半导体设备的测试方法、测试系统技术方案

本发明专利技术公开了半导体设备的测试方法、测试系统，涉及半导体设备测试技术领域。本发明专利技术在测试设备的GUI界面提供的多个测试操作窗口中依次选择待测试的目标设备的名称、选择或者自定义目标设备的至少一个测试指令、为测试指令添加测试参数、将测试指令组合成为对应的测试指令序列，然后根据测试指令序列得到封装指令，可直接通过在GUI界面进行操作来获取测试指令序列，半导体设备接收测试设备发送的封装指令后可完成测试，设备测试无需查找设备文档，也无需输入测试指令，极大的简化了测试过程、降低了测试指令输入错误的可能性。降低了测试指令输入错误的可能性。降低了测试指令输入错误的可能性。

【技术实现步骤摘要】
半导体设备的测试方法、测试系统


[0001]本专利技术涉及半导体设备测试
，尤其涉及半导体设备的测试方法、测试系统。

技术介绍

[0002]半导体设备出厂前均需进行测试，以验证设备各方面的性能是否满足要求。半导体设备的测试一般通过向设备发送测试指令来实现，设备接收到测试指令后便可进行测试。
[0003]目前，测试人员测试半导体设备的流程为：在设备文档中查找需要的测试指令，输入测试指令并发送至设备。由于设备的测试量大，需经常查找设备文档以获得需要的测试指令，并对照设备文档输入测试指令，测试过程繁琐且测试指令容易输错，容易导致测试失败。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例通过提供半导体设备的测试方法、测试系统，解决了现有技术中半导体设备的测试过程繁琐且测试指令容易输错的技术问题。
[0005]一方面，本专利技术实施例提供如下技术方案：一种半导体设备的测试方法，包括：初始化GUI界面，以在所述GUI界面显示多个测试操作窗口；从第一测试操作窗口中，选择待测试的目标设备的名称；从第二测试操作窗口中，选择或者自本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体设备的测试方法，其特征在于，包括：初始化GUI界面，以在所述GUI界面显示多个测试操作窗口；从第一测试操作窗口中，选择待测试的目标设备的名称；从第二测试操作窗口中，选择或者自定义所述目标设备的至少一个测试指令；从第三测试操作窗口中，为所述测试指令添加测试参数，所述测试参数至少包括测试指令的发送时间、测试内容参数；从第四测试操作窗口中，将所述测试指令组合成为对应的测试指令序列；将所述测试指令序列进行封装并形成封装指令；将所述封装指令发送至所述目标设备，驱动所述目标设备完成测试。2.根据权利要求1的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：从第五测试操作窗口中，显示所有的测试数据，所述测试数据包括依次陈列的目标设备的名称、与目标设备对应的测试指令、与目标设备对应的测试参数、与目标设备对应的指令序列；将所述第五测试操作窗口中显示的所有测试数据，以结构数据库的方式进行存储。3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：实时获取所述目标设备反馈的测试数据；对所述测试数据进行解析获取所述目标设备的行为参数和状态参数；在第五测试操作窗口显示所述目标设备的行为参数和状态参数。4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，将所述封装指令发送至所述目标设备，驱动所述目标设备完成测试，具体包括：调用与目标设备对应的串口指令，以Socket(TCP)方式将所述封装指令发送至所述目标设备，驱动所述目标设备完成测试。5.一种半导体设备的测试方法，其特征在于，包括：接收测...

【专利技术属性】
技术研发人员：阮正华，孙文彬，缪月陈圆，
申请(专利权)人：无锡邑文电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：