【技术实现步骤摘要】
一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法及装置
[0001]本专利技术涉及设备控制的
，尤其涉及一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法及装置。
技术介绍
[0002]随着科技的发展，越来越多的科技产品逐渐投入日常生活中，现已逐渐改变人们的生活方式，并为生活带来各种各样的便利。各个科技产品的核心就是负责各种数据处理的芯片。为了保证产品的稳定性、实用性及完整性，生产商在推出芯片前都会对批量芯片进行FT测试。
[0003]目前常用的测试方式是使用机台进行自动测试。其中机台设有机械臂，当芯片测试完成后控制机械臂取走芯片，并将新芯片放入测试板开始新一轮测试。
[0004]但目前常用的测试方法有如下技术问题：测试空间有限，机械臂在没有收到pass和fail的信号或在完成一次传输后，都会在原点或以移动至原点等待，待收到信号才从原点出发至芯片位置取走芯片。由于每次传输完成后均需要回到原点以及在收到信号后从原点出发，会增加机械臂的移动行程，从而增加了传输时间，降低了检测效率，并且多次的来回移动会增加机械臂的损耗，也降低了整个产
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，所述方法适用于对多块芯片进行FT测试的机台，所述机台设有机械臂，所述方法包括：获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间以及每块芯片的测试剩余时间，分别得到多个移动时间和多个测试剩余时间；逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，得到多个比较时间；从所述多个比较时间中筛选最短时长的目标比较时间，并按照所述目标比较时间控制所述机械臂移动至对应的芯片位置，使所述机械臂对芯片进行传输操作。2.根据权利要求1所述的关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，所述获取所述机械臂移动至每块芯片的移动时间，包括：分别获取所述机械臂的当前坐标以及每块芯片的测试位置坐标；分别计算所述当前坐标与每个所述测试位置坐标之间的坐标距离，得到多个坐标距离；利用每个所述坐标距离计算所述机械臂移动至每块芯片的移动时间。3.根据权利要求1所述的关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，所述逐一比较每块芯片对应的所述移动时间与所述测试剩余时间，包括：逐一比较每块芯片对应的所述移动时间是否大于所述测试剩余时间；当所述移动时间大于所述测试剩余时间，则以所述移动时间为比较时间；当所述移动时间小于所述测试剩余时间，则以所述测试剩余时间为比较时间。4.根据权利要求1所述的关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，所述传输操作，包括：当所述机械臂接收芯片发出合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试；当所述机械臂接收芯片发出不合格信号时，从当前的测试区中提取芯片并放置在预设的不合格区域，以及将待检测芯片放置在当前的测试区，供待检测芯片上电测试。5.根据权利要求1
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4任意一项所述的关于芯片传输机械臂的移动控制方法，其特征在于，在所述使所述机械臂对芯片进行传输操作的步骤后，所述方法还包括：屏蔽所述机械臂的控制信号直到所述机...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗继，胡胜发，
申请(专利权)人：广州安凯微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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