一种LED芯片结构及其制作方法技术

技术编号:33639903 阅读:9 留言:0更新日期:2022-06-02 01:58
本发明专利技术是关于一种LED芯片结构及其制作方法。该LED芯片结构具有一种具有表面微结构的透明导电层,该微结构Ra值在nm量级,光线经过微结构的反射,可以有效改变传播方向,降低出光面的全反射几率,最终提升器件的光效。最终提升器件的光效。最终提升器件的光效。

【技术实现步骤摘要】
一种LED芯片结构及其制作方法


[0001]本专利技术涉及LED芯片结构领域,尤其涉及一种LED芯片结构及其制作方法。

技术介绍

[0002]发光器件是依靠有源层发射的光子来进行发光的,有源层发射的光子为各向等几率发射,因此在光子从出光方向发出时,在器件内部会进行多次反射,因此,如何提高发光器件内部的反射效率,进而增加器件光效是一个需要解决的技术问题。

技术实现思路

[0003]为克服相关技术中存在的问题,本专利技术提供一种LED芯片结构及其制作方法,通过形成具有表面nm量级微结构的透明导电层,例如ITO层。使得光线经过微结构的反射,可以有效改变传播方向,降低出光面的全反射几率,最终提升器件的光效。
[0004]根据本专利技术实施例的第一方面,提供一种LED芯片结构,包括:第一半导体层、第二半导体层、位于所述第一半导体层和第二半导体层之间有源层、与所述第一半导体层至少部分区域形成接触的透明导电层、与所述透明导电层形成电连接的第一导电层、与所述第一导电层形成电连接的第二导电层、与所述第二导电层形成电连接的电极,其中,所述第一导电层、第二导电层和电极共同组成第一电连接层,贯穿所述第一半导体层及有源层,并延伸到第二半导体层内部的凹陷、覆盖于所述第一半导体层部分表面且部分暴露于所述发光器件外部的第一绝缘层、覆盖于所述凹陷侧壁及所述第一电连接层一侧的第二绝缘层,部分接触于所述第二绝缘层表面并且与所述第二半导体层形成电连接的第三导电层、以及与所述第三导电层接触的支撑基板,所述透明导电层的至少一侧表面具有nm级别的微结构。
[0005]进一步,所述微结构在透明导电层表面呈现无规则随机分布状态。
[0006]进一步,所述透明导电层为金属氧化物材料。
[0007]进一步,所述氧化物含有In、Sn、O元素。
[0008]进一步,所述第一导电层、第二导电层、第三导电层和电极均包含多层金属结构。
[0009]进一步,当所述支撑基板为不导电材料时,所述第三导电层为第二电连接层,当所述支撑基板导电时,所述第三导电层与所述支撑基板共同组成电连接层。
[0010]根据本专利技术实施例的第二方面,提供一种LED芯片结构的制作方法,包括:
[0011]制作初始的外延结构,包括在外延生长基板上依次生长第二半导体层、有源层和第一半导体层;
[0012]制作贯穿所述第一半导体层及所述有源层,并延伸到所述第二半导体层内部的至少一个凹陷;
[0013]在所述第一半导体层的部分表面上依次制作获得透明导电层和第一导电层,所述第一导电层至少部分区域通过所述透明导电层与所述第一半导体层形成接触;
[0014]使用气体蚀刻的方式在所述透明导电层表面形成微结构;
[0015]在所述第一导电层的外侧的所述第一半导体层的表面制作第一绝缘层;
[0016]在所述第一绝缘层的部分表面和所述第一导电层的表面制作第二导电层;
[0017]在所述第一绝缘层的剩余表面、所述第二导电层的表面以及凹陷的侧壁表面制作第二绝缘层;
[0018]在所述第二绝缘层的表面制作第三导电层;
[0019]在所述第三导电层的表面制作支撑基板;
[0020]去除外延生长基板。
[0021]进一步,使用气体蚀刻的方式在所述透明导电层表面形成微结构,具体包括:使用电场加速的气体轰击所述透明导电层表面,从而获得尺度nm级别的微结构;
[0022]进一步,用以轰击所述透明导电层表面的气体原子量在20以上,以获得足够的轰击力,加速电场的电压在10~1000V内,整个轰击过程在<0.1Pa的真空下进行。
[0023]本专利技术的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:
[0024]该LED芯片结构具有一种具有表面微结构的透明导电层,该微结构Ra值在nm量级,光线经过微结构的反射,可以有效改变传播方向,降低出光面的全反射几率,最终提升器件的光效。
[0025]应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本专利技术。
附图说明
[0026]通过结合附图对本专利技术示例性实施方式进行更详细的描述,本专利技术的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显,其中,在本专利技术示例性实施方式中,相同的参考标号通常代表相同部件。
[0027]图1是现有LED芯片结构的剖面结构示意图;
[0028]图2是根据本专利技术一示例性实施例示出的一种LED芯片结构的剖面结构示意图;
[0029]图3是本专利技术一示例性实施例示出的一种LED芯片结构与现有LED芯片结构的光线反射原理示意图;
[0030]图4是具备本专利技术与公知结构的发光器件的光功率实测数据示意图;
[0031]图5是根据本专利技术一示例性实施例示出的一种LED芯片结构的制作方法的流程图;
[0032]图6为步骤S501完成后形成的LED芯片结构初始的外延结构示意图;
[0033]图7为步骤S502完成后形成的LED芯片结构的结构示意图;
[0034]图8为步骤S503完成后形成的LED芯片结构的结构示意图;
[0035]图9为步骤S504完成后形成的LED芯片结构的结构示意图。
[0036]附图标记说明,1:第一半导体层,2:第二半导体层,3:有源层,4:透明导电层,5:第一导电层,6:第二导电层,7:电极,8:凹陷,9:第一绝缘层,10:第二绝缘层,11:第三导电层,12:支撑基板。
具体实施方式
[0037]下面将参照附图更详细地描述本专利技术的优选实施方式。虽然附图中显示了本专利技术的优选实施方式,然而应该理解,可以以各种形式实现本专利技术而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反,提供这些实施方式是为了使本专利技术更加透彻和完整,并且能够将本专利技术的
范围完整地传达给本领域的技术人员。
[0038]在本专利技术使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本专利技术。在本专利技术和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解,本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
[0039]应当理解,尽管在本专利技术可能采用术语“第一”、“第二”、“第三”等来描述各种信息,但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如,在不脱离本专利技术范围的情况下,第一信息也可以被称为第二信息,类似地,第二信息也可以被称为第一信息。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
[0040]以下结合附图详细描述本专利技术实施例的技术方案。
[0041]图1是现有LED芯片结构的剖面结构示意图,如图1所示,现有的LED芯片结构包括:第一半导体层1、第二半导体层2、位于所述第一半导体层本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED芯片结构,包括:第一半导体层、第二半导体层、位于所述第一半导体层和第二半导体层之间有源层,与所述第一半导体层至少部分区域形成接触的透明导电层,与所述透明导电层形成电连接的第一导电层、与所述第一导电层形成电连接的第二导电层、与所述第二导电层形成电连接的电极,所述第一导电层、第二导电层和电极共同组成第一电连接层,贯穿所述第一半导体层及有源层,并延伸到第二半导体层内部的凹陷,覆盖于所述第一半导体层部分表面且部分暴露于所述发光器件外部的第一绝缘层、覆盖于所述凹陷侧壁及所述第一电连接层一侧的第二绝缘层,部分接触于所述第二绝缘层表面并且与所述第二半导体层形成电连接的第三导电层、以及与所述第三导电层接触的支撑基板,其特征在于,所述透明导电层的至少一侧表面具有nm级别的微结构。2.根据权利要求1所述的一种LED芯片结构,其特征在于,所述微结构在透明导电层表面的分布为,无规则随机分布。3.根据权利要求1所述的一种LED芯片结构,其特征在于,所述透明导电层为金属氧化物材料。4.根据权利要求3所述的一种LED芯片结构,其特征在于,所述氧化物含有In、Sn、O元素。5.根据权利要求1所述的一种LED芯片结构,其特征在于,所述第一导电层、第二导电层、第三导电层和电极均包含多层金属结构。6.根据权利要求1所述的一种LED芯片结构,其特征在于,当所述支撑基板为不导电材料时,所述第三导电层...

【专利技术属性】
技术研发人员:王程刚
申请(专利权)人:安徽格恩半导体有限公司
类型:发明
国别省市:

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