本实用新型专利技术涉及电路板阻抗测试设备技术领域，尤其涉及一种阻抗测试的探头装置。探头装置包括装置本体、间距调节组件和探针组件；探针组件包括第一探针单元、第二探针单元和第三探针单元，第二探针单元和第三探针单元均固定设置在装置本体上，第一探针单元包括第一探针，第二探针单元包括第二探针，第三探针单元包括第三探针；间距调节组件包括X轴驱动机构和Y轴驱动机构，X轴驱动机构滑动设置在Y轴驱动机构上，第一探针单元滑动设置在X轴驱动机构上；间距调节组件用于调节第一探针与第二探针，以及第一探针与第三探针之间的距离。通过间距调节组件实现了探针间距自动化精确调整，提升了装置的阻抗测试效率和测试精度。提升了装置的阻抗测试效率和测试精度。提升了装置的阻抗测试效率和测试精度。
【技术实现步骤摘要】
一种阻抗测试的探头装置
[0001]本技术涉及电路板阻抗测试设备
，尤其涉及一种阻抗测试的探头装置。
技术介绍
[0002]习知用于印刷电路板(printed circuit board，简称PCB)的阻抗测试设备主要包含有一测试机以及一探针单元装置，探针单元装置主要包含有多个用于点触印刷电路板的导电接点的探针单元，对于高频阻抗测试，各探针单元采用包含有一针芯及一与针芯绝缘地围绕针芯的接地导体的同轴针，并通过同轴讯号线与测试机电性连接，各探针单元为两两一组地以固定间距的方式设置。
[0003]然而，现有的印刷电路板阻抗测试所需的探针单元间距有很多的变化，因此需要多个不同的探针单元装置来因应多样化的测试需求，即，当印刷电路板阻抗测试所需的探针单元间距不同时，则需更换不同的探针单元装置，如此的测试设备的成本较高，因此有待改进。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种阻抗测试的探头装置，自动化精确调整探针单元间距，提升阻抗测试效率和测试精度。
[0005]为达此目的，本技术采用以下技术方案：
[0006]一种阻抗测试的探头装置，包括装置本体、间距调节组件和探针组件；
[0007]所述探针组件包括第一探针单元、第二探针单元和第三探针单元，所述第二探针单元和所述第三探针单元均固定设置在所述装置本体上，所述第一探针单元包括第一探针，所述第二探针单元包括第二探针，所述第三探针单元包括第三探针；
[0008]所述间距调节组件包括X轴驱动机构和Y轴驱动机构，所述X轴驱动机构滑动设置在所述Y轴驱动机构上，所述第一探针单元滑动设置在所述X轴驱动机构上；
[0009]所述间距调节组件用于调节所述第一探针与所述第二探针，以及所述第一探针与所述第三探针之间的距离。
[0010]优选地，所述第一探针单元包括第一紧固部和第一连接部，所述第一探针设置在所述第一紧固部上，所述紧固部设置在所述第一连接部上，所述第一连接部固定设置在所述X轴驱动机构上；
[0011]所述第二探针单元包括第二紧固部和第二连接部，所述第二探针设置在所述第二紧固部上，所述第二紧固部设置在所述第二连接部上；
[0012]所述第三探针单元包括第三紧固部和第三连接部，所述第三探针设置在所述第三紧固部上，所述第三紧固部设置在所述第三连接部上，所述第二连接部、所述第三连接部均固定设置在所述装置本体上。
[0013]优选地，所述第一探针单元包括第一气缸，所述第一气缸设置在所述第一连接部
上，所述第一紧固部设置在所述第一气缸的输出端；
[0014]所述第二探针单元包括第二气缸，所述第二气缸设置在所述第三连接部上，所述第二紧固部设置在所述第二气缸的输出端，所述第二气缸用于驱动所述第二紧固部在Z轴方向运动；
[0015]所述第三探针单元包括第三气缸，所述第三气缸设置在所述第二连接部上，所述第三紧固部设置在所述第三气缸的输出端，所述第三气缸用于驱动所述第三紧固部在Z轴方向运动。
[0016]优选地，所述第一紧固部、所述第二紧固部和所述第三紧固部均相对于Z轴方向倾斜预设角度。
[0017]优选地，第一探针、所述第二探针与所述第三探针相互之间采用金线连通。
[0018]优选地，所述X轴驱动机构包括第一电机、第一滑轨和第一滚轮，所述第一滚轮设置在所述第一电机的输出端，所述第一电机驱动所述第一滚轮在X方向上运动；
[0019]所述第一探针单元包括第一滑块，所述第一滚轮设置在所述第一滑块上，所述第一滑块滑动设置在所述第一滑轨上。
[0020]优选地，所述Y轴驱动机构包括第二电机、第二滑轨和第二滚轮，所述第二滚轮设置在所述第二电机的输出端，所述第二电机驱动所述第二滚轮在Y方向上运动；
[0021]所述X轴驱动机构包括第二滑块，所述第二滚轮设置在所述第二滑块上，所述第二滑块滑动设置在所述第二滑轨上。
[0022]优选地，所述第一电机和所述第二电机均为步进电机。
[0023]与现有技术相比，本技术实施例具有以下有益效果：
[0024]具体在实际测试中，根据待测物的导电接点的间距调整第一探针的位置。Y轴驱动机构驱动所述X轴驱动机构在Y方向上运动，第一探针单元设置在X轴驱动机构上，第一探针单元也能够实现在Y方向上的移动。此外，X轴驱动机构驱动第一探针单元在X方向上移动。因此第一探针单元在间距调节组件的作用下能够实现在X方向、Y方向移动。
[0025]实际操作中，探针两两组合检测，根据待测物的导电接点的间距调整第一探针与所述第二探针，或第一探针与所述第三探针之间的距离。通过间距调节组件实现了探针间距自动化精确调整，提升了装置的阻抗测试效率和测试精度。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0027]图1为本技术实施例提供的阻抗测试的探头装置结构示意图一；
[0028]图2为本技术实施例提供的阻抗测试的探头装置结构示意图二；
[0029]图3为本技术实施例提供的阻抗测试的探头装置结构示意图三。
[0030]图示说明：第一电机111、第一滑轨112、第一滚轮113、第二滑块114、第二电机121、第二滑轨122；
[0031]探针组件2、装置本体3；
[0032]第一探针单元21、第二探针单元22、第三探针单元23；
[0033]第一探针211、第一紧固部212、第一气缸213、第一滑块214、第一连接部215；
[0034]第二探针221、第二紧固部222、第二气缸223、第二连接部224；
[0035]第三探针231、第三紧固部232、第三气缸233、第三连接部234。
具体实施方式
[0036]为使得本技术的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0037]在本技术的描述中，需要理解的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。当一个组件被认为是“设置在”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中设置的组件。
[0038]此外，术语“长”“短”“内”“外”等指示方位或位置关系为基于附图所展示的方位或者位置关系，仅是为了便于描述本技术，而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种阻抗测试的探头装置，其特征在于，包括装置本体(3)、间距调节组件和探针组件(2)；所述探针组件(2)包括第一探针单元(21)、第二探针单元(22)和第三探针单元(23)，所述第二探针单元(22)和所述第三探针单元(23)均固定设置在所述装置本体(3)上，所述第一探针单元(21)包括第一探针(211)，所述第二探针单元(22)包括第二探针(221)，所述第三探针单元(23)包括第三探针(231)；所述间距调节组件包括X轴驱动机构和Y轴驱动机构，所述X轴驱动机构滑动设置在所述Y轴驱动机构上，所述第一探针单元(21)滑动设置在所述X轴驱动机构上；所述间距调节组件用于调节所述第一探针(211)与所述第二探针(221)，以及所述第一探针(211)与所述第三探针(231)之间的距离。2.根据权利要求1所述的阻抗测试的探头装置，其特征在于，所述第一探针单元(21)包括第一紧固部(212)和第一连接部(215)，所述第一探针(211)设置在所述第一紧固部(212)上，所述紧固部(212)设置在所述第一连接部(215)上，所述第一连接部(215)固定设置在所述X轴驱动机构上；所述第二探针单元(22)包括第二紧固部(222)和第二连接部(224)，所述第二探针(221)设置在所述第二紧固部(222)上，所述第二紧固部(222)设置在所述第二连接部(224)上；所述第三探针单元(23)包括第三紧固部(232)和第三连接部(234)，所述第三探针(231)设置在所述第三紧固部(232)上，所述第三紧固部(232)设置在所述第三连接部(234)上，所述第二连接部(224)、所述第三连接部(234)均固定设置在所述装置本体(3)上。3.根据权利要求2所述的阻抗测试的探头装置，其特征在于，所述第一探针单元(21)包括第一气缸(213)，所述第一气缸(213)设置在所述第一连接部(215)上，所述第一紧固部(212)设置在所述第一气缸(213)的输出端；所述第二探针单元(22)包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡林，刘锐烁，王天生，
申请(专利权)人：广东正业科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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