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本发明提供一种存储器装置以及存储器的测试方法，可增加测试的速度。存储器的测试方法包括：产生多个测试数据；依据设定地址，使各测试数据被写入至存储器的多个选中存储区块中；依据上述的设定地址，由选中存储区块分别读取多个读出数据；并且，比较读出数据...
该专利属于华邦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华邦电子股份有限公司授权不得商用。

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