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本申请涉及一种存储器测试系统，其中，主控器件用于对接收到的模式控制指令进行解析，获得引脚工作模式，并在引脚工作模式为直流参数测试模式时，将预设信号参数发送给电子引脚总阵列中包括的多个第一目标电子引脚，针对多个第一目标电子引脚中的每个第一目标...
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