存储器测试系统技术方案

本申请涉及一种存储器测试系统，其中，主控器件用于对接收到的模式控制指令进行解析，获得引脚工作模式，并在引脚工作模式为直流参数测试模式时，将预设信号参数发送给电子引脚总阵列中包括的多个第一目标电子引脚，针对多个第一目标电子引脚中的每个第一目标电子引脚，第一目标电子引脚又用于按照预设信号参数自动生成测试信号，将测试信号施加到被测存储器上与第一目标电子引脚对应连接的目标存储器引脚，并接收目标存储器引脚输出的测试反馈信号，将测试反馈信号发送给时序发生组件，时序发生组件则接收多个第一目标电子引脚发送的多条测试反馈信号，用于获得引脚直流参数测试结果，能够保证被测存储器的引脚直流参数测试效率。试效率。试效率。

【技术实现步骤摘要】
存储器测试系统


[0001]本申请涉及存储器的设计与制造领域，具体而言，涉及一种存储器测试系统。

技术介绍

[0002]存储器的制造工艺复杂、工序繁多，因此，在存储器的制造过程中可能会导致存储器产生诸多缺陷，例如，导致存储器中某些引脚直流参数出错。当然，也有部分存储器在使用初期时性能正常，但是，经过一段时间的使用之后，缺陷被激发，而导致存储器中某些引脚直流参数出错。

技术实现思路

[0003]本申请的目的在于，提供一种存储器测试系统以解决上述问题。
[0004]本申请实施例提供的存储器测试系统包括主控器件、电子引脚总阵列和时序发生组件，电子引脚总阵列与主控器件连接，时序发生组件与电子引脚总阵列连接；主控器件用于对接收到的模式控制指令进行解析，获得引脚工作模式，并在引脚工作模式为直流参数测试模式时，将预设信号参数发送给电子引脚总阵列中包括的多个第一目标电子引脚；针对多个第一目标电子引脚中的每个第一目标电子引脚，第一目标电子引脚用于按照预设信号参数生成测试信号，将测试信号施加到被测存储器上与第一目标电子引脚对应连接的目标存储本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器测试系统，其特征在于，包括主控器件、电子引脚总阵列和时序发生组件，所述电子引脚总阵列与所述主控器件连接，所述时序发生组件与所述电子引脚总阵列连接；所述主控器件用于对接收到的模式控制指令进行解析，获得引脚工作模式，并在所述引脚工作模式为直流参数测试模式时，将预设信号参数发送给所述电子引脚总阵列中包括的多个第一目标电子引脚；引脚工作模式为直流参数测试模式时，所述第一目标电子引脚的引脚工作模式包括加压测流模式、加压测压模式、加流测流模式和加流测压模式中的任意一种；针对所述多个第一目标电子引脚中的每个第一目标电子引脚，所述第一目标电子引脚用于按照所述预设信号参数生成测试信号，将所述测试信号施加到被测存储器上与所述第一目标电子引脚对应连接的目标存储器引脚，并接收所述目标存储器引脚输出的测试反馈信号，将所述测试反馈信号发送给所述时序发生组件；所述时序发生组件用于接收所述多个第一目标电子引脚发送的多条测试反馈信号，并将所述多条测试反馈信号发送给上位机，以供所述上位机根据所述多条测试反馈信号，获得所述被测存储器的引脚直流参数测试结果。2.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述存储器测试系统还包括多组通信组件，所述电子引脚总阵列中包括多组电子引脚阵列，所述时序发生组件包括多个时序发生器；针对所述多个时序发生器中的每个时序发生器，所述时序发生器通过所述多组通信组件中的一组目标通信组件与所述多组电子引脚阵列中的一组电子引脚阵列连接，用于通过所述目标通信组件接收多个第一子目标电子引脚发送的多条第一目标测试反馈信号，并将所述多条第一目标测试反馈信号发送给所述上位机，所述多个第一子目标电子引脚为所述电子引脚阵列中包含于所述多个第一目标电子引脚的电子引脚。3.根据权利要求2所述的存储器测试系统，其特征在于，所述多组通信组件中，每组通信组件包括多路通信通道结构；针对所述多个时序发生器中的每个时序发生器，所述时序发生器通过所述多组通信组件中一组目标通信组件包括的多路通信通道结构与所述多组电子引脚阵列中一组电子引脚阵列包括的多组第一电子引脚子阵列一一对应连接。4.根据权利要求3所述的存储器测试系统，其特征在于，所述多路通信通道结构中每路通信通道结构包括数据选择器，以及与所述数据选择器的数据输出端口连接的模数转换器；针对所述多个时序发生器中的每个时序发生器，所述时序发生器用于接收选择控制指令，并将所述选择控制指令发送给与所述时序发生器对应的多个数据选择器中的每个数据选择器；针对所述多个数据选择器中的每个数据选择器，所述数据选择器用于按照接收到的选择控制指令，将对应连接的第一电子引脚子阵列中包括的多个第二子目标电子引脚发送的多条第二目标测试反馈信号逐个选取，并通过与所述数据选择器连接的模数转换器转换为数字信号之后，发送给对应的时序发生器。5.根据权利要求2所述的存储器测试系统，其特征在于，所述存储器测试系统还包括算
法模式发生器，所述算法模式发生器与所述时序发生组件连接；所述主控器件还用于在所述引脚工作模式为功能测试模式时，将预设电平参数发送给所述电子引脚阵列中包括的多个第二目标电子引脚；所述算法模式发生器用于对接收到的功能测试指令进行解析，生成多组功能测试数据，并将所述多组功能测试数据发送给所述时序发生组件，所述多组功能测试数据中每组功能测试数据包括存储地址，以及与所述存储地址对应的测试数据，所述多组功能测试数据中包括的多个存储地址指向被测存储器中目标存储区域包括的多个存储位；所述时序发生组件用于按照接...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴英斗，宋秀良，刘金海，
申请(专利权)人：合肥悦芯半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：