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本公开提供了一种设备测试系统，本公开涉及设备测的领域，具体涉及一种设备测试系统，该系统包括待测设备和至少一个测试治具，待测设备包括处理器和至少一个待测模块；每个测试治具与对应的待测模块电连接以形成一个测试单元，处理器与每个测试单元中的测试治...
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