一种用于自动测试设备数据聚合的方法、系统及存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种用于自动测试设备数据聚合的方法、系统及存储介质，方法包括：获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态；当根据所述测试状态确定被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。通过实施本发明专利技术，通过获取自动测试设备一组测试站点的测试状态，在被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。由此，在该测试状态下进行测试数据的转移，不会影响自动测试设备的测试速度；同时，通过将测试数据进行转移也可以避免内存溢出的问题。出的问题。出的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种用于自动测试设备数据聚合的方法、系统及存储介质


[0001]本专利技术涉及自动测试设备
，具体涉及一种用于自动测试设备数据聚合的方法、系统及存储介质。

技术介绍

[0002]自动测试设备在对被测设备进行测试时，通过自动测试设备上的测试站点连接被测设备向被测设备注入电刺激进行测试。在测试时，通常会设置多个测试站点进行连续测试。多个测试站点的连续测试由工作站驱动，使得被测设备(Device Under Test，DUT)从一个测试站点转移到另一个测试站点。每个测试站点在对被测设备进行测试时，是根据给定参数集测试DUT。
[0003]在测试过程中，自动测试设备将测试数据从测试站点发送到工作站。工作站将测试数据存储在缓存存储器或内存(易失性存储器)中，并最终将测试数据写入硬盘(永久存储器)。由于自动测试设备测试的连续性，在进行测试时工作站会不断接收到测试数据，测试数据会先存储在缓存存储器中，但是如果在测试期间将测试数据转移到硬盘中，会降低服务器性能，延长测试时间。测试后卸载非常耗时，并导致工作站暂时无法用于进一步的DUT测试。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于自动测试设备数据聚合的方法，其特征在于，包括：获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态；当根据所述测试状态确定被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘。2.根据权利要求1所述的用于自动测试设备数据聚合的方法，其特征在于，当根据所述测试状态确定被测设备队列暂停或给定被测设备退出测试站点时，将测试数据从缓存存储器转移至内存，再将内存中的测试数据转移至硬盘，包括：当自动测试设备的任一测试站点重新测试任一被测设备时，将测试数据从缓存存储器转移至内存中；当给定被测设备退出测试站点时，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中。3.根据权利要求2所述的用于自动测试设备数据聚合的方法，其特征在于，当给定被测设备退出测试站点时，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中，包括：当一组测试站点的任一非退出测试站点处，给定被测设备测试结果不符合测试要求，给定被测设备之后的被测设备在所述非退出测试站点的测试结果符合测试要求，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中；当一组测试站点的退出测试站点处，给定被测设备在所述退出测试站点完成测试后，检测到另一个待测试的被测设备时，将缓存存储器中的测试数据转移至硬盘中或者将内存中的测试数据转移至硬盘中。4.根据权利要求1所述的用于自动测试设备数据聚合的方法，其特征在于，在获取自动测试设备中一组测试站点的测试状态之前，还包括：将测试参数平均划分到一组测试站点的每个测试站点上；当沿...

【专利技术属性】
技术研发人员：梅倖珲，李志浩，
申请(专利权)人：马来西亚明试国际有限公司，
类型：发明
国别省市：