一种开关选择模块测试装置制造方法及图纸

技术编号:33297079 阅读:38 留言:0更新日期:2022-05-06 12:01
本实用新型专利技术公开了一种开关选择模块测试装置,包括上位机,上位机一端设有与之连接的测试工装,测试工装远离上位机的另一端设有与之连接的开关选择模块。本实用新型专利技术的有益效果:由上位机发送控制命令到测试底板的单片机内,单片机通过CAN总线将控制命令上传到FPGA,FPGA将控制命令解析为每个开关模块的控制电平,实现多个开关模块的通道切换。实现多个开关模块的通道切换。实现多个开关模块的通道切换。

【技术实现步骤摘要】
一种开关选择模块测试装置


[0001]本技术涉及开关选择模块测试
,具体为一种开关选择模块测试装置。

技术介绍

[0002]开关选择模块由六个开关模块和一个电源控制板组成,每个开关模块有五个开关通道,常规测试方法由人工单独对每个开关模块的每路开关通道进行测试,开关通道通过三路控制信号进行切换,控制信号由人工手动切换到VCC(电源)或GND(地)信号进行高低电平控制,该方法效率低、人工操作切换电平控制错误率高。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种开关选择模块测试装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种开关选择模块测试装置,包括上位机,所述上位机一端设有与之连接的测试工装,所述测试工装远离所述上位机的另一端设有与之连接的开关选择模块。
[0005]优选的,所述上位机一端通过多个串口与所述测试工装连接。
[0006]优选的,所述测试工装内设有第一单片机。
[0007]优选的,所述开关选择模块内分别设有第二单片机、FPGA与多个开关本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种开关选择模块测试装置,包括上位机(1),其特征在于:所述上位机(1)一端设有与之连接的测试工装(2),所述测试工装(2)远离所述上位机(1)的另一端设有与之连接的开关选择模块(3),所述上位机(1)一端通过多个串口与所述测试工装(2)连接,所述测试工装(2)内设有第一单片机(4),所述开关选择模块(3)内分别设有第二单片机...

【专利技术属性】
技术研发人员:王威
申请(专利权)人:成都嘉泰华力科技有限责任公司
类型:新型
国别省市:

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