本发明专利技术公开了一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法及装置，所述方法适用于对多块芯片进行FT测试且具有机械臂的机台，所述方法包括：获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间以及每块芯片的测试剩余时间，分别得到多个移动时间和多个测试剩余时间；逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，得到多个比较时间；从所述多个比较时间中筛选最短时长的目标比较时间，并按照所述目标比较时间控制所述机械臂移动至对应的芯片位置，使所述机械臂对芯片进行传输操作。本发明专利技术通过确定传输前所需总时间最短的芯片位置，然后根据芯片位置对机械臂进行预判和移动控制，以缩短机械臂的移动时间和等待传输时间，提高测试效率，节省测试成本。节省测试成本。节省测试成本。
【技术实现步骤摘要】
一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法及装置
[0001]本专利技术涉及设备控制的
，尤其涉及一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法及装置。
技术介绍
[0002]随着科技的发展，越来越多的科技产品逐渐投入日常生活中，现已逐渐改变人们的生活方式，并为生活带来各种各样的便利。各个科技产品的核心就是负责各种数据处理的芯片。为了保证产品的稳定性、实用性及完整性，生产商在推出芯片前都会对批量芯片进行FT测试。
[0003]目前常用的测试方式是使用机台进行自动测试。其中机台设有机械臂，当芯片测试完成后控制机械臂取走芯片，并将新芯片放入测试板开始新一轮测试。
[0004]但目前常用的测试方法有如下技术问题：测试空间有限，机械臂在没有收到pass和fail的信号或在完成一次传输后，都会在原点或以移动至原点等待，待收到信号才从原点出发至芯片位置取走芯片。由于每次传输完成后均需要回到原点以及在收到信号后从原点出发，会增加机械臂的移动行程，从而增加了传输时间，降低了检测效率，并且多次的来回移动会增加机械臂的损耗，也降低了整个产品的使用寿命。
技术实现思路
[0005]本专利技术提出一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法及装置，所述方法可以通过计算机械臂的移动时间和芯片完成测试的剩余时间选择开始传输前所需总时间最短的芯片，并根据所述芯片位置对机械臂的移动进行预判和移动控制，从而有效缩短机械臂的移动时间和等待开始传输的时间，提高测试效率。
[0006]本专利技术实施例的第一方面提供了一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法，所述方法适用于对多块芯片进行FT测试的机台，所述机台设有机械臂，所述方法包括：
[0007]获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间以及每块芯片的测试剩余时间，分别得到多个移动时间和多个测试剩余时间；
[0008]逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，得到多个比较时间；
[0009]从所述多个比较时间中筛选最短时长的目标比较时间，并按照所述目标比较时间控制所述机械臂移动至对应的芯片位置，使所述机械臂对芯片进行传输操作。
[0010]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间，包括：
[0011]分别获取所述机械臂的当前坐标以及每块芯片的测试位置坐标；
[0012]分别计算所述当前坐标与每个所述测试位置坐标之间的坐标距离，得到多个坐标距离；
[0013]利用每个所述坐标距离计算所述机械臂移动至每块芯片的移动时间。
[0014]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，包括：
[0015]逐一比较每块芯片对应的所述移动时间是否大于所述测试剩余时间；
[0016]当所述移动时间大于所述测试剩余时间，则以所述移动时间为比较时间；
[0017]当所述移动时间小于所述测试剩余时间，则以所述测试剩余时间为比较时间。
[0018]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述传输操作，包括：
[0019]当所述机械臂接收芯片发出合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试；
[0020]当所述机械臂接收芯片发出不合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的不合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试。
[0021]在第一方面的一种可能的实现方式中，在所述使所述机械臂对芯片进行传输操作的步骤后，所述方法还包括：
[0022]屏蔽所述机械臂的控制信号直到所述机械臂完成传输操作。
[0023]本专利技术实施例的第二方面提供了一种关于芯片传输机械臂的移动控制装置，所述装置适用于对多块芯片进行FT测试的机台，所述机台设有机械臂，所述装置包括：
[0024]获取模块，用于获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间以及每块芯片的测试剩余时间，分别得到多个移动时间和多个测试剩余时间；
[0025]比较模块，用于逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，得到多个比较时间；
[0026]控制模块，用于从所述多个比较时间中筛选最短时长的目标比较时间，并按照所述目标比较时间控制所述机械臂移动至对应的芯片位置，使所述机械臂对芯片进行传输操作。
[0027]在第二方面的一种可能的实现方式中，所述获取模块还用于：
[0028]分别获取所述机械臂的当前坐标以及每块芯片的测试位置坐标；
[0029]分别计算所述当前坐标与每个所述测试位置坐标之间的坐标距离，得到多个坐标距离；
[0030]利用每个所述坐标距离计算所述机械臂移动至每块芯片的移动时间。
[0031]在第二方面的一种可能的实现方式中，所述比较模块还用于：
[0032]逐一比较每块芯片对应的所述移动时间是否大于所述测试剩余时间；
[0033]当所述移动时间大于所述测试剩余时间，则以所述移动时间为比较时间；
[0034]当所述移动时间小于所述测试剩余时间，则以所述测试剩余时间为比较时间。
[0035]在第二方面的一种可能的实现方式中，所述传输操作，包括：
[0036]当所述机械臂接收芯片发出合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试；
[0037]当所述机械臂接收芯片发出不合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的不合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试。
[0038]在第二方面的一种可能的实现方式中，所述装置还包括：
[0039]屏蔽模块，用于屏蔽所述机械臂的控制信号直到所述机械臂完成传输操作。
[0040]相比于现有技术，本专利技术实施例提供的一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法
及装置，其有益效果在于：本专利技术可以分别获取机械臂移动至芯片区域所需要的移动时间以及芯片完成测试所需的测试剩余时间，结合两者以筛选开始传输前所需总时间最短的芯片，从而可以根据所选出的芯片位置对机械臂的移动进行预判和移动控制，进而有效缩短机械臂的移动时间和等待开始传输的时间，提高测试效率，节省测试成本。
附图说明
[0041]图1是本专利技术一实施例提供的一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法的流程示意图；
[0042]图2是本专利技术一实施例提供的一种关于芯片传输机械臂的移动控制装置的结构示意图。
具体实施方式
[0043]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0044]目前常用的测试方法有如下技术问题：测试空间有本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，所述方法适用于对多块芯片进行FT测试的机台，所述机台设有机械臂，所述方法包括：获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间以及每块芯片的测试剩余时间，分别得到多个移动时间和多个测试剩余时间；逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，得到多个比较时间；从所述多个比较时间中筛选最短时长的目标比较时间，并按照所述目标比较时间控制所述机械臂移动至对应的芯片位置，使所述机械臂对芯片进行传输操作。2.根据权利要求1所述的关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，所述获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间，包括：分别获取所述机械臂的当前坐标以及每块芯片的测试位置坐标；分别计算所述当前坐标与每个所述测试位置坐标之间的坐标距离，得到多个坐标距离；利用每个所述坐标距离计算所述机械臂移动至每块芯片的移动时间。3.根据权利要求1所述的关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，所述逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，包括：逐一比较每块芯片对应的所述移动时间是否大于所述测试剩余时间；当所述移动时间大于所述测试剩余时间，则以所述移动时间为比较时间；当所述移动时间小于所述测试剩余时间，则以所述测试剩余时间为比较时间。4.根据权利要求1所述的关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，所述传输操作，包括：当所述机械臂接收芯片发出合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试；当所述机械臂接收芯片发出不合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的不合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试。5.根据权利要求1
‑
4任意一项所述的关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，在所述使所述机械臂对芯片进行传输操作的步骤后，所述方法还包括：屏蔽所述机械臂的控制信号直到所述机...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗继，胡胜发，
申请(专利权)人：广州安凯微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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