一种针脚缺陷检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种针脚缺陷检测装置，包括视觉检测设备、相对设置的第一光源和第二光源，第一光源和第二光源之间放置具有针脚的待检测物品；第一光源包括第一发光元件和第一光学元件，第一光学元件用于将第一发光元件的出光整形为第一线条状光，并照射针脚以形成第一高亮轮廓线；第二光源包括第二发光元件和第二光学元件，第二光学元件用于将第二发光元件的出光整形为第二线条状光，并照射针脚以形成第二高亮轮廓线；第一高亮轮廓线和第二高亮轮廓线组成轮廓线图形；视觉检测设备用于获取轮廓线图形，并根据轮廓线图形的形状与预设形状的比较结果，判断针脚的缺陷类型。本实用新型专利技术检测过程更加简单，实现难度更低，综合检测成本更低。本更低。本更低。

【技术实现步骤摘要】
一种针脚缺陷检测装置


[0001]本技术属于针脚缺陷检测
，尤其涉及一种针脚缺陷检测装置。

技术介绍

[0002]随着社会的发展，对电子设备的需求不断的增加，由此而衍生出对快速、高效的生产集成电路的要求。在快速生产集成电路的过程中非常容易因为某些外在的因素而导致元器件的针脚倾斜，若集成电路板上的针脚存在这种缺陷，将会导致产品不能使用或者影响使用寿命，因此，在集成电路的生产过程中，对元器件针脚的倾斜缺陷检测显得尤为必要。
[0003]目前企业在进行电路板元器件的针脚倾斜缺陷检测主要采用人工目测方式，该方式不仅存在劳动强度大、效率低的问题，而且工作人员在长时间高强度的工作中极容易出现疏漏，从而影响针脚倾斜缺陷检测的最终结果。目前也有一些基于机器视觉的针脚倾斜缺陷检测方法，但其图像处理和计算过程比较复杂，导致实现难度较大、综合检测成本较高，不利于推广使用。

技术实现思路

[0004]本技术提供了一种针脚缺陷检测装置，可以解决或者至少部分解决上述技术问题。
[0005]为此，本技术采用以下技术方案：
[0006]一种针脚缺陷检测装置，包括视觉检测设备、相对设置的第一光源和第二光源，所述第一光源和所述第二光源之间放置具有针脚的待检测物品；
[0007]所述第一光源包括第一发光元件和第一光学元件，所述第一光学元件用于将所述第一发光元件的出光整形为第一线条状光，并照射所述针脚以形成第一高亮轮廓线；
[0008]所述第二光源包括第二发光元件和第二光学元件，所述第二光学元件用于将所述第二发光元件的出光整形为第二线条状光，并照射所述针脚以形成第二高亮轮廓线；所述第一高亮轮廓线和所述第二高亮轮廓线组成轮廓线图形；
[0009]所述视觉检测设备用于获取所述轮廓线图形，并根据所述轮廓线图形的形状与预设形状的比较结果，判断所述针脚的缺陷类型。
[0010]可选地，所述第一光学元件和所述第二光学元件均为环形透镜。
[0011]可选地，所述环形透镜的宽度大于所述针脚分布的宽度。
[0012]可选地，所述第一发光元件和所述第二发光元件均为LED灯。
[0013]可选地，所述视觉检测设备包括用于获取所述轮廓线图形的CCD或CMOS相机。
[0014]可选地，所述第一线条状光和所述第二线条状光平行并且重合，所述第一线条状光和所述第二线条状光同时或者依次照射所述针脚。
[0015]可选地，所述第一线条状光和所述第二线条状光平行但不重合，所述第一线条状光和所述第二线条状光依次照射所述针脚。
[0016]与现有技术相比，本技术实施例具有以下有益效果：
[0017]本技术实施例提供的一种针脚缺陷检测装置，通过第一光学元件将第一发光元件的出光整形为第一线条状光，并照射针脚的一侧以形成第一高亮轮廓线，通过第二光学元件将第二发光元件的出光整形为第二线条状光，并照射针脚的另一侧以形成第二高亮轮廓线，第一高亮轮廓线和第二高亮轮廓线组成轮廓线图形。由于针脚的形状是固定地，例如为圆柱形，因此轮廓线图形的形状应当为圆形。如果轮廓线图形的形状为椭圆形，则判断针脚的缺陷为倾斜；如果轮廓线图形的形状为不规则，如轮廓线有尖角，则判断针脚的缺陷为扭曲；如果没有检测到轮廓线图形，也即是无法获取轮廓线图形，则判断针脚的缺陷为缺失。
[0018]本技术实施例提供的一种针脚缺陷检测装置，检测过程更加简单，实现难度更低，综合检测成本更低，有利于推广使用。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0020]本说明书所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本技术所揭示的
技术实现思路
所能涵盖的范围内。
[0021]图1为本技术实施例提供的一种针脚缺陷检测装置的俯视示意图；
[0022]图2为本技术实施例提供的一种针脚缺陷检测装置的仰视示意图。
[0023]图示说明：
[0024]10、物品；11、针脚；20、第一光源；21、第一发光元件；22、第一光学元件；30、第二光源；31、第二发光元件；32、第二光学元件；41、第一线条状光；42、第二线条状光。
具体实施方式
[0025]为使得本技术的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]请参阅图1和图2所示，本实施例提供了一种针脚缺陷检测装置，包括视觉检测设备(图中未示出)、相对设置的第一光源20和第二光源30，第一光源20和第二光源30之间放置具有针脚11的待检测物品10。
[0027]本实施例的检测原理为：由第一光源20照射针脚11的一侧和第二光源30照射针脚11的另一侧，在针脚11处形成轮廓，通过检测该轮廓的形状，以判断针脚11的缺陷类型。
[0028]具体地，第一光源20包括第一发光元件21和第一光学元件22，第一光学元件22用
于将第一发光元件21的出光整形为第一线条状光41，并照射针脚11以形成第一高亮轮廓线。
[0029]例如，第一发光元件21为LED灯，第一光学元件22为环形透镜。通过环形透镜，可以将LED灯射出的朗伯体光整形为大范围的线条状光，即第一线条状光41。正常情况下，该第一线条状光41所在平面垂直于针脚11的长度方向。
[0030]同理，第二光源30包括第二发光元件31和第二光学元件32，第二光学元件32用于将第二发光元件31的出光整形为第二线条状光42，并照射针脚11以形成第二高亮轮廓线。
[0031]例如，第二发光元件31为LED灯，第二光学元件32为环形透镜。通过环形透镜，可以将LED灯射出的朗伯体光整形为大范围的线条状光，即第二线条状光42。正常情况下，该第二线条状光42所在平面垂直于针脚11的长度方向。
[0032]应当理解，上述的“高亮”一词，表示由于光的照射而亮度较高，从而能够被视觉检测设备识别。
[0033]第一线条状光41和第二线条状光42可以设置为平行并且重合，即共平面，也可以设置为平行但不重合，即不共平面；第一高亮轮廓线和第二高亮轮廓线可以组成完整的轮廓线图形。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种针脚缺陷检测装置，其特征在于，包括视觉检测设备、相对设置的第一光源(20)和第二光源(30)，所述第一光源(20)和所述第二光源(30)之间放置具有针脚(11)的待检测物品(10)；所述第一光源(20)包括第一发光元件(21)和第一光学元件(22)，所述第一光学元件(22)用于将所述第一发光元件(21)的出光整形为第一线条状光(41)，并照射所述针脚(11)以形成第一高亮轮廓线；所述第二光源(30)包括第二发光元件(31)和第二光学元件(32)，所述第二光学元件(32)用于将所述第二发光元件(31)的出光整形为第二线条状光(42)，并照射所述针脚(11)以形成第二高亮轮廓线；所述第一高亮轮廓线和所述第二高亮轮廓线组成轮廓线图形；所述视觉检测设备用于获取所述轮廓线图形，并根据所述轮廓线图形的形状与预设形状的比较结果，判断所述针脚(11)的缺陷类型。2.根据权利要求1所述的针脚缺陷检测装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：周杰，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：