设备测试系统技术方案

本公开提供了一种设备测试系统，本公开涉及设备测的领域，具体涉及一种设备测试系统，该系统包括待测设备和至少一个测试治具，待测设备包括处理器和至少一个待测模块；每个测试治具与对应的待测模块电连接以形成一个测试单元，处理器与每个测试单元中的测试治具和/或待测模块电连接；处理器用于向测试单元的测试治具和/或待测模块发送测试信号，基于测试治具和/或待测模块针对测试信号的反馈情况生成测试结果信息。上述系统可以预先为每个待测模块配置对应的测试治具，以待测设备自身的处理器来自动执行针对各待测模块的测试流程，实现了待测设备的自动化测试过程，显著地提高了测试效率。测试效率。测试效率。

【技术实现步骤摘要】
设备测试系统


[0001]本公开涉及设备测试领域，具体涉及一种设备测试系统。

技术介绍

[0002]为了确保电子设备能够在实际应用场景中能够正常运行，通常需要提前对电子设备的多项模块的功能进行测试。目前电子设备通常需要采用专业人员手动对其模块的功能进行测试，这种测试方式的效率较低。

技术实现思路

[0003]本公开提供了一种设备测试系统，设备测试系统包括待测设备和至少一个测试治具，待测设备包括处理器和至少一个待测模块；
[0004]每个测试治具与对应待测模块电连接以形成一个测试单元，处理器与每个测试单元中的测试治具和/或待测模块电连接；
[0005]处理器用于向测试单元的测试治具和/或待测模块发送测试信号，基于测试治具和/或待测模块针对测试信号的反馈情况生成测试结果信息。
[0006]在本公开实施例中，至少一个测试治具包括主机设备，至少一个待测模块包括网口，主机设备与网口电连接，处理器与网口电连接；
[0007]处理器用于通过网口向主机设备发送回送请求，基于主机设备针对回送请求的信息反馈情况生成网口的测试结果信息；
[0008]其中，回送请求用于指示主机设备向处理器反馈应答消息。
[0009]在本公开实施例中，至少一个测试治具包括外设存储设备，至少一个待测模块包括存储接口，外设存储设备与存储接口电连接，处理器与存储接口电连接；
[0010]处理器用于通过存储接口向外设存储设备发送容量获取请求，基于外设存储设备针对容量获取请求的信息反馈情况生成存储接口的测试结果信息；
[0011]其中，容量获取请求用于指示外设存储设备向处理器反馈外设存储设备的存储容量。
[0012]在本公开实施例中，至少一个待测模块包括固态硬盘，至少一个测试治具包括处理器与固态硬盘之间的第一数据传输线；
[0013]处理器用于通过第一数据传输线向固态硬盘发送容量获取请求，基于固态硬盘针对容量获取请求的信息反馈情况生成固态硬盘的测试结果信息；其中，容量获取请求用于指示固态硬盘向处理器反馈固态硬盘的存储容量。
[0014]在本公开实施例中，至少一个测试治具包括第一信号线，至少一个待测模块包括通用输出接口和通用输入接口，通用输出接口通过第一信号线与通用输入接口电连接，处理器分别与通用输出接口和通用输入接口电连接；
[0015]处理器用于通过通用输出接口和第一信号线向通用输入接口发送第一电平信号，通过通用输入接口接收第二电平信号，基于第一电平信号和第二电平信号的比较结果生成
通用输出接口和通用输入接口的测试结果信息。
[0016]在本公开实施例中，至少一个测试治具包括第二信号线，至少一个待测模块包括第一串口，第一串口的输出端口和输入端口通过第二信号线电连接；
[0017]处理器用于通过输出端口和第二信号线向输入接口发送第一电平信号，通过输入端口接收第二电平信号，基于第一电平信号和第二电平信号的比较结果生成第一串口的测试结果信息。
[0018]在本公开实施例中，至少一个测试治具包括第三信号线，至少一个待测模块包括第二串口和韦根接口，第二串口通过第三信号线与韦根接口电连接，处理器分别与第二串口和韦根接口电连接；
[0019]处理器用于通过第二串口和韦根接口之中的一个发送第一测试信号，通过第二串口和韦根接口之中的另一个接收第二测试信号，基于第一测试信号和第二测试信号的比较结果生成第二串口和韦根接口的测试结果信息；其中，第一测试信号通过第三信号线在第二串口和韦根接口之间进行传输。
[0020]在本公开实施例中，至少一个测试治具还包括协议转换模块；第二串口通过第三信号线和协议转换模块，与韦根接口电连接。
[0021]在本公开实施例中，至少一个待测模块包括加密芯片，至少一个测试治具包括处理器与加密芯片之间的第二数据传输线；
[0022]处理器用于通过第二数据传输线向加密芯片发送秘钥获取请求，基于加密芯片针对秘钥获取请求的信息反馈情况生成加密芯片的测试结果信息；其中，秘钥获取请求用于指示加密芯片向处理器反馈加密芯片中存储的秘钥。
[0023]在本公开实施例中，至少一个测试治具包括用电负载，至少一个待测模块包括继电器，继电器与用电负载电连接，处理器与继电器电连接；
[0024]处理器用于向继电器发送开关指令，使得继电器开始或停止向用电负载提供电能；处理器还用于基于用电负载的工作状态情况生成继电器的测试结果信息。
[0025]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
[0026]本公开提供的技术方案带来的有益效果是：
[0027]在本公开的技术方案中，可以预先为每个待测模块配置对应的测试治具，以待测设备自身的处理器来自动执行针对各待测模块的测试流程，实现了待测设备的自动化测试过程，显著地提高了测试效率。
附图说明
[0028]附图用于更好地理解本方案，不构成对本公开的限定。其中：
[0029]图1示出了本公开实施例提供的一种设备测试系统的示意图；
[0030]图2示出了本公开实施例提供的另一种设备测试系统的示意图。
[0031]附图标号的说明如下：
[0032]1‑
待测设备；
[0033]11
‑
处理器；
[0034]12
‑
待测模块；121
‑
网口；122
‑
存储接口；123
‑
固态硬盘；
[0035]124
‑
通用输出接口；125
‑
通用输入接口；126
‑
第一串口；
[0036]127
‑
第二串口；128
‑
韦根接口；129
‑
加密芯片；120
‑
继电器；
[0037]2‑
测试治具；
[0038]21
‑
主机设备；22
‑
外设存储设备；23
‑
第一数据传输线；
[0039]24
‑
第一信号线；25
‑
第二信号线；26
‑
第三信号线；
[0040]27
‑
第二数据传输线；28
‑
用电负载。
具体实施方式
[0041]以下结合附图对本公开的示范性实施例做出说明，其中包括本公开实施例的各种细节以助于理解，应当将它们认为仅仅是示范性的。因此，本领域普通技术人员应当认识到，可以对这里描述的实施例做出各种改变和修改，而不会背离本公开的范围和精神。同样，为了清楚和简明，以下的描述中省略了对公知功能和结构的描述。
[0042]为了确保电子设备能够在实际应用场景中能够正常运行，通常需要提前对电子本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种设备测试系统，包括待测设备和至少一个测试治具，所述待测设备包括处理器和至少一个待测模块；每个所述测试治具与对应的待测模块电连接以形成一个测试单元，所述处理器与每个所述测试单元中的所述测试治具和/或所述待测模块电连接；所述处理器用于向所述测试单元的所述测试治具和/或所述待测模块发送测试信号，基于所述测试治具和/或所述待测模块针对所述测试信号的反馈情况生成测试结果信息。2.根据权利要求1所述的设备测试系统，所述至少一个测试治具包括主机设备，所述至少一个待测模块包括网口，所述主机设备与所述网口电连接，所述处理器与所述网口电连接；所述处理器用于通过所述网口向所述主机设备发送回送请求，基于所述主机设备针对所述回送请求的信息反馈情况生成所述网口的测试结果信息；其中，所述回送请求用于指示所述主机设备向所述处理器反馈应答消息。3.根据权利要求1所述的设备测试系统，所述至少一个测试治具包括外设存储设备，所述至少一个待测模块包括存储接口，所述外设存储设备与所述存储接口电连接，所述处理器与所述存储接口电连接；所述处理器用于通过所述存储接口向所述外设存储设备发送容量获取请求，基于所述外设存储设备针对所述容量获取请求的信息反馈情况生成所述存储接口的测试结果信息；其中，所述容量获取请求用于指示所述外设存储设备向所述处理器反馈所述外设存储设备的存储容量。4.根据权利要求1所述的设备测试系统，所述至少一个待测模块包括固态硬盘，所述至少一个测试治具包括所述处理器与所述固态硬盘之间的第一数据传输线；所述处理器用于通过所述第一数据传输线向所述固态硬盘发送容量获取请求，基于所述固态硬盘针对所述容量获取请求的信息反馈情况生成所述固态硬盘的测试结果信息；其中，所述容量获取请求用于指示所述固态硬盘向所述处理器反馈所述固态硬盘的存储容量。5.根据权利要求1所述的设备测试系统，所述至少一个测试治具包括第一信号线，所述至少一个待测模块包括通用输出接口和通用输入接口，所述通用输出接口通过所述第一信号线与所述通用输入接口电连接，所述处理器分别与所述通用输出接口和所述通用输入接口电连接；所述处理器用于通过所述通用输出接口和所述第一信号线向所述通用输入接口发送第一电平信号，通过所述通用输入接口接收...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱金平，
申请(专利权)人：北京百度网讯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：