存储器装置以及存储器的测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种存储器装置以及存储器的测试方法，可增加测试的速度。存储器的测试方法包括：产生多个测试数据；依据设定地址，使各测试数据被写入至存储器的多个选中存储区块中；依据上述的设定地址，由选中存储区块分别读取多个读出数据；并且，比较读出数据以产生测试结果。测试结果。测试结果。

【技术实现步骤摘要】
存储器装置以及存储器的测试方法


[0001]本专利技术涉及一种存储器装置以及存储器的测试方法，尤其涉及一种可增加测试速度的存储器装置以及存储器的测试方法。

技术介绍

[0002]由于现代制程尺寸不断微缩，存储器芯片测试上的失效模式(Failure Model)也变得复杂，越来越多的失效行为无法用简单的模型来解释，因此有越来越多的失效(Fault)无法被固定型的测试方法(Deterministic tests)检测出来。因此，随机式的测试(随机数测试或伪随机数测试)也就变得越来越重要。
[0003]目前主流的存储器测试机台并不适合做随机式的测试，主要是不容易及时产生随机的输入信号(例如命令信号、地址信号等)给存储器，也无法及时产生要跟存储器比对的预期数据。
[0004]此外随机式的测试通常需要较长的测试时间，所以如何缩短测试时间也是一个重要的考虑因素。

技术实现思路

[0005]本专利技术是针对一种存储器装置以及存储器的测试方法，可增加测试的速度。
[0006]根据本专利技术的实施例，存储器的测试方法包括：本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器的测试方法，包括：产生多个测试数据；依据设定地址，使每一所述测试数据被写入至所述存储器的多个选中存储区块中；依据所述设定地址，由所述多个选中存储区块分别读取多个读出数据；以及比较所述多个读出数据以产生测试结果。2.根据权利要求1所述的测试方法，其中产生所述多个测试数据的步骤包括：依据随机数生成机制以产生所述多个测试数据。3.根据权利要求1所述的测试方法，其中比较所述多个读出数据以产生所述测试结果的步骤包括：当所述多个读出数据均相同时，产生为通过的所述测试结果；以及当所述多个读出数据中至少其中之二不相同时，产生为失败的所述测试结果。4.根据权利要求1所述的测试方法，其中比较所述多个读出数据以产生所述测试结果的步骤包括：使所述多个读出数据执行互斥或运算以产生所述测试结果。5.根据权利要求1所述的测试方法，其中所述多个选中存储区块为所述存储器中的所有存储区块或部分存储区块。6.根据权利要求1所述的测试方法，其中依据所述设定地址，由所述多个选中存储区块分别读取所述多个读出数据的步骤包括：依据所述设定地址，提供多个感测放大器以分别感测所述多个选中存储区块中的数据，以分别获得所述多个读出数据。7.一种存储器装置，包括：测试数...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤志栋，赖志强，
申请(专利权)人：华邦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：