一种X射线衍射仪用两轴薄膜样品台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种X射线衍射仪用两轴薄膜样品台，包括转接座、电动升降滑台、电动摆动滑台和垫块，电动摆动滑台通过转接座与X射线衍射仪连接，电动摆动滑台的上方连接电动升降滑台，电动摆动滑台能够带动电动升降滑台实现绕x轴向的摆动，电动升降滑台的上方可拆卸连接有垫块，垫块上方用于放置薄膜样品。本实用新型专利技术通过电动升降滑台和垫块可实现不同厚度的薄膜样品的一个高度调节，使薄膜样品的上表面能够位于X射线衍射仪的中心点上，进而满足X射线衍射仪测试不同厚度薄膜样品的需求，电动摆动滑台可用于调整薄膜样品的倾斜情况，使薄膜样品表面处于高精度的水平位置，进而使一般衍射仪具备薄膜样品的调平对准与测试功能。能。能。

【技术实现步骤摘要】
一种X射线衍射仪用两轴薄膜样品台


[0001]本技术涉及样品台的
，特别是涉及一种X射线衍射仪用两轴薄膜样品台。

技术介绍

[0002]X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构、织构及应力，精确地进行物相分析、定性分析、定量分析，其作为表征材料结晶结构的主要手段，被广泛用于科学研究、检验检测以及企业对产品的质量控制等方面。随着材料基因组计划的提出，X射线衍射仪作为一种高效、无损的检测手段得到了更多的应用。
[0003]目前，测试中心等配备的常规X射线衍射仪主要用于测试粉末样品，而粉末样品的衍射图案为一系列的同心德拜环，因此只需要两轴衍射即可。但是，对于薄膜样品的测试，测试前需要对其进行严格的位置对准，由于有机半导体薄膜都很薄，所以需要配备专门的薄膜样品台对样品的位置进行精确对准，使样品处于光路中，且在0
°
时与光束平行。这个对准对于后续的测试很关键，关系到数据的准确性。一般定义垂直于样品的方向为z方向(即样品高度方向)，沿着X射线入射和反射的方向定义为x方向；垂直于这两个方向的则为y方向；而样品水平旋转本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线衍射仪用两轴薄膜样品台，其特征在于：包括转接座、电动升降滑台、电动摆动滑台和垫块，所述电动摆动滑台通过所述转接座与X射线衍射仪连接，所述电动摆动滑台的上方连接所述电动升降滑台，所述电动摆动滑台能够带动所述电动升降滑台实现绕x轴向的摆动，所述电动升降滑台的上方可拆卸连接有所述垫块，所述垫块上方用于放置薄膜样品。2.根据权利要求1所述的X射线衍射仪用两轴薄膜样品台，其特征在于：所述垫块根据不同的薄膜样品厚度能够更换为不同厚度的型号，所述垫块通过螺栓连接于所述电动升降滑台上。3.根据权利要求2所述的X射线衍射仪用两轴薄膜样品台，其特征在于：所述垫块的厚度范围为1mm
‑
20mm，所述薄膜...

【专利技术属性】
技术研发人员：张吉东，孟圣斐，宋新月，
申请(专利权)人：苏州锂影科技有限公司，
类型：新型
国别省市：