【技术实现步骤摘要】
一种红黄GaAs系LED芯片制备方法及LED芯片
[0001]本专利技术涉及半导体
,特别涉及一种红黄GaAs系LED芯片制备方法及LED芯片。
技术介绍
[0002]LED镜面制备为红黄GaAs的LED正装反极性垂直结构产品中极为重要的一部工序,其主要目的是通过制备出的镜面达到提升芯片亮度的目的。
[0003]在红黄GaAs系LED芯片MQW(量子阱)出光时,主要应用为正向光。由于GaAs材料有着较高的吸光特性,下方出光会被GaAs吸收,无法反射回正面,因此无镜面层GaAs系芯片出光主要为正向出光。为提高出光效率,减少光吸收,红黄GaAs产品产生了特有的正装反极性产品,其主要特点便是通过置换不同衬底在外延下方加入一组镜面结构,使MQW(量子阱)出光时下方光可以由镜面结构反射回正向,从而达到提高亮度的效果。
[0004]现有技术中,红黄GaAs系LED芯片外延进行置换衬底通过增加镜面与介质层形成ODR(全方向反射镜)结构,从而提升LED芯片的发光亮度,但作为介质层的SiO2不导电,虽然蚀刻出了CB孔作为 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种红黄GaAs系LED芯片制备方法,其特征在于,所述方法包括:提供GaAs衬底;在所述GaAs衬底上生长外延层;在所述外延层上依次生长第一碳掺GaP层以及第二碳掺GaP层,并在所述第二碳掺GaP层上蒸镀AuBe;通过退火使所述AuBe中的Be离子扩散至所述第二碳掺GaP层中,后蚀刻蒸镀的所述AuBe以露出所述第二碳掺GaP层;在所述第二碳掺GaP层生长CB层,并在所述CB层上设置镜面金属层。2.根据权利要求1所述的红黄GaAs系LED芯片制备方法,其特征在于,所述通过退火使所述AuBe中的Be离子扩散至所述第二碳掺GaP层中,后蚀刻蒸镀的所述AuBe以露出所述第二碳掺GaP层的步骤中,所述Be离子比例为15%~20%。3.根据权利要求1所述的红黄GaAs系LED芯片制备方法,其特征在于,所述在所述外延层上依次生长第一碳掺GaP层以及第二碳掺GaP层,并在所述第二碳掺GaP层上蒸镀AuBe的步骤包括:在所述外延层上生长设定掺杂浓度的第一碳掺GaP层,然后以每预设掺杂浓度为一个台阶过渡至设定浓度的过渡GaP层,接着继续生长设定掺杂浓度的第二碳掺GaP层,并在所述第二碳掺GaP层上蒸镀AuBe。4.根据权利要求3所述的红黄GaAs系LED芯片制备方法,其特征在于,所述第一碳掺GaP层的设定掺杂浓度为3e16cm
‑3,所述第二碳掺GaP层的设定浓度为3e17cm
‑3,所述过渡GaP层的设定浓度为3e17cm
‑3,所...
【专利技术属性】
技术研发人员:窦志珍,兰晓雯,杨琦,贾钊,胡加辉,金从龙,顾伟,
申请(专利权)人:江西兆驰半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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