一种SERS基底去除杂峰的方法技术

技术编号:36894231 阅读:13 留言:0更新日期:2023-03-15 22:16
本发明专利技术公开了一种SERS基底去除杂峰的方法,包括如下步骤:S1、取固定有SERS基底的衬底材料,将含有SERS基底的一面朝上放置,然后将空心管放在SERS基底上,使得SERS基底被完全套在空心管一端的口径范围内;S2、向空心管中加水进行一次浸泡,去除水,加有机溶剂进行二次浸泡,去除有机溶剂,干燥。本发明专利技术可以去除SERS基底中的表面活性剂,去除表面活性剂特征峰的干扰的同时,仍保持良好的基底活性,保持检测结果的准确性。结果的准确性。结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种SERS基底去除杂峰的方法


[0001]本专利技术涉及SERS基底
,尤其涉及一种SERS基底去除杂峰的方法。

技术介绍

[0002]表面增强拉曼散射(Surface

enhanced Raman Scattering,SERS)技术近年已成为环境监测、生物化学传感、疾病诊断等领域常用分析手段。与普通拉曼散射技术相比,表面增强拉曼散射技术具有选择性好、灵敏度高的特点,并可实现对单个分子的检测。
[0003]SERS技术的应用基础是具有高灵敏度的基底形成的灵敏度极高的SERS“热点”。目前通常是将SERS基底液滴加在衬底表面,干燥,使得SERS基底固定在衬底表面。
[0004]目前,在SERS基底的制备过程中,为了调控纳米粒子会用到各种表面活性剂。导致在检测过程中会出现表面活性剂的特征峰,会造成干扰,影响待测峰位的归属,会对检测结果造成误判,影响检测结果的正确判断。

技术实现思路

[0005]基于
技术介绍
存在的技术问题,本专利技术提出了一种SERS基底去除杂峰的方法,本专利技术可以去除SERS基底中的表面活性剂,去除表面活性剂特征峰的干扰的同时,仍保持良好的基底活性,保持检测结果的准确性。
[0006]本专利技术提出了一种SERS基底去除杂峰的方法,包括如下步骤:
[0007]S1、取固定有SERS基底的衬底材料,将含有SERS基底的一面朝上放置,然后将空心管放在SERS基底上,使得SERS基底被完全套在空心管一端的口径范围内;
[0008]S2、向空心管中加水进行一次浸泡,去除水,加有机溶剂进行二次浸泡,去除有机溶剂,干燥。
[0009]优选地,有机溶剂为丁醇。
[0010]优选地,一次浸泡的温度为40

60℃,一次浸泡的时间为20

40min。
[0011]优选地,二次浸泡的温度为30

60℃,二次浸泡的时间为40

80min。
[0012]优选地,水的用量为4

8ml。
[0013]优选地,有机溶剂的用量为4

8ml。
[0014]优选地,水为超纯水。
[0015]优选地,使空心管与衬底材料紧密接触,避免浸泡时液体渗出。
[0016]优选地,空心管的直径为1

1.5cm。
[0017]优选地,空心管口的尺寸形状与SERS基底的尺寸形状吻合。
[0018]有益效果:
[0019]本专利技术选用适宜的溶剂针对性的浸泡洗涤SERS基底,使得SERS基底中的表面活性剂被去除,去除表面活性剂特征峰的干扰;并且选用适宜的溶剂和适宜的洗涤方法,可以使得SERS基底去除表面活性剂的同时,仍能保持良好的活性,保持检测结果的准确性。
[0020]本专利技术处理后的SERS基底,对样品进行检测时,不存在基底的干扰,极大的降低了
对操作人员的专业水平要求;采用仪器自动识别模式时,未处理SERS基底的判别结果准确率仅为70%,而处理后的SERS基底可以将判别结果的准确率提高至98%,避免了基底峰的存在对结果判断的不良影响。
附图说明
[0021]图1为衬底材料、SERS基底、空心管的位置关系图。
[0022]图2为未处理的SERS基底的光谱图。
[0023]图3为经实施例1处理的SERS基底的光谱图。
具体实施方式
[0024]下面,通过具体实施例对本专利技术的技术方案进行详细说明,但是应该明确提出这些实施例用于举例说明,但是不解释为限制本专利技术的范围。
[0025]实施例1
[0026]一种SERS基底去除杂峰的方法,包括如下步骤:
[0027]S1、取固定有SERS基底的衬底材料,将含有SERS基底的一面朝上放置,然后将直径为1cm的柱形空心管放在SERS基底上,使得SERS基底被完全套在柱形空心管一端的口径内,并使柱形空心管与衬底材料紧密接触,避免浸泡时液体渗出(衬底材料、SERS基底、空心管的位置关系如图1所示);
[0028]S2、向柱形空心管中加入4ml超纯水,然后置于40℃恒温箱中,保温一次浸泡20min,吸出超纯水,然后向柱形空心管中加入4ml丁醇,于40℃保温二次浸泡40min,吸出丁醇,干燥。
[0029]用拉曼光谱仪分别检测未处理的SERS基底、按照实施例1方法处理后的SERS基底,结果如图2

3所示。图2为未处理的SERS基底的光谱图;图3为经实施例1处理的SERS基底的光谱图。
[0030]由图2

3可以看出:未处理的SERS基底中760cm
‑1、1445cm
‑1两处均为表面活性剂的干扰峰;处理后的SERS基底无杂峰干扰,原有杂峰消失。
[0031]用未处理的SERS基底、按照实施例1方法处理后的SERS基底,分别检测浓度为0.1μg/L的百草枯水溶液,检测结果如表1。
[0032]表1检测结果
[0033][0034][0035]由表1可以看出,经本专利技术处理后的SERS基底,检测物质浓度的结果仍然准确,没有太多变化。
[0036]实施例2
[0037]一种SERS基底去除杂峰的方法,包括如下步骤:
[0038]S1、取固定有SERS基底的衬底材料,将含有SERS基底的一面朝上放置,然后将直径为1.5cm的柱形空心管放在SERS基底上,使得SERS基底被完全套在柱形空心管一端的口径内,并使柱形空心管与衬底材料紧密接触,避免浸泡时液体渗出;
[0039]S2、向柱形空心管中加入8ml超纯水,然后置于60℃恒温箱中,保温一次浸泡40min,吸出超纯水,然后向柱形空心管中加入8ml丁醇,于60℃保温二次浸泡80min,吸出丁醇,干燥。
[0040]实施例3
[0041]一种SERS基底去除杂峰的方法,包括如下步骤:
[0042]S1、取固定有SERS基底的衬底材料,将含有SERS基底的一面朝上放置,然后将直径为1cm的柱形空心管放在SERS基底上,使得SERS基底被完全套在柱形空心管一端的口径内,并使柱形空心管与衬底材料紧密接触,避免浸泡时液体渗出;
[0043]S2、向柱形空心管中加入6ml超纯水,然后置于50℃恒温箱中,保温一次浸泡30min,吸出超纯水,然后向柱形空心管中加入6ml丁醇,于50℃保温二次浸泡60min,吸出丁醇,干燥。
[0044]对比例1
[0045]将丁醇替换成水,其他同实施例1。
[0046]对比例2
[0047]将水替换成丁醇,其他同实施例1。
[0048]上述实施例1

3和对比例1

2使用的未处理的SERS基底是同一批次制得的。
[0049]用拉曼光谱仪分别检测经对比例1

2的处本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种SERS基底去除杂峰的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、取固定有SERS基底的衬底材料,将含有SERS基底的一面朝上放置,然后将空心管放在SERS基底上,使得SERS基底被完全套在空心管一端的口径范围内;S2、向空心管中加水进行一次浸泡,去除水,加有机溶剂进行二次浸泡,去除有机溶剂,干燥。2.根据权利要求1所述SERS基底去除杂峰的方法,其特征在于,有机溶剂为丁醇。3.根据权利要求1或2所述SERS基底去除杂峰的方法,其特征在于,一次浸泡的温度为40

60℃,一次浸泡的时间为20

40min。4.根据权利要求1

3任一项所述SERS基底去除杂峰的方法,其特征在于,二次浸泡的温度为30

60℃,二次浸泡的时间为40

80min。5.根据权利要求1

4...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨良保林东岳
申请(专利权)人:安徽中科赛飞尔科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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