本发明专利技术公开了一种高精度激光纳米粒度仪，包括计算机、第一数据采集模块、第一光电二极管、第一光纤、第一接线端子、安装板、凸透镜、样品室和激光源，安装板设置在凸透镜的一侧，样品室设置在凸透镜的另一侧，激光源隔样品室与凸透镜相对设置，激光源发出的激光穿过凸透镜照射在安装板的中部；第一接线端子设置在安装板的端部；通过设置步进电机、扇叶和凹透镜，凹透镜嵌置在扇叶中；步进电机旋转，凹透镜遮盖在第一接线端子上时，能够放大散射光，经过计算机的计算得出样品室中的颗粒值。当步进电机旋转，凸透镜偏离第一接线端子时，即可恢复正常的测量模式。常的测量模式。常的测量模式。
【技术实现步骤摘要】
一种高精度激光纳米粒度仪
[0001]本专利技术涉及一种高精度激光纳米粒度仪，尤其涉及高精度激光纳米粒度仪光放大结构。
技术介绍
[0002]激光粒度仪由于测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。具有测试速度快、范围宽、重复性及准确性好等特点，因此得到广泛应用。激光粒度仪是利用激光照射到微粉颗粒上产生光的散射效应，颗粒的数量差异引起散射强度的变化，通过光电转换器件将光信号转变为电信号，从而计算出空气的粒度值。然而，由于样品种类繁多，颗粒度各不相同，差异较大，同一种型号的纳米粒度仪难以精确地检测出颗粒度。无法适应实际工作需要。
技术实现思路
[0003]为克服上述缺点，本专利技术的目的在于提供一种高精度激光纳米粒度仪。具有光放大结构，可以精确地检测颗粒值较大的样品。以解决
技术介绍
部分提到的问题。
[0004]为了达到以上目的，本专利技术采用的技术方案是：一种高精度激光纳米粒度仪，包括计算机、第一数据采集模块、第一光电二极管、第一光纤、第一接线端子、安装板、凸透镜、样品室和激光源，安装板设置在凸透镜的一侧，样品室设置在凸透镜的另一侧，激光源隔样品室与凸透镜相对设置，激光源发出的激光穿过凸透镜照射在安装板的中部；第一接线端子设置在安装板的端部，第一光纤的一端与第一接线端子连接，另一端与第一光电二极管连接，第一光电二极管与第一数据采集模块电连接，第一数据采集模块与计算机电连接；所述高精度激光纳米粒度仪还包括步进电机、扇叶和凹透镜，步进电机设置在安装板的端部，扇叶连接在步进电机的输出轴上，凹透镜嵌置在扇叶中；步进电机旋转，凹透镜遮盖在第一接线端子上或偏离第一接线端子。
[0005]本专利技术进一步的设置为：所述高精度激光纳米粒度仪还包括第二数据采集模块、第二光电二极管、第二光纤和第二接线端子；第二接线端子设置在安装板的另一端部，与第一接线端子相对设置，第二光纤的一端与第二接线端子连接，另一端与第二光电二极管连接，第二光电二极管与第二数据采集模块电连接，第二数据采集模块与计算机电连接。
[0006]本专利技术进一步的设置为：所述扇叶为两片相对设置的扇叶，所述凸透镜设置在其中一片扇叶上，另一片扇叶不透光。
[0007]本专利技术进一步的设置为：所述样品室的一端连接有排气管，另一端连接有软管，软管上设置有软管泵。
[0008]本专利技术还提供了一种高精度激光纳米颗粒度检测方法，所述方法包括以下步骤：（1）激光以平行于凸透镜短轴的方向穿过样品室和凸透镜；（2）光检测器在凸透镜另一侧检测穿过凸透镜的散射光；
（3）在光检测器与凸透镜之间设置凹透镜；（4）光检测器将光信号转变为电信号，输入计算机中；计算机将电信号与预设模型对比，得出颗粒度的数值。
[0009]本专利技术进一步的设置为：所述扇叶为两个，所述凹透镜嵌在其中一个扇叶中，扇叶由步进电机驱动，当步进电机转动时，凹透镜遮盖在光检测器上或偏离光检测器。
[0010]本专利技术进一步的设置为：所述光检测器为两个，分别设置在安装板的端部，所述穿过凸透镜的激光照射在安装板的中部。
[0011]本专利技术进一步的设置为：所述光检测器包括数据采集模块、光电二极管、光纤、接线端子和安装板，安装板设置在凸透镜的侧面，样品室设置在凸透镜的另一侧，激光源发出的激光穿过凸透镜照射在安装板的中部；接线端子设置在安装板的端部，光纤的一端与接线端子连接，另一端与光电二极管连接，光电二极管与数据采集模块电连接，数据采集模块与所述计算机电连接；光电二极管与所述凸透镜之间设置凹透镜。
[0012]本专利技术进一步的设置为：所述计算机分别计算两个数据采集模块的数据，进行互相关计算，得到样品室内的颗粒的扩散系数，进而通过计算得到颗粒的粒径。
[0013]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：通过设置步进电机、扇叶，凹透镜嵌置在扇叶中；步进电机旋转，凹透镜遮盖在第一接线端子上时，能够放大散射光，经过第一接线端子和第一光纤将光信号传递至光电二极管，由光电二极管转化为电信号，经过第一数据采集模块的处理和计算机的计算得出样品室中的颗粒值。当步进电机旋转，凸透镜偏离第一接线端子时，即可恢复正常的测量模式。
[0014]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
[0015]图1为本专利技术一较佳实施例所示的高精度激光纳米粒度仪的结构示意图。
[0016]图中：1、计算机；2、第一数据采集模块；3、第二数据采集模块；4、第一光电二极管；5、第二光电二极管；6、第一光纤；7、第二光纤；8、第一接线端子；9、第二接线端子；10、安装板；11、步进电机；12、扇叶；13、凹透镜；14、散射光；15、凸透镜；16、样品室；17、软管泵；18、排气管；19、软管；20、激光源。
具体实施方式
[0017]下面结合附图对本专利技术的较佳实施例进行详细阐述，以使本专利技术的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本专利技术的保护范围做出更为清楚明确的界定。
[0018]参见附图1所示，本实施例中的一种高精度激光纳米粒度仪，包括计算机1、第一数据采集模块2、第一光电二极管4、第一光纤6、第一接线端子8、安装板10、凸透镜15、样品室16和激光源20，安装板10设置在凸透镜15的一侧，样品室16设置在凸透镜15的另一侧，激光源20隔样品室16与凸透镜15相对设置，激光源20发出的激光穿过凸透镜15照射在安装板10的中部；第一接线端子8设置在安装板10的端部，第一光纤6的一端与第一接线端子8连接，另一端与第一光电二极管4连接，第一光电二极管4与第一数据采集模块2电连接，第一数据采集模块2与计算机1电连接；所述高精度激光纳米粒度仪还包括步进电机11、扇叶12和凹
透镜13，步进电机11设置在安装板10的端部，扇叶12连接在步进电机11的输出轴上，凹透镜13嵌置在扇叶12中；步进电机11旋转，凹透镜13遮盖在第一接线端子8上或偏离第一接线端子8。
[0019]通过设置步进电机11、扇叶12，凹透镜13嵌置在扇叶12中；步进电机11旋转，凹透镜13遮盖在第一接线端子8上时，能够放大散射光14，经过第一接线端子8和第一光纤6将光信号传递至光电二极管，由光电二极管转化为电信号，经过第一数据采集模块2的处理和计算机1的计算得出样品室16中的颗粒值。当步进电机11旋转，凸透镜15偏离第一接线端子8时，即可恢复正常的测量模式。
[0020]在高浓度、高浊度样品中，常常发生多重光散射效应。多重光散射效应会造成检测到的粒径结果与真实值相比偏小，粒径分布与真实值相比变大。为了消除多重光散射影响。本专利技术进一步的设置为：所述高精度激光纳米粒度仪还包括第二数据采集模块3、第二光电二极管5、第二光纤7和第二接线端子9；第二接线端子9设置在安装板10的另一端部，与第一接线端子8相对设置，第本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高精度激光纳米粒度仪，包括计算机、第一数据采集模块、第一光电二极管、第一光纤、第一接线端子、安装板、凸透镜、样品室和激光源，安装板设置在凸透镜的一侧，样品室设置在凸透镜的另一侧，激光源隔样品室与凸透镜相对设置，激光源发出的激光穿过凸透镜照射在安装板的中部；第一接线端子设置在安装板的端部，第一光纤的一端与第一接线端子连接，另一端与第一光电二极管连接，第一光电二极管与第一数据采集模块电连接，第一数据采集模块与计算机电连接；其特征在于，所述高精度激光纳米粒度仪还包括步进电机、扇叶和凹透镜，步进电机设置在安装板的端部，扇叶连接在步进电机的输出轴上，凹透镜嵌置在扇叶中；步进电机旋转，凹透镜遮盖在第一接线端子上或偏离第一接线端子。2.根据权利要求1所述的高精度激光纳米粒度仪，其特征在于，所述高精度激光纳米粒度仪还包括第二数据采集模块、第二光电二极管、第二光纤和第二接线端子；第二接线端子设置在安装板的另一端部，与第一接线端子相对设置，第二光纤的一端与第二接线端子连接，另一端与第二光电二极管连接，第二光电二极管与第二数据采集模块电连接，第二数据采集模块与计算机电连接。3.根据权利要求2所述的高精度激光纳米粒度仪，其特征在于，所述扇叶为两片相对设置的扇叶，所述凸透镜设置在其中一片扇叶上，另一片扇叶不透光。4.根据权利要求3所述的高精度激光纳米粒度仪，其特征在于，所述样品室的一端连接有排气管，另一端连接有软管，软管上设置有软管泵。5.一种高精...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘焱，何永强，
申请(专利权)人：苏州博飞克分析技术服务有限公司，
类型：发明
国别省市：
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