不同的平面上，需要经过两道工序进行加工，故产品过程质量不能有效保证。为使产品质量稳定需按检测频率要求进行检测，未使用检具时只能用三坐标进行测量，且三坐标测量过程中需先检测垂直方向的孔位及对称度，再转换检测头位置为水平方向后进行校准后才能对侧边孔位进行位置度测量，测量时长需半个小时左右，操作复杂，不能对过程中的质量有效控制。
技术实现思路
[0003]本技术主要解决现有技术中存在结构复杂、检测难度大和效率低的不足，提供了一种双平面孔位置度与对称度同步测量检具，其具有结构简单、检测难度小和效率高的特点。解决了对两个平面孔位置度检测和垂直方向孔位对称度检测同步测量的问题。
[0004]本技术的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：
[0005]一种双平面孔位置度与对称度同步测量检具，包括检具机架，所述的检具机架上设有工装盘，所述的工装盘上端设有与工装盘相连接固定的单面限位测量组件和嵌入式限位测量组件。所述的单面限位测量组件包括测量限位盘，所述的测量限位盘上端侧边设有与测量限位盘呈一体化的侧限位块。所述的嵌入式限位测量组件包括嵌入式限位座。
[0006]作为优选，所述的测量限位盘上端、嵌入式限位座内均设有若干呈等间距环形分布的螺纹孔销，所述的侧限位块侧边、嵌入式限位座侧边均设有与侧限位块、嵌入式限位座相活动式贯穿的侧边孔销。
[0007]作为优选，所述的侧边孔销两侧设有与侧限位块前侧端面、嵌入式限位座内侧端面呈一体化的定位凸台，所述的侧边孔销一侧与定位凸台间设有与侧限位块、嵌入式限位座相活动式贯穿的光孔销。
[0008]作为优选，所述的检具机架与工装盘间设有与检具机架相活动式嵌套连接的联轴法兰，所述的联轴法兰，所述的检具机架下端设有旋转电机, 所述的旋转电机与联轴法兰相互间采用平键式卡簧限位插嵌连接。当检测出的不合格品和合格品后，采用旋转电机旋转90度进行分拣。
[0009]作为优选，所述的联轴法兰与检具机架间设有轴承，所述的联轴法兰与工装盘相螺栓连接固定。
[0010]本技术能够达到如下效果：
[0011]本技术提供了一种双平面孔位置度与对称度同步测量检具，与现有技术相比较，具有结构简单、检测难度小和效率高的特点。解决了对两个平面孔位置度检测和垂直方向孔位对称度检测同步测量的问题。
附图说明
[0012]图1是本技术的结构示意图。
[0013]图2是本技术中的单面限位测量组件的结构示意图。
[0014]图3是本技术中的嵌入式限位测量组件的结构示意图。
[0015]图中：单面限位测量组件1，工装盘2，嵌入式限位测量组件3，联轴法兰4，轴承5，旋转电机6，检具机架7，测量限位盘8，侧限位块9，定位凸台10，光孔销11，侧边孔销12，螺纹孔销13，嵌入式限位座14，取料槽15。
具体实施方式
[0016]下面通过实施例，并结合附图，对本技术的技术方案作进一步具体的说明。
[0017]实施例：如图1、图2和图3所示，一种双平面孔位置度与对称度同步测量检具，包括检具机架7，检具机架7上设有工装盘2，检具机架7与工装盘2间设有与检具机架7相活动式嵌套连接的联轴法兰4，联轴法兰4，联轴法兰4与检具机架7间设有轴承5，联轴法兰4与工装盘2相螺栓连接固定。检具机架7下端设有旋转电机6,旋转电机6与联轴法兰4相互间采用平键式卡簧限位插嵌连接。工装盘2上端设有与工装盘2相连接固定的单面限位测量组件1和嵌入式限位测量组件3。单面限位测量组件1包括测量限位盘8，测量限位盘8上端侧边设有与测量限位盘8呈一体化的侧限位块9。嵌入式限位测量组件3包括嵌入式限位座14。测量限位盘8上端、嵌入式限位座14内均设有3个呈等间距环形分布的螺纹孔销13，侧限位块9侧边、嵌入式限位座14侧边均设有与侧限位块9、嵌入式限位座14相活动式贯穿的侧边孔销12。侧边孔销12两侧设有与侧限位块9前侧端面、嵌入式限位座14内侧端面呈一体化的定位凸台10，侧边孔销12一侧与定位凸台10间设有与侧限位块9、嵌入式限位座14相活动式贯穿的光孔销11。
[0018]综上所述，该双平面孔位置度与对称度同步测量检具，具有结构简单、检测难度小和效率高的特点。解决了对两个平面孔位置度检测和垂直方向孔位对称度检测同步测量的问题。
[0019]对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范实施例的细节，而且在不背离技术的基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本技术。因此无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
[0020]总之，以上所述仅为本技术的具体实施例，但本技术的结构特征并不局限于此，任何本领域的技术人员在本技术的领域内，所作的变化或修饰皆涵盖在本技术的专利范围之中。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种双平面孔位置度与对称度同步测量检具，其特征在于：包括检具机架（7），所述的检具机架（7）上设有工装盘（2），所述的工装盘（2）上端设有与工装盘（2）相连接固定的单面限位测量组件（1）和嵌入式限位测量组件（3）；所述的单面限位测量组件（1）包括测量限位盘（8），所述的测量限位盘（8）上端侧边设有与测量限位盘（8）呈一体化的侧限位块（9）；所述的嵌入式限位测量组件（3）包括嵌入式限位座（14）。2.根据权利要求1所述的一种双平面孔位置度与对称度同步测量检具，其特征在于：所述的测量限位盘（8）上端、嵌入式限位座（14）内均设有若干呈等间距环形分布的螺纹孔销（13），所述的侧限位块（9）侧边、嵌入式限位座（14）侧边均设有与侧限位块（9）、嵌入式限位座（14）相活动式贯穿的侧边孔销（12）。3.根据权利要求2所述的一种双平面孔位置度与对称度同...
【专利技术属性】
技术研发人员：夏建祥，
申请(专利权)人：浙江万鼎精密科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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