一种基于负反馈数据库的SERS光谱特征峰识别方法技术

技术编号:33124680 阅读:42 留言:0更新日期:2022-04-17 00:32
本发明专利技术提出的一种基于负反馈数据库的SERS光谱特征峰识别方法,包括:对SERS光谱中的准波峰进行峰形筛选,保留与高斯分布偏差小的准波峰;将所述SERS光谱与数据库中标准SERS光谱进行匹配选择,选出匹配程度大的标准SERS光谱;基于该匹配程度大标准SERS光谱对所述SERS光谱中与高斯分布偏差小的准波峰进行负反馈,即得到所述SERS光谱中的特征峰。本发明专利技术提出的一种基于负反馈数据库的SERS光谱特征峰识别方法,该识别方法无需人为设置任何参数就可以自动实现特征峰识别,并且还能够识别出弱小的特征峰,滤除虚假峰。滤除虚假峰。滤除虚假峰。

【技术实现步骤摘要】
一种基于负反馈数据库的SERS光谱特征峰识别方法


[0001]本专利技术涉及光谱分析的
,尤其涉及一种基于负反馈数据库的SERS光谱特征峰识别方法。

技术介绍

[0002]拉曼检测以速度快、灵敏度高、指纹无损伤等特点在现场检测方面具有独特优势,且在农业、医药、食品、石化等领域也得到了广泛的应用。由于测试对象的SERS光谱信号可以通过纳米增强基底放大百万倍以上,甚至可以实现单分子水平的检测,因此可以使用SERS光谱特征峰值信息来识别被测试的物体。一般SERS光谱分析包括光谱预处理、特征峰提取和特征峰分类等步骤,这其中特征峰提取是SERS光谱分析的核心环节。由于每种物质都有相应的SERS光谱特征峰分布,因此SERS光谱特征峰的位置和大小直接反映了该物质的结构和含量信息,也就是说能否很好地识别SERS光谱中的特征峰将直接决定被测试物特征分类的准确性。
[0003]以往常用的的谱峰识别方法有以下几种方法:幅值法通过设置一个阈值,将大于阈值的第一个点视为光谱峰的起点,将随后的最大点视为谱峰的高点,然后将接下来小于阈值的第一个点视为光谱峰的最本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
其中,μ表示中心矩,E表示期望算子,Y表示光谱纵坐标组成的数组,X表示光谱横坐标组成的数组,σ表示标准差。8.根据权利要求1

7任一项所述基于负反馈数据库的SERS光谱特征峰识别方法,其特征在于,所述“匹配选择“具体包括:计算所述SERS光谱与数据库中标准SERS光谱的匹配系数γ,若匹配系数γ大于设定阀值,则保留该标准SERS光谱,实现选出匹配程度大的标准SERS光谱。9.根据权利要求8所述基于负反馈数据库的SERS光谱特征峰识别方法,其特征在于,所述匹配系数γ...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨良保何遥林东岳
申请(专利权)人:安徽中科赛飞尔科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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