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本发明公开了半导体设备的测试方法、测试系统，涉及半导体设备测试技术领域。本发明在测试设备的GUI界面提供的多个测试操作窗口中依次选择待测试的目标设备的名称、选择或者自定义目标设备的至少一个测试指令、为测试指令添加测试参数、将测试指令组合成为...
该专利属于无锡邑文电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡邑文电子科技有限公司授权不得商用。

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