【技术实现步骤摘要】
带质量平衡补偿的可变光阑及光刻机
[0001]本专利技术涉及半导体设备制造
,尤其涉及一种带质量平衡补偿的可变光阑及光刻机。
技术介绍
[0002]在光刻机中,为了在扫描曝光过程中限定掩模面照明视场大小及其中心位置,避免成像光束对曝光视场以外的区域曝光,需要利用可变狭缝单元来作为可变光阑100,限定曝光区域,光阑是指在光学系统中对光束起着限制作用的实体,泛指一些用于拦光的零件或组件。可变光阑100上设有可移动的刀片,通过多个刀片来挡光,多个刀片之间形成狭缝窗口,狭缝窗口可供光束通过,窗口之外的部分被刀片遮挡,不能透过光。
[0003]如图1和图2所示,可变光阑100竖直安装固定在步进扫描光刻机顶部照明系统的基准板2上,可变光阑100上设置有能沿X向运动的刀片和能沿Y向运动的刀片,沿X向运动的刀片和沿Y向运动的刀片共同围成狭缝窗口。可变光阑100沿Z向的前方设置有聚光镜组3,后方设置有照明镜组4,聚光镜组3和照明镜组4均安装在基准板2上,光轴方向沿Z向。
[0004]Y向周期性高加速度运动会对可变光阑10 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种带质量平衡补偿的可变光阑,其特征在于,包括:基座(1);X向组件(10),设于所述基座(1)上,所述X向组件(10)包括两个X向刀片(13);Y向组件(20),设于所述基座(1)上且与所述X向组件(10)垂直,所述Y向组件(20)包括两个Y向刀片(23),两个所述Y向刀片(23)与两个所述X向刀片(13)共同围成用于曝光的狭缝窗口;补偿组件(30),设于所述基座(1)上与所述Y向组件(20)相同的一侧,且与所述Y向组件(20)平行设置,所述补偿组件(30)用于向所述基座(1)输出与所述Y向组件(20)输出至所述基座(1)的推力相反的反推力,以对所述Y向组件(20)进行质量平衡补偿。2.根据权利要求1所述的带质量平衡补偿的可变光阑,其特征在于,所述Y向组件(20)包括:Y向滑轨(21),设于所述基座(1)上;两个Y向滑块(22),两个所述Y向滑块(22)沿Y向间隔分布在所述Y向滑轨(21)上,两个所述Y向刀片(23)分别设置在两个所述Y向滑块(22)上;以及Y向驱动装置,与所述Y向滑块(22)连接以驱动所述Y向滑块(22)沿所述Y向移动。3.根据权利要求2所述的带质量平衡补偿的可变光阑,其特征在于,所述补偿组件(30)包括:补偿组件滑轨(31),设于所述基座(1)上,所述补偿组件滑轨(31)与所述Y向滑轨(21)平行设置;补偿组件滑块(32),设于所述补偿组件滑轨(31)上;以及补偿组件驱动装置,与所述补偿组件滑块(32)连接以驱动所述补偿组件滑块(32)沿所述Y向移动。4.根据权利要求3所述的带质量平衡补偿的可变光阑,其特征在于,所述补偿组件滑轨(31)的结构与所述Y向滑轨(21)的结构相同;所述补偿组件滑块(32)与所述Y向滑块(22)的结构相同;所述补偿组件驱动装置的结构与所述Y向驱动装置的结构相同。5.根据权利要求1-4中任意一项所述的带质量平衡补偿的可变光阑,其特征在于,所述补偿组件(30)与所述Y向组件(20)设于所述基座(1)上同一侧,且分别设于两个互相垂直的侧壁上。6.根据权利要求2所述的带质量平衡补偿的可变光阑,其特征在于,所述Y向刀片(23...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄磊,
申请(专利权)人:上海微电子装备集团股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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