【技术实现步骤摘要】
缺陷特征阈值取得装置、应用其的影像检测系统及方法
[0001]本专利技术有关于一种缺陷特征阈值取得装置、应用其的影像检测系统及方法。
技术介绍
[0002]在迎来4K与8K显示器的时代后，对光学膜或光学膜片的缺陷的检出要求也随之提高。传统的做法是，以人为经验判断而设定出缺陷检验阈值。然而，人为决定阈值的方式是耗时且没效率，须不断地人为试误方能决定出一堪用的阈值。
[0003]因此，如何快速决定一适当阈值，以增加对缺陷的判断准确度以及降低对良品的误判率，成为本
业者努力目标之一。
技术实现思路
[0004]本专利技术是有关于一种缺陷特征阈值取得装置、应用其的影像检测系统及方法，能改善前述习知问题。
[0005]根据本专利技术的一实施例，提出一种缺陷特征阈值取得装置。缺陷特征阈值取得装置包括一分群器及一缺陷特征阈值取得器。分群器用以判断复数个缺陷特征值是否可区分成一第一群组及一第二群组。缺陷特征阈值取得器用以：当此些缺陷特征值可区分成第一群组及第二群组，合成第一群组的此些缺陷特征值与第二群组的此些缺陷特征值为一合成特征曲线；及，取得合成特征曲线的一缺陷特征阈值。
[0006]根据本专利技术的另一实施例，提出一种影像检测系统。影像检测系统包括一缺陷特征阈值取得装置及一影像检测装置。缺陷特征阈值取得装置包括一分群器及一缺陷特征阈值取得器。分群器用以判断复数个缺陷特征值是否可区分成一第一群组及一第二群组。缺陷特征阈值取得器用以：当此些缺陷特征值可区分成第一群组及第二群组，合成第一群...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种缺陷特征阈值取得装置，其特征在于，包括：一分群器，用以：判断复数个缺陷特征值是否可区分成一第一群组及一第二群组；以及一缺陷特征阈值取得器，用以：当该些缺陷特征值可区分成该第一群组及该第二群组，合成该第一群组的该些缺陷特征值与该第二群组的该些缺陷特征值为一合成特征曲线；及取得该合成特征曲线的一缺陷特征阈值。2.如权利要求1所述的缺陷特征阈值取得装置，其特征在于，其中该分群器还用以：取得该些缺陷特征值的一常态分布；取得该常态分布的一第一常态分布群及一第二常态分布群；取得该第一常态分布群的一第一均值、一第一标准差及一第一样本数；取得该第二常态分布群的一第二均值、一第二标准差及一第二样本数；以及取得该第一均值、该第一标准差、该第一样本数、该第二均值、该第二标准差及该第二样本数的一T检验的p值；及判断该p值是否小于一分群预设值；其中，该缺陷特征阈值取得器还用以：当该p值小于该分群预设值，合成该第一群组的该些缺陷特征值与该第二群组的该些缺陷特征值为一合成特征曲线。3.如权利要求1所述的缺陷特征阈值取得装置，其特征在于，其中该缺陷特征阈值为该合成特征曲线的一极小值。4.如权利要求1所述的缺陷特征阈值取得装置，其特征在于，其中该些缺陷特征值属于一缺陷种类；该分群器还用以：当该些缺陷特征值无法区分成该第一群组及该第二群组时，改变该缺陷种类；以及判断改变的该缺陷种类的该些缺陷特征值是否可区分成该第一群组及该第二群组。5.一种影像检测系统，其特征在于，包括：一如权利要求1所述的缺陷特征阈值取得装置，用以：输出该缺陷特征阈值；一影像检测装置，包括：一摄像器，用以撷取一光学膜的一光学膜初始影像；一处理器，用以：分析该光学膜初始影像，取得该光学膜初始影像的复数个检测缺陷点，其中各该检测缺陷点具有一检测特征值；及保留大于该缺陷特征阈值的该些检测特征值所对应的该些检测缺陷点且删除小于该缺陷特征阈值的该些检测特征值所对应的该些检测缺陷点，并据以输出一光学膜输出影像。6.如权利要求5所述的影像检测系统，其特征在于，还包括：一比对装置，用以：比对该光学膜的复数个实际缺陷点与该光学膜输出影像的该些检测缺陷点，决定该影像检测装置的一虚报率及一漏检率。7.如权利要求5所述的影像检测系统，其特征在于，其中该光学膜区分成复数个光学膜片；该影像检测系统还包括：
一比对装置，用以：取得该光学膜中具有复数个实际缺陷点之一者但该光学膜输出影像的对应位置不具有该检测缺陷点的该些光学膜片的一漏检数量；以及依据该漏检数量及该些光学膜片的总数量，取得一漏检率。8.如权利要求5所述的影像检测系统，其特征在于，其中该光学膜区分成复数个光学膜片；该影像检测系统还包括：一比对装置，用以：取得该光学膜中不具有复数个实际缺陷点之一者但该光学膜输出影像的对应位置具有该检测缺陷点的该些光学膜片的一虚报数量；及依据该虚报数量及该些光学膜片的总数量，取得一虚报率...
【专利技术属性】
技术研发人员：李亭庆，林宽宏，吴省贤，陈重宇，徐伟智，
申请(专利权)人：住华科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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