一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统及方法技术方案

一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统，包括，测试向量生成器、逻辑内建自测试控制器，以及测试响应分析器，其中，所述测试向量生成器，其生成复位测试向量和伪随机测试向量，接受所示逻辑内建自测试控制器的指令，将复位信号、时钟信号、扫描使能信号和扫描向量输出信号输出给待测电路；所述逻辑内建自测试控制器，其分别控制所述测试向量生成器的信号的输出和控制所述测试响应分析器对待测电路进行测试；所述测试响应分析器，其接受所述逻辑内建自测试控制器的指令，对待测电路进行测试。本发明专利技术还提供一种逻辑内建自测试的复位电路测试方法，利用较少逻辑，解决了传统逻辑内建自测试中复位信号无法高度覆盖的问题，提高故障覆盖率。障覆盖率。障覆盖率。

【技术实现步骤摘要】
一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统及方法


[0001]本专利技术涉及集成电路板级测试
，尤其涉及一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统及方法。

技术介绍

[0002]随着集成电路的工艺尺寸日益缩小和芯片规模的提高，对芯片测试难度，测试成本和测试方法提出了更高的要求。以更小的测试成本和更少的测试时间达到更高的测试覆盖率成为芯片测试中的一大课题。
[0003]传统的芯片测试会在自动测试设备(ATE)上进行针对芯片内存储器的存储单元内建自测试(MBIST)，针对系统管脚处理模块(IO PAD)的边界扫描测试(BSD)，针对数字逻辑扫描链测试(SCAN)，基于静态电流的测试(IDDQ)，在降低电源电压下进行的低压测试，针对模拟电路的测试等等。这些作为芯片出厂前的测试，为了发现芯片制作过程中的缺陷，提高测试的可靠性，从而确保置于系统后芯片会按照设计实现正确运行。
[0004]由于芯片内的晶体管在使用过程中会慢慢老化损坏，对于应用在可靠性要求高的场景（如汽车电子,医疗电子等），引入逻辑内建自测试（LBIST）成为趋势。在芯片启动前或者在线工作时进行自测试，提前发现问题，避免在系统运行中出现故障。
[0005]传统的逻辑内建自测试（LBIST）,通过内置线性移位寄存器(LFSR) 生成伪随机测试向量，对已完成的扫描设计的待测电路（Circuit Under Test，CUT）进行扫描链测试。对待测电路中的寄存器的复位信号进行测试，检测复位树和寄存器的复位信号是否存在故障。同样通过伪随机测试向量进行测试，但是由于测试向量的不确定性，所以对寄存器的该类覆盖存在缺失, 降低了故障覆盖率。

技术实现思路

[0006]为了解决现有技术存在的不足，本专利技术的目的在于提供一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统及方法，在线性移位寄存器(LFSR)作为测试矢量对已完成的扫描设计的待测电路（Circuit under test，CUT）进行扫描链测试前，针对待测电路中的寄存器的复位信号进行测试，检测复位树和寄存器的复位信号是否存在故障。
[0007]为实现上述目的，本专利技术提供的一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统，包括，测试向量生成器、逻辑内建自测试控制器，以及测试响应分析器，其中，所述测试向量生成器，其生成复位测试向量和伪随机测试向量，接受所示逻辑内建自测试控制器的指令，将复位信号、时钟信号、扫描使能信号和扫描向量输出信号输出给待测电路；所述逻辑内建自测试控制器，其分别控制所述测试向量生成器的信号的输出和控制所述测试响应分析器对待测电路进行测试；所述测试响应分析器，其接受所述逻辑内建自测试控制器的指令，对待测电路进行测试。
[0008]更进一步地，所述测试向量生成器，还包括，复位测试向量生成器、伪随机测试向量生成器，以及选择器，其中，所述复位测试向量生成器，其用于生成复位测试向量；所述伪随机测试向量生成器，其用生成伪随机测试向量；所述选择器，其接受来自所述逻辑内建自测试控制器的控制，对输入的复位测试向量和伪随机测试向量进行选择，将复位信号、时钟信号、扫描使能信号和扫描向量输出信号输出给待测电路。
[0009]为实现上述目的，本专利技术还提供一种逻辑内建自测试的复位电路测试方法，包括以下步骤：将复位测试向量全部置为1，扫描向量输出全部置为1，进行复位测试向量测试；将复位测试向量全部置为0，扫描向量输出全部置为0，进行复位测试向量测试；将复位测试使能置为0，选择伪随机测试向量输出，进行伪随机测试向量测试。
[0010]进一步地，所述将复位测试向量全部置为1，扫描向量输出全部置为1，进行复位测试向量测试的步骤，还包括，在扫描移位：将扫描输入置为1 ，扫描使能输出置为1，复位信号处于无效状态，时钟信号打拍为扫描链长度响应的拍数，使全1信号全部移位到待测电路所有的扫描链寄存器中。
[0011]进一步地，所述将复位测试向量全部置为1，扫描向量输出全部置为1，进行复位测试向量测试的步骤，在扫描捕获阶段: 将扫描使能拉低，处于无效状态，对复位信号进行复位或置位状态；使复位为0的寄存器内锁存的值改变为0；如果所述寄存器存在缺陷，其值则无法翻转。
[0012]进一步地，所述将复位测试向量全部置为0，扫描向量输出全部置为0，进行复位测试向量测试的步骤，还包括，在扫描移位阶段：将扫描输入置为0，扫描使能置为1，复位信号处于无效状态，时钟信号打拍为扫描链长度响应的拍数，使0信号全部移位到待测电路所有的扫描链寄存器中。
[0013]进一步地，所述将复位测试向量全部置为0，扫描向量输出全部置为0，进行复位测试向量测试的步骤，还包括，在扫描捕获阶段: 将扫描使能拉低，处于无效状态，对复位信号进行复位或置位状态，使置位为1的寄存器内锁存的值改变为1；如果该寄存器存在缺陷，其值则无法翻转。
[0014]更进一步地，所述将复位测试使能置为0，选择伪随机测试向量输出，进行伪随机测试向量测试的步骤，还包括，复位信号均于无效状态，在扫描捕获阶段时，时钟信号产生一个时钟周期，测试待测电路中的组合逻辑。
[0015]为实现上述目的，本专利技术还提供一种芯片，所述芯片，包括上文所述的逻辑内建自测试的复位电路测试系统。
[0016]为实现上述目的，本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序时执行如上
文所述的逻辑内建自测试的复位电路测试方法的步骤。
[0017]本专利技术的逻辑内建自测试的复位电路测试系统及方法，与现有技术相比较具有以下有益效果：与传统的逻辑内建自测试（LBIST）复位测试，测试向量更多，节约了测试时间；不影响原有逻辑内建自测试下， 利用较少逻辑，解决了传统逻辑内建自测试中复位信号无法覆盖的问题，提高故障覆盖率；能够很大程度上节省自动测试设备（ATE）上的资源，高速测试较传统ATE测试拥有更高的质量，还具有更加容易集成的优点，同时在线测试（on_line testing）能够保证芯片启动后的可靠性。
[0018]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。
附图说明
[0019]附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，并与本专利技术的实施例一起，用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1为根据本专利技术的逻辑内建自测试的复位电路测试系统结构示意图。
[0020]图2为根据本专利技术的测试向量生成器示意图；图3为根据本专利技术的逻辑内建自测试的复位电路测试逻辑示意图；图4为根据本专利技术的逻辑内建自测试的复位电路测试方法流程图。
具体实施方式
[0021]以下结合附图对本专利技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0022]本专利技术实施例中，待测电路中存在复位置0寄存器，复位置1寄存器和无复位寄存器。
[0023]实施例1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统，其特征在于，包括，测试向量生成器、逻辑内建自测试控制器，以及测试响应分析器，其中，所述测试向量生成器，其生成复位测试向量和伪随机测试向量，接受所示逻辑内建自测试控制器的指令，将复位信号、时钟信号、扫描使能信号和扫描向量输出信号输出给待测电路；所述逻辑内建自测试控制器，其分别控制所述测试向量生成器的信号的输出和控制所述测试响应分析器对待测电路进行测试；所述测试响应分析器，其接受所述逻辑内建自测试控制器的指令，对待测电路进行测试。2.根据权利要求1所述的逻辑内建自测试的复位电路测试系统，其特征在于，所述测试向量生成器，还包括，复位测试向量生成器、伪随机测试向量生成器，以及选择器，其中，所述复位测试向量生成器，其用于生成复位测试向量；所述伪随机测试向量生成器，其用生成伪随机测试向量；所述选择器，其接受来自所述逻辑内建自测试控制器的控制，对输入的复位测试向量和伪随机测试向量进行选择，将复位信号、时钟信号、扫描使能信号和扫描向量输出信号输出给待测电路。3.一种逻辑内建自测试的复位电路测试方法，包括以下步骤：将复位测试使能置为1，选择复位测试向量输出，进行复位测试向量测试；将复位测试向量全部置为1，扫描向量输出全部置为1，进行复位测试向量测试；将复位测试向量全部置为0，扫描向量输出全部置为0，进行复位测试向量测试；将复位测试使能置为0，选择伪随机测试向量输出，进行伪随机测试向量测试。4.根据权利要求3所述的逻辑内建自测试的复位电路测试方法，其特征在于，所述将复位测试向量全部置为1，扫描向量输出全部置为1，进行复位测试向量测试的步骤，还包括，在扫描移位：将扫描输入置为1 ，扫描使能输出置为1，复位信号处于无效状态，时钟信号打拍为扫描链长度响应的拍数，使全1信号全部移位到待测电路所...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭腾飞，纪璐璐，
申请(专利权)人：南京芯驰半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：