自动测试设备的数字引脚校准方法、系统及自动测试设备技术方案

本发明专利技术提供了自动测试设备的数字引脚校准方法、系统及自动测试设备，通过将每个数字引脚短接至时间校准套件，并将每个数字引脚的数字驱动信号驱动至时间校准套件；基于预设时间输出延迟，测量每个数字引脚对应数字信号的时域反射信号；按照采样电压对时域反射信号进行电压采样，确定每个采样电压对应的采样时刻；判断当前数字引脚的相邻两个采样电压对应的采样时刻间的第一采样时长是否相同；在相同时，基于预设时间输出延迟确定当前数字引脚的校准时间输出延迟。通过比较采样时刻距离工作电压中间带采样时刻的时长来对当前数字引脚进行校准，并且每个数字引脚仅需两次迭代即可实现校准，过程简便快速，提高了自动测试设备数字引脚校准效率。数字引脚校准效率。数字引脚校准效率。

【技术实现步骤摘要】
自动测试设备的数字引脚校准方法、系统及自动测试设备


[0001]本专利技术涉及检测
，具体涉及自动测试设备的数字引脚校准方法、系统及自动测试设备。

技术介绍

[0002]对于利用集成电路构建的自动测试设备(简称ATE)，在其用于被测设备之前，如果由于集成电路设计的差异使得导线从引脚到求和点的距离不同，则数字信号会出现输出偏斜的情况，而这种集成电路中的差异会阻止自动测试设备的信号在相同的时间戳内到达被测设备(简称DUT)，从而无法进行设备测试。因此，需要对自动测试设备中数字引脚的输出偏斜进行校准。
[0003]在相关技术中，对数字引脚输出偏斜的校准方式一是通过使用机械探头执行偏斜测量和校准，然而，由于自动测试设备往往具有成百上千个引脚，如果一一进行校准，非常耗时且机械探头昂贵。另一种方式是通过组合反射信号生成用于分析的残余信号、从观察到的时间延迟生成线性方程、将调制的载波频率注入电路进行频率分析来执行偏斜测量和校准，其需要测量集成电路中各种类型的多个前向
‑
后向反射，还需要与模拟延迟模型进行比较，校准方法实施过程复杂效率低下。
[0004]因此，如何简便快速对由集成电路中的差异引起的偏斜进行精确的校准成为亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本专利技术实施例提供了自动测试设备的数字引脚校准方法、系统及自动测试设备，解决现有技术中对数字引脚输出偏斜进行校准方式，实施复杂、工作效率低的问题。
[0006]根据第一方面，本专利技术实施例提供了一种自动测试设备的数字引脚校准方法，所述自动测试设备包括具有若干数字引脚的集成电路，所述方法包括：
[0007]将每个数字引脚短接至时间校准套件，并将每个数字引脚的数字驱动信号驱动至时间校准套件；
[0008]基于所述时间校准套件的预设时间输出延迟，测量每个数字引脚对应数字信号的时域反射信号；
[0009]按照采样电压对所述时域反射信号进行电压采样，确定每个采样电压对应的采样时刻，所述采样电压包括：第一采样电压、第二采样电压和第三采样电压构成的等差数列，其中，所述第二采样电压为所述自动测试设备的工作电压的二分之一；
[0010]判断当前数字引脚的相邻两个采样电压对应的采样时刻间的第一采样时长是否相同；
[0011]在当前数字引脚的相邻两个采样电压对应的采样时刻间的第一采样时长相同时，基于所述预设时间输出延迟确定所述当前数字引脚的校准时间输出延迟。
[0012]可选地，在当前数字引脚的相邻两个采样电压对应的采样时刻间的第一采样时长不相同时，所述方法还包括：
[0013]获取所述当前数字引脚在断开时的第一时域反射时间以及每个数字引脚对应的第一采样电压与第三采样电压间的第二采样时长；
[0014]对所述第二采样时长进行排序，确定时长最短的第三采样时长；
[0015]基于所述第三采样时长、所述预设时间输出延迟、所述第一时域反射时间以及所述自动测试设备允许的最大时域反射时间，对所述预设时间输出延迟进行更新，并基于更新后的预设时间输出延迟，重新测量所述当前数字引脚对应数字信号的时域反射信号。
[0016]可选地，所述基于所述第三采样时长、所述预设时间输出延迟、所述第一时域反射时间以及所述自动测试设备允许的最大时域反射时间，对所述预设时间输出延迟进行更新，包括：
[0017]按照如下公式对所述预设时间输出延迟进行更新：
[0018]T＝T0+T1
‑
T2
‑
T3，
[0019]其中，T表示更新后的预设时间输出延迟，T0表示更新前的预设时间输出延迟，T1表示所述自动测试设备允许的最大时域反射时间，T2表示所述第三采样时长，T3表示所述第一时域反射时间。
[0020]可选地，所述方法还包括：
[0021]将所述校准时间输出延迟存入所述自动测试设备的闪存，以使所述自动测试设备按照所述校准时间输出延迟对所述当前数字引脚进行校准。
[0022]可选地，所述预设时间输出延迟的初始值为0。
[0023]根据第二方面，本专利技术实施例提供了一种自动测试设备的数字引脚校准系统，所述自动测试设备包括具有若干数字引脚的集成电路，所述系统包括：
[0024]第一处理模块，用于将每个数字引脚短接至时间校准套件，并将每个数字引脚的数字驱动信号驱动至时间校准套件；
[0025]第二处理模块，用于基于所述时间校准套件的预设时间输出延迟，测量每个数字引脚对应数字信号的时域反射信号；
[0026]第三处理模块，用于按照采样电压对所述时域反射信号进行电压采样，确定每个采样电压对应的采样时刻，所述采样电压包括：第一采样电压、第二采样电压和第三采样电压构成的等差数列，其中，所述第二采样电压为所述自动测试设备的工作电压的二分之一；
[0027]第四处理模块，用于判断当前数字引脚的相邻两个采样电压对应的采样时刻间的第一采样时长是否相同；
[0028]第五处理模块，用于在当前数字引脚的相邻两个采样电压对应的采样时刻间的第一采样时长相同时，基于所述预设时间输出延迟确定所述当前数字引脚的校准时间输出延迟。
[0029]可选地，所述系统还包括：
[0030]第六处理模块，用于在当前数字引脚的相邻两个采样电压对应的采样时刻间的第一采样时长不相同时，获取所述当前数字引脚在断开时的第一时域反射时间以及每个数字引脚对应的第一采样电压与第三采样电压间的第二采样时长；
[0031]第七处理模块，用于对所述第二采样时长进行排序，确定时长最短的第三采样时
长；
[0032]第八处理模块，用于基于所述第三采样时长、所述预设时间输出延迟、所述第一时域反射时间以及所述自动测试设备允许的最大时域反射时间，对所述预设时间输出延迟进行更新，并触发所述第二处理模块基于更新后的预设时间输出延迟，重新测量所述当前数字引脚对应数字信号的时域反射信号。
[0033]可选地，所述系统还包括：
[0034]第九处理模块，用于将所述校准时间输出延迟存入所述自动测试设备的闪存，以使所述自动测试设备按照所述校准时间输出延迟对所述当前数字引脚进行校准。
[0035]根据第三方面，本专利技术实施例提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令被处理器执行时实现本专利技术第一方面及其任意一种可选方式所述的方法。
[0036]根据第四方面，本专利技术实施例提供了一种电子设备，包括：时间校准套件；具有若干数字引脚的集成电路；以及存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行本专利技术第一方面及其任意一种可选方式所述的方法。
[0037]本专利技术技术方案，具有如下优点：
[0038]本专利技术实施例提供了一种自动测试设备的数字引脚校准方法、系统及自动测试设备，通过将每个数字引脚本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动测试设备的数字引脚校准方法，所述自动测试设备包括具有若干数字引脚的集成电路，其特征在于，所述方法包括：将每个数字引脚短接至时间校准套件，并将每个数字引脚的数字驱动信号驱动至时间校准套件；基于所述时间校准套件的预设时间输出延迟，测量每个数字引脚对应数字信号的时域反射信号；按照采样电压对所述时域反射信号进行电压采样，确定每个采样电压对应的采样时刻，所述采样电压包括：第一采样电压、第二采样电压和第三采样电压构成的等差数列，其中，所述第二采样电压为所述自动测试设备的工作电压的二分之一；判断当前数字引脚的相邻两个采样电压对应的采样时刻间的第一采样时长是否相同；在当前数字引脚的相邻两个采样电压对应的采样时刻间的第一采样时长相同时，基于所述预设时间输出延迟确定所述当前数字引脚的校准时间输出延迟。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在当前数字引脚的相邻两个采样电压对应的采样时刻间的第一采样时长不相同时，所述方法还包括：获取所述当前数字引脚在断开时的第一时域反射时间以及每个数字引脚对应的第一采样电压与第三采样电压间的第二采样时长；对所述第二采样时长进行排序，确定时长最短的第三采样时长；基于所述第三采样时长、所述预设时间输出延迟、所述第一时域反射时间以及所述自动测试设备允许的最大时域反射时间，对所述预设时间输出延迟进行更新，并基于更新后的预设时间输出延迟，重新测量所述当前数字引脚对应数字信号的时域反射信号。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第三采样时长、所述预设时间输出延迟、所述第一时域反射时间以及所述自动测试设备允许的最大时域反射时间，对所述预设时间输出延迟进行更新，包括：按照如下公式对所述预设时间输出延迟进行更新：T＝T0+T1
‑
T2
‑
T3，其中，T表示更新后的预设时间输出延迟，T0表示更新前的预设时间输出延迟，T1表示所述自动测试设备允许的最大时域反射时间，T2表示所述第三采样时长，T3表示所述第一时域反射时间。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：将所述校准时间输出延迟存入所述自动测试设备的闪存，以使所述自动测试设备按照所述校准时间输出延迟对所述当前数字引脚进行校准。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设时间输出延迟的初始值为0。6.一种自动测试设备的数字引脚校准系统，所述自...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶赐正，
申请(专利权)人：马来西亚明试国际有限公司，
类型：发明
国别省市：