【技术实现步骤摘要】
一种陶瓷针管测试座
[0001]本技术涉及半导体测试
,尤其涉及一种陶瓷针管测试座。
技术介绍
[0002]随着经济的发展,半导体产品已进入到人们生活的方方面面,同时,半导体测试技术也日趋成熟;目前,市场上用于测试二极管、三极管等半导体元件的测试仪包括盖板和设置于该盖板下表面的测试座,通过与待测体相接触以达到测试目的的若干测试针设置于该测试座上,且测试针竖直方向设置;测试前,需人工调整容置有待测体的模板位置,以使待测体与测试针一一对位;显然,现有技术中的半导体测试仪对待测体进行测试前,操作人员需调整容置有待测体的模板在水平面内的具体位置;然而,由于测试针极其脆弱,十分容易折断,测试设备稍有碰撞便有可能损坏测试针。
技术实现思路
[0003]技术目的:为了克服现有技术中存在的不足,本技术提供一种陶瓷针管测试座可以有效固定保护陶瓷针管,避免陶瓷针管折断。
[0004]技术方案:为实现上述目的,本技术的一种陶瓷针管测试座,包括底板、立柱和测试台;所述立柱设于底板的上表面,所述测试台设于立柱顶部;所述底板设有针管座孔和隔离盘,若干所述针管座孔环绕设于隔离盘周侧,所述针管座孔朝向隔离盘圆心方向具有倾斜角度;所述立柱侧面螺纹连接有限位块,所述限位块沿立柱高度方向开设有限位槽;所述限位槽对应设于于若干所述针管座孔上方;所述测试台的测试端对应于限位槽。
[0005]进一步地,所述限位槽内壁设有若干定位块,所述定位块沿高度方向开设有通孔;每个所述定位块对应于唯一的针管座孔。
[0006]进一步 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种陶瓷针管测试座,其特征在于:包括底板(11)、立柱(12)和测试台(13);所述立柱(12)设于底板(11)的上表面,所述测试台(13)设于立柱(12)顶部;所述底板(11)设有针管座孔(111)和隔离盘(112),若干所述针管座孔(111)环绕设于隔离盘(112)周侧,所述针管座孔(111)朝向隔离盘(112)圆心方向具有倾斜角度;所述立柱(12)侧面螺纹连接有限位块,所述限位块沿立柱(12)高度方向开设有限位槽(121);所述限位槽(121)对应设于若干所述针管座孔(111)上方;所述测试台(13)的测试端对应于限位槽(121)。2.根据权利要求1所述的一种陶瓷针管测试座,其特征在于:所述限位槽(121)内壁设有若干定位块(122),所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:ꢀ七四专利代理机构,
申请(专利权)人:无锡三加自动化科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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