一种X线探测器用TFT面板测试系统及方法技术方案

本申请涉及一种X线探测器用TFT面板测试系统及方法，涉及TFT面板测试技术领域，其包括，面板供电模块，用于为待检测TFT面板提供检测电信号；控制模块，电连接于面板供电模块，向面板供电模块输出供电信号，面板供电模块接收到供电信号后，响应出检测电信号，待检测TFT面板接收并响应检测电信号，向控制模块发出图像信号；X线发生模块，设置在待检测TFT面板上方，控制连接于控制模块，向待检测TFT面板发出X射线；显示模块，电连接于控制模块，接收并响应图像信号，用于读取并显示检测图像。本申请具有便于对X射线探测器用途的TFT面板进行完整测试的效果。试的效果。试的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种X线探测器用TFT面板测试系统及方法


[0001]本申请涉及TFT面板测试
，尤其是涉及一种X线探测器用TFT面板测试系统及方法。

技术介绍

[0002]目前，普通的TFT（Thin Film Transistor即薄膜场效应晶体管）面板测试通常由TFT面板生产厂家使用专业的测试设备来进行测试，但是对于X射线传感器上所用的TFT，目前常规的测试方法是将X射线传感器所用的TFT面板覆盖闪烁晶体，如耦合GOS或者CsI等晶体材料，然后进行绑定IC，通过连接电路读出信号，来判断带有闪烁晶体的TFT是否存在缺陷。
[0003]针对上述中的相关技术，专利技术人认为，现有测试设备无法直接测试出X射线相关TFT经过后端处理如耦合或者生长闪烁晶体的性能。即使能够在完成品取得较为精确地图像，也需要消耗大量的人力物力，造成资源浪费。这种现象在业界已经普遍存在，严重影响了X射线探测器用途的TFT面板再次深加工的生产进度，减缓了行业发展的步伐。

技术实现思路

[0004]为了便于对X射线探测器用途的TFT面板进行完整的测试，本申请提供一种X线探测器用TFT面板测试系统及方法。
[0005]第一方面，本申请提供的一种X线探测器用TFT面板测试系统采用如下的技术方案：一种X线探测器用TFT面板测试系统，包括，面板供电模块，用于为待检测TFT面板提供检测电信号；控制模块，电连接于所述面板供电模块，向所述面板供电模块输出供电信号，所述面板供电模块接收到所述供电信号后，响应出所述检测电信号，待检测TFT面板接收并响应所述检测电信号，向所述控制模块发出图像信号；X线发生模块，设置在待检测TFT面板上方，控制连接于所述控制模块，向待检测TFT面板发出X射线；显示模块，电连接于所述控制模块，接收并响应所述图像信号，用于读取并显示检测图像。
[0006]通过采用上述技术方案，为达到无损测试X线探测器用TFT面板以及测试覆盖闪烁晶体后TFT面板的图像，现有的方式无法同时兼顾，且测试图像不准确，测试所需的步骤复杂，且非常耗人力物力。专利技术人在使用测试设备对TFT面板及覆盖闪烁晶体TFT面板进行测试时发现：由于TFT面板测试需要在一个不透光的环境下进行，且闪烁晶体在X射线的情况下能够发光。所以根据这个思路，在测试待检测TFT面板的时候给通过X线发生模块给到待检测TFT面板X射线，并通过面板供电模块给到待检测TFT面板检测电信号，最后通过控制模块读取待检测TFT面板的图像信号。这样就可以测试到TFT面板的完整性同时也能够测试到
TFT面板所覆闪烁晶体的完整性，从而极为便捷的对X射线探测器用途的TFT面板进行完整的测试。
[0007]可选的，所述面板供电模块配置为点灯机，所述点灯机固定设置在待检测TFT面板的上方，且电连接于所述控制模块，接收并响应所述供电信号；所述点灯机上设置有与待检测TFT面板相适配的输出管脚，在对待检测TFT面板进行供电时，所述输出管脚与待检测TFT面板上的输入管脚相抵接。
[0008]通过采用上述技术方案，点灯机通过输出管脚对待检测TFT面板进行供电并输出检测电信号。
[0009]可选的，还包括用于移动待检测TFT面板的移件模块，所述移件模块位于所述面板供电模块下方，包括滑动组件与抬升组件，所述抬升组件固定设置在所述滑动组件上，所述抬升组件上设置有用于放置待测TFT面板的工作台，所述工作台在所述滑动组件以及所述抬升组件的作用进行平移与升降。
[0010]通过采用上述技术方案，移件模块可对待检测TFT进行平移和升降，需要在对待检测TFT面板进行检测时，只需将TFT面板放置在工作台上，并通过滑动组件将待检测TFT面板移动至面板供电模块下方，再通过抬升组件将待检测TFT面板抬升至面板供电模块处，使面板供电模块可对待检测TFT进行供电，从而提高测试过程的便捷性。
[0011]可选的，所述工作台上设置有用于对待检测TFT面板进行定位的定位件。
[0012]通过采用上述技术方案，定位件便于在将待检测TFT面板放置在工作台上时对面板进行精准定位，从而有利于保证面板供电模块进行精准供电。
[0013]可选的，所述工作台上设置有用于对待检测TFT面板进行固定的吸附件。
[0014]通过采用上述技术方案，吸附件有利于提高待检测TFT面板在移件模块上移动时的稳定性，从而有利于保证系统的稳定运行。
[0015]可选的，还包括图像检测模块，所述图像检测模块配置为视觉相机，所述视觉相机设置在待检测TFT面板上方且电连接于所述控制模块，用于采集待检测TFT面板的编号信息。
[0016]通过采用上述技术方案，视觉相机在检测之前对带检测TFT面板的编号信息进行自动提取，便于对TFT面板的检测信息进行精准标记，从而使得检测系统可进行多面板的连续化检测。
[0017]可选的，还包括自动曝光模块，所述自动曝光模块设置在靠近所述X线发生模块位置处且电连接于所述控制模块，用于感应所述X线发生模块发出的X射线，并在感应到X射线时输出读取指令信号，所述控制模块接收并响应所述读取信号，对所述图像信号进行读取。
[0018]通过采用上述技术方案，由于闪烁晶体的特性是遇到射线会进行微观分子级别的跃迁，在跃迁的过程大约只会持续几微秒，约等于射线发生的时长，并伴随发出微弱的光，这个微弱的光只有几勒克斯，故采用自动曝光模块有利于及时对待测试TFT面板的图像信号进行自动获取，进而提高测试的自动化程度与准确性。
[0019]可选的，所述X线发生模块包括升降组件与X射线球管，所述X线发生模块提高所述升降组件滑动设置在待检测TFT面板上方。
[0020]通过采用上述技术方案，升降组件可对X射线球管位置进行调节，从而提高测试系统的适用性。
[0021]第二方面，本申请提供一种X线探测器用TFT面板测试方法，采用如下技术方案：一种X线探测器用TFT面板测试方法，包括，于隔离射线房间建立如上述技术中所述的一种X线探测器用TFT面板测试系统；将待检测TFT面板置于所述工作台上，并启动所述吸附件自动吸附待检测TFT面板；所述工作台在所述滑动组件的作用下前进至所述图像检测模块下方并读取待检测TFT面板的编号信息；所述滑动组件移动待检测TFT面板至面板供电系统下方，并在所述抬升组件的作用下抬升所述工作台，使所述输出管脚与待检测TFT面板的输入管脚相抵触并对待检测TFT面板进行供电；控制所述X线发生模块发出X射线，并收集待检测TFT面板输出的图像信号，判断待检测TFT面板是否完整。
[0022]通过采用上述技术方案，过去的闪烁晶体测试只能在TFT面板生产流程结束才能进行测试，而本申请所提出的方法却可以在生产的过程中、闪烁晶体覆于TFT面板表面完成之后就可以进行测试，对于生产所发生的问题以及生产工艺的存在的问题及时调整提供了有力数据参考，极大地减少测试所需步骤流程，极大减少了人力成本，提高了生产效率。
[0023]可选的，所述控制所述X线发生模块发出X射线，并收集待检测TFT本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X线探测器用TFT面板测试系统，其特征在于：包括，面板供电模块(2)，用于为待检测TFT面板提供检测电信号；控制模块(5)，电连接于所述面板供电模块(2)，向所述面板供电模块(2)输出供电信号，所述面板供电模块(2)接收到所述供电信号后，响应出所述检测电信号，待检测TFT面板接收并响应所述检测电信号，向所述控制模块(5)发出图像信号；X线发生模块(3)，设置在待检测TFT面板上方，控制连接于所述控制模块(5)，向待检测TFT面板发出X射线；显示模块(6)，电连接于所述控制模块(5)，接收并响应所述图像信号，用于读取并显示检测图像。2.根据权利要求1所述的一种X线探测器用TFT面板测试系统，其特征在于：所述面板供电模块(2)配置为点灯机，所述点灯机固定设置在待检测TFT面板的上方，且电连接于所述控制模块(5)，接收并响应所述供电信号；所述点灯机上设置有与待检测TFT面板相适配的输出管脚，在对待检测TFT面板进行供电时，所述输出管脚与待检测TFT面板上的输入管脚相抵接。3.根据权利要求1所述的一种X线探测器用TFT面板测试系统，其特征在于：还包括用于移动待检测TFT面板的移件模块(4)，所述移件模块(4)位于所述面板供电模块(2)下方，包括滑动组件(41)与抬升组件(42)，所述抬升组件(42)固定设置在所述滑动组件(41)上，所述抬升组件(42)上设置有用于放置待测TFT面板的工作台，所述工作台在所述滑动组件(41)以及所述抬升组件(42)的作用进行平移与升降。4.根据权利要求3所述的一种X线探测器用TFT面板测试系统，其特征在于：所述工作台上设置有用于对待检测TFT面板进行定位的定位件。5.根据权利要求3所述的一种X线探测器用TFT面板测试系统，其特征在于：所述工作台上设置有用于对待检测TFT面板进行固定的吸附件。6.根据权利要求1所述的一种X线探测器用TFT面板测试系统，其特征在于：还包括图像检测模块(1)，所述图像检测模块(1)配置为视...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘金铭，焦启刚，蒲燕，
申请(专利权)人：上海烁泰科技有限公司，
类型：发明
国别省市：