一种表贴晶振频率跳点的优化方法技术

本发明专利技术的一个实施例公开了一种表贴晶振频率跳点的优化方法，包括：S10：将表贴晶振的电极设计为长方形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；S20：将表贴晶振的电极设计为长方形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；S30：将表贴晶振的电极设计为长方形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。缩短了设计周期，优化了表贴晶振频率跳点指标。优化了表贴晶振频率跳点指标。优化了表贴晶振频率跳点指标。

【技术实现步骤摘要】
一种表贴晶振频率跳点的优化方法


[0001]本专利技术涉及一种优化方法。更具体地，涉及一种表贴晶振频率跳点的优化方法。

技术介绍

[0002]传统的表贴晶振通常采用改变晶片宽厚比来优化频率跳点指标，但是改变晶片宽厚比来有时并不能起到优化频率跳点指标的作用。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术的一个实施例提供一种表贴晶振频率跳点的优化方法，包括：
[0004]S10：将表贴晶振的电极设计为长方形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；
[0005]S20：将表贴晶振的电极设计为长方形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；
[0006]S30：将表贴晶振的电极设计为长方形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。
[0007]在一个具体实施例中，所述方法还包括：
[0008]S40：将表贴晶振的电极设计为正方形，测试其工作温度范围内的频率跳点；
[0009]S50：将表贴晶振的电极设计为圆形，测试其工作温度范围内的频率跳点。
[0010]在一个具体实施例中，若以上步骤任意步骤的表贴晶振，其测试出的工作温度范围内的频率跳点小于预设的数值时，则完成优化。
[0011]在一个具体实施例中，选取其工作温度范围内的频率跳点最小的表贴晶振，作为完成优化后的表贴晶振。
[0012]在一个具体实施例中，所述S40包括：
[0013]S41：将表贴晶振的电极设计为正方形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；
[0014]S42：将表贴晶振的电极设计为正方形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；
[0015]S43：将表贴晶振的电极设计为正方形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。
[0016]在一个具体实施例中，所述S50包括：
[0017]S51：将表贴晶振的电极设计为圆形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；
[0018]S52：将表贴晶振的电极设计为圆形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；
[0019]S53：将表贴晶振的电极设计为圆形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。
[0020]在一个具体实施例中，所述长方形大电极的长为所述表贴晶振长的3/4，宽为所述表贴晶振宽的3/4，
[0021]所述长方形中电极的长为所述表贴晶振长的1/2，宽为所述表贴晶振宽的1/2，
[0022]所述长方形小电极的长为所述表贴晶振长的1/4，宽为所述表贴晶振宽的1/4。
[0023]在一个具体实施例中，所述正方形大电极的边长为所述表贴晶振宽的3/4，
[0024]所述正方形中电极的边长为所述表贴晶振宽的1/2，
[0025]所述正方形小电极的边长为所述表贴晶振宽的1/4。
[0026]在一个具体实施例中，所述圆形大电极的直径为所述表贴晶振宽的3/4，
[0027]所述圆形中电极的直径为所述表贴晶振宽的1/2，
[0028]所述圆形小电极的直径为所述表贴晶振宽的1/4。
[0029]本专利技术的有益效果如下：
[0030]本专利技术提出了一种表贴晶振频率跳点的优化方法，并确定了一套针将表贴晶振的电极设计为长方形、正方形和圆形不同形状，并设计大电极、中电极、小电极不同电极尺寸，制作产品并测试其工作温度范围内的频率跳点的分析流程，此分析流程按照先长方形电极，后正方形电极，最后圆形电极的设计方法，缩短了设计周期，优化了表贴晶振频率跳点指标，通过此方法的应用，在设计中优化了表贴晶振的性能指标，具有实际的应用前景。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0032]图1示出石英谐振器的结构示意图；
[0033]图2示出根据本专利技术一个实施例的表贴晶振频率跳点的优化方法的流程示意图。
具体实施方式
[0034]为使本专利技术的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施方式作进一步地详细描述。
[0035]石英晶体是一种各项异性的结晶体，其化学成分是SiO2。从晶体上按一定的方位角切下的薄片称为晶片，然后在晶片的两个对应表面上镀电极，就构成石英谐振器(即石英振子)，结构示意图如图1所示。石英谐振器能够基于它的压电效而在振荡电路中起到稳频的作用。
[0036]随着表贴晶振外形尺寸的减小，由于石英晶体的固有特性，频率跳点受各种耦合振动的影响也会恶化，表贴晶振的频率跳点指标的实现难度大大增加。从而影响表贴晶振的频率温度稳定性指标。传统的表贴晶振通常采用改变晶片宽厚比来优化频率跳点指标，但是改变晶片宽厚比来有时并不能起到优化频率跳点指标的作用。
[0037]为了解决上述问题，本专利技术的一个实施例一种表贴晶振频率跳点的优化方法，包括：
[0038]S10：将表贴晶振的电极设计为长方形大电极，制作产品并测试其工作温度范围内的频率跳点。由于电极尺寸的设计是抑制寄生频率，降低晶体等效电阻的关键设计，电极的面积大小直接影响石英晶体的等效电阻、静态电容和频率牵引率。电极面积大时，石英晶片的等效电阻较小，晶体振荡器容易起振；但是晶片静态电容较大，容易引起寄生振荡，出现
跳频现象。电极面积小时，静态电容较小，有利于抑制寄生，但晶片等效电阻较大，不利于起振。因此，电极尺寸的设计要兼顾等效电阻和寄生振荡这两个相互矛盾的指标，不能太大或太小，所以在一个具体示例中，所述长方形大电极的长为所述表贴晶振长的3/4，宽为所述表贴晶振宽的3/4。
[0039]S20：将表贴晶振的电极设计为长方形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点，由于晶片尺寸有限，所以在一个具体示例中，所述长方形中电极的长为所述表贴晶振长的1/2，宽为所述表贴晶振宽的1/2。
[0040]S30：将表贴晶振的电极设计为长方形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点由于高基频晶振的晶片较薄，更容易产生寄生振荡，因此高基频晶振电极设计时，通常采用较小电极，有利于抑制寄生。所以在一个具体示例中，所述长方形小电极的长为所述表贴晶振长的1/4，宽为所述表贴晶振宽的1/4。
[0041]根据晶体振子振动模式和能陷理论的分析，在保证电参数指标情况下，采取适当减小电极面积，注意晶片的对称性、平行度、同心度等方法都可以很好的抑制谐振器寄生。因此，对于普通表贴晶振，由于其内部石英晶片为长方形晶片，通常采用长方形的电极即可，但如果长方形的电极未达到优化表贴晶振频率跳点的目的，由于正方形电极对称性、同心度较好，通常可以改善表贴晶振频率跳点。
[0042]所以在一个具体实施例中，所述方法还包括S40：将表贴晶振的电极设计为正方形，测试其工作温度范围内的频率跳点；
[0043]S41：将表贴晶振的电极设计为正方形本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种表贴晶振频率跳点的优化方法，其特征在于，包括：S10：将表贴晶振的电极设计为长方形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；S20：将表贴晶振的电极设计为长方形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；S30：将表贴晶振的电极设计为长方形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：S40：将表贴晶振的电极设计为正方形，测试其工作温度范围内的频率跳点；S50：将表贴晶振的电极设计为圆形，测试其工作温度范围内的频率跳点。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，若以上步骤任意步骤的表贴晶振，其测试出的工作温度范围内的频率跳点小于预设的数值时，则完成优化。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，选取其工作温度范围内的频率跳点最小的表贴晶振，作为完成优化后的表贴晶振。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S40包括：S41：将表贴晶振的电极设计为正方形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；S42：将表贴晶振的电极设计为正方形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；S43：将表贴晶振的电极设计为...

【专利技术属性】
技术研发人员：睢建平，高远，王建兵，哈斯图亚，刘小光，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：