一种具有高反射电极结构的LED芯片及制备方法技术

技术编号:33556309 阅读:25 留言:0更新日期:2022-05-26 22:53
本发明专利技术公开了一种具有高反射电极结构的LED芯片及制备方法,该LED芯片包括衬底及外延结构,P型半导体层上蚀刻形成一至少部分露出N型半导体层的N型台面,P型半导体层上设有透明导电层,透明导电层与P型半导体层之间设有电流阻挡层,透明导电层上设有第一绝缘层,第一导电层上设有高反射电极,第一绝缘层上设有第二绝缘层以将高反射电极覆盖,第二绝缘层上设有P型导电电极与N型导电电极,P型导电电极通过第一导电通孔与透明导电层接触进而与P型半导体层电性连接,N型导电电极通过第二导电通孔与N型半导体层电性连接,且P型导电电极、N型导电电极与高反射电极之间保持绝缘。旨在解决LED芯片金属电极结构反射效果较差的问题。LED芯片金属电极结构反射效果较差的问题。LED芯片金属电极结构反射效果较差的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种具有高反射电极结构的LED芯片及制备方法


[0001]本专利技术涉及芯片
,具体涉及一种具有高反射电极结构的LED芯片及制备方法。

技术介绍

[0002]常规的的蓝绿LED芯片结构一般包括衬底、外延结构、电流阻挡层、透明导电层、P型和N型电极、绝缘保护层,外延结构一般包括N型半导体、多量子阱发光区、P型半导体,P型和N型电极分别与P型半导体和N型半导体上进行直接或间接电性连接。P型和N型电极一般需要满足高的反射率、与半导体之间具有高的粘附性、低的界面电阻等。通常会以Al、Ag、Mg等作为反射层,但是具有高反射率的金属与半导体粘附性较差,易掉电极;因此电极结构一般会选择Cr、Ti、Pt、Ni等作为电极的粘附层,不可避免地,作为粘附层的金属具有吸光问题,影响LED的发光效率。
[0003]因此,传统的LED芯片金属电极结构反射效果较差,在一定程度上存在遮光与吸光的问题,亟待行业解决。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足,本专利技术的目的在于提供一种具有高反射电极结构的LED芯片及制备方法,旨在解决现有技术中传统的LED芯片金属电极结构反射效果较差,在一定程度上存在遮光与吸光的问题。
[0005]本专利技术的一方面在于提供一种具有高反射电极结构的LED芯片,所述LED芯片包括衬底及外延结构,
[0006]所述外延结构包括N型半导体层、设于所述N型半导体层之上的多量子阱发光区,以及设于所述多量子阱层之上的P型半导体层;
[0007]其中,所述P型半导体层上蚀刻形成一至少部分露出所述N型半导体层的N型台面,所述P型半导体层上设有透明导电层,所述透明导电层与所述P型半导体层之间设有电流阻挡层,所述透明导电层上设有第一绝缘层,所述第一导电层上设有高反射电极,所述第一绝缘层上设有第二绝缘层以将所述高反射电极覆盖,所述第二绝缘层上设有P型导电电极与N型导电电极,所述P型导电电极通过第一导电通孔与所述透明导电层接触进而与所述P型半导体层电性连接,所述N型导电电极通过第二导电通孔与所述N型半导体层电性连接,且所述P型导电电极、N型导电电极与所述高反射电极之间保持绝缘。
[0008]根据上述技术方案的一方面,所述透明导电层由ITO、IZO或其它透明导电材料制成。
[0009]根据上述技术方案的一方面,第一绝缘层、第二绝缘层分别由SiO2、Al2O3、TiO
X
中的一种或多种不导电材料制成。
[0010]根据上述技术方案的一方面,用于制作所述高反射电极的高反射金属层由Al、Ag、Mg或其它具有高反射特质的材料制成。
[0011]根据上述技术方案的一方面,用于制作所述高反射电极的高反射金属层的厚度为
[0012]根据上述技术方案的一方面,所述第二绝缘层覆盖所述高反射电极的尺寸为4um

12um。
[0013]根据上述技术方案的一方面,所述P型导电电极、N型导电电极分别包含Cr、Au、Pt、Ni、Ti或其它导电金属或与其合金组成的叠层或单层。
[0014]本专利技术的另一方面在于提供一种具有高反射电极结构的LED芯片的制备方法,用于制备上述技术方案当中所述的具有高反射电极结构的LED芯片,所述制备方法包括:
[0015]提供一衬底及外延层;
[0016]对所述在所述外延层上进行蚀刻,以至少部分露出所述N型半导体层而形成N型台面;
[0017]对所述外延层进行清洁,并在所述外延层上沉积第一绝缘层,对所述第一绝缘层进行蚀刻以去除至少部分的第一绝缘层;
[0018]在所述外延层上沉积透明导电层,对所述透明导电层进行蚀刻以去除至少部分的透明导电层;
[0019]在所述透明导电层上沉积第二绝缘层,对所述第二绝缘层进行蚀刻以去除至少部分的第二绝缘层;
[0020]在所述第一绝缘层上沉积高反射金属层,以制作高反射电极;
[0021]在所述第一绝缘层上沉积第二绝缘层,对所述第二绝缘层进行蚀刻以去除至少部分的第二绝缘层,且所述第二绝缘层将所述高反射电极覆盖;
[0022]在所述第二绝缘层上制作P型导电电极与N型导电电极。
[0023]根据上述技术方案的一方面,在制作高反射电极的步骤中:
[0024]用于制作所述高反射电极的高反射金属层由Al、Ag、Mg或其它具有高反射特质的材料制成,所述高反射金属层的厚度为
[0025]根据上述技术方案的一方面,在所述第二绝缘层上制作P型导电电极与N型导电电极的步骤中:
[0026]所述P型导电电极、N型导电电极分别包含Cr、Au、Pt、Ni、Ti或其它导电金属或与其合金组成的叠层或单层。
[0027]与现有技术相比,采用本专利技术所示的具有高反射电极结构的LED芯片及制备方法,有益效果在于:通过将芯片电极分为反射电极(即高反射电极)和导电电极(即P型导电电极与N型导电电极)两部分,通过制作不导电的高反射电极,将传统结构中被导电电极遮住、吸收的光提取出来,大大提升LED的光效。
[0028]本专利技术的附加方面与优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0029]本专利技术的上述与/或附加的方面与优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显与容易理解,其中:
[0030]图1为本专利技术第一实施例中具有高反射电极结构的LED芯片的结构示意图;
[0031]图2为图1中A

A向的剖视图;
[0032]图3为本专利技术第一实施例中N型台面的示意图;
[0033]图4为本专利技术第二实施例中具有高反射电极结构的LED芯片的制备方法的流程示意图。
具体实施方式
[0034]为使本专利技术的目的、特征与优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。附图中给出了本专利技术的若干实施例。但是,本专利技术可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容更加透彻全面。
[0035]需要说明的是,当元件被称为“固设于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“上”、“下”以及类似的表述只是为了说明的目的,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造与操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0036]在本专利技术中,除非另有明确的规定与限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。本文所使本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有高反射电极结构的LED芯片,所述LED芯片包括衬底及外延结构,其特征在于,所述外延结构包括N型半导体层、设于所述N型半导体层之上的多量子阱发光区,以及设于所述多量子阱层之上的P型半导体层;其中,所述P型半导体层上蚀刻形成一至少部分露出所述N型半导体层的N型台面,所述P型半导体层上设有透明导电层,所述透明导电层与所述P型半导体层之间设有电流阻挡层,所述透明导电层上设有第一绝缘层,所述第一导电层上设有高反射电极,所述第一绝缘层上设有第二绝缘层以将所述高反射电极覆盖,所述第二绝缘层上设有P型导电电极与N型导电电极,所述P型导电电极通过第一导电通孔与所述透明导电层接触进而与所述P型半导体层电性连接,所述N型导电电极通过第二导电通孔与所述N型半导体层电性连接,且所述P型导电电极、N型导电电极与所述高反射电极之间保持绝缘。2.根据权利要求1所述的具有高反射电极结构的LED芯片,其特征在于,所述透明导电层由ITO、IZO或其它透明导电材料制成。3.根据权利要求1所述的具有高反射电极结构的LED芯片,其特征在于,第一绝缘层、第二绝缘层分别由SiO2、Al2O3、TiO
X
中的一种或多种不导电材料制成。4.根据权利要求1所述的具有高反射电极结构的LED芯片,其特征在于,用于制作所述高反射电极的高反射金属层由Al、Ag、Mg或其它具有高反射特质的材料制成。5.根据权利要求4所述的具有高反射电极结构的LED芯片,其特征在于,用于制作所述高反射电极的高反射金属层的厚度为6.根据权利要求4所述的具有高反射电极结构的LED芯片,其特征在于,所述第二绝缘层覆盖所述高反射电极的尺寸为4um

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【专利技术属性】
技术研发人员:张星星张亚迟博简弘安胡加辉金从龙
申请(专利权)人:江西兆驰半导体有限公司
类型:发明
国别省市:

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