光测距装置制造方法及图纸

技术编号:33078569 阅读:28 留言:0更新日期:2022-04-15 10:20
本发明专利技术提供光测距装置(200),具备:壳体(80);发光部(40),射出激光(DL);反射镜(51),配置于壳体的内部,使从发光部射出的激光反射;旋转部(52),使反射镜旋转;受光部(60),具有用于接收入射光的受光元件(68);窗部(82),布置于上述壳体,用于将由上述反射镜反射的激光射出至上述壳体的外部;以及基准角度标识(70),布置于壳体或者上述窗部中的至少任意一方,当反射镜的旋转角度为预先规定的基准旋转角度时被受光部检测出。角度时被受光部检测出。角度时被受光部检测出。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光测距装置
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请基于2019年9月3日申请的日本申请号2019-159995号以及2020年8月21日申请的日本申请号2020-139971号,在此引用其记载内容。


[0003]本公开涉及光测距装置。

技术介绍

[0004]已知有一种光测距装置,具备检测反射测距用的激光的反射镜的旋转角度的旋转角度传感器、以及产生用于检测反射镜的基准旋转角度的时钟信号的电路(例如,日本特开2011-85577号公报)。
[0005]在光测距装置中,存在希望抑制部件数量的增加,并且通过简易的方法来检测反射镜的基准旋转角度的要求。

技术实现思路

[0006]本公开是为了解决上述的课题的至少一部分而完成的,能够作为以下的方式或者应用例来实现。
[0007]根据本公开的一个方式,提供光测距装置。该光测距装置具备:壳体;发光部,射出激光;反射镜,配置于上述壳体的内部,使从上述发光部射出的上述激光反射;旋转部,使上述反射镜旋转;受光部,具有用于接收入射光的受光元件;窗部,布置于上述壳体,用于将由上述反射镜反射的激光射出至上述壳体的外部;以及基准角度标识,布置于上述壳体或者上述窗部中的至少任意一方,当上述反射镜的旋转角度为预先规定的基准旋转角度时被上述受光部检测出。
[0008]根据该方式的光测距装置,当反射镜的旋转角度为预先规定的基准旋转角度时,布置于壳体的基准角度标识被受光部检测出。因此,不用在光测距装置另外设置用于检测基准旋转角度的传感器等,抑制部件数量的增加,而能够通过利用反射镜与受光部的简易的方法来检测基准旋转角度。
附图说明
[0009]通过参照附图进行下述的详细描述,关于本公开的上述目的以及其他的目的、特征、优点变得更加明确。
[0010]图1是表示第一实施方式的光测距装置的结构的说明图。
[0011]图2是表示受光部的结构的说明图。
[0012]图3是表示基准角度标识的结构的说明图。
[0013]图4是表示由位置偏差检测装置进行的旋转角度偏差检测控制的流程图。
[0014]图5是表示基准角度标识的检测方法的说明图。
[0015]图6是表示使用信号强度分布来检测基准角度标识的方法的说明图。
[0016]图7是表示第二实施方式的光测距装置的结构的说明图。
[0017]图8是表示第二实施方式中的基准角度标识的检测方法的说明图。
[0018]图9是表示第三实施方式的光测距装置的结构的说明图。
[0019]图10是表示使用信号强度分布来检测第一基准角度标识的方法的说明图。
[0020]图11是表示使用信号强度分布来检测第二基准角度标识的方法的说明图。
[0021]图12是表示第四实施方式的光测距装置的结构的说明图。
[0022]图13是表示被反射镜遮挡的基准角度标识的说明图。
[0023]图14是表示第五实施方式的光测距装置的结构的说明图。
[0024]图15是表示使用干扰光的信号强度来检测基准旋转角度的方法的说明图。
[0025]图16是表示测距和旋转角度偏差检测所使用的受光区域的说明图。
[0026]图17是表示检测出基准角度标识的图像的说明图。
[0027]图18是表示其他实施方式中的基准角度标识的例子的说明图。
[0028]图19是表示布置于窗部的基准角度标识的例子的说明图。
具体实施方式
[0029]A.第一实施方式:
[0030]如图1所示,作为本公开中的第一实施方式的光测距装置200具备壳体80、发光部40、扫描部50、受光部60以及位置偏差检测装置100。发光部40、扫描部50以及受光部60配置于壳体80的内部。壳体80具备窗部82和基准角度标识70。光测距装置200例如搭载于车辆,用于障碍物的检测、测定距障碍物的距离。图示的XYZ方向在包含图1的各图中共用。
[0031]发光部40具备作为光源的射出半导体激光器的激光二极管,射出测距用的激光DL。在本实施方式中,激光DL在铅垂方向上具有预先规定的射出宽度。为了高效地使扫描范围扩大,优选在与旋转部52的扫描方向交叉的方向上设定激光DL的射出宽度。例如能够根据光源的个数、光源的排列、多个光源中每个光源的角度、以及使用配置于发光部40内的调节激光DL的射出角度的透镜等来任意地设定激光DL的射出宽度的大小。发光部40的光源除了激光二极管以外,也可以使用固体激光器这样的其他光源。
[0032]扫描部50由所谓的一维扫描仪构成。扫描部50具备反射镜51、旋转部52以及旋转角度传感器54。旋转部52接收来自后述的控制部110的控制信号,将中心轴AX作为旋转轴进行正转以及反转,使固定于旋转部52的反射镜51在沿着水平面的一个方向上扫描。旋转角度传感器54是检测A相以及B相的信号并获取相对旋转角度的增量式光学旋转编码器。旋转角度传感器54每隔预先规定的角度检测旋转部52的旋转角度。以下,将由旋转角度传感器54检测的旋转部52的旋转角度也称为检测角度。
[0033]窗部82布置于相对于扫描部50成为Y方向侧的壳体80的壁面。窗部82例如由玻璃等透过激光DL的矩形状的部件构成。从发光部40射出的激光DL被反射镜51反射,透过窗部82并射出至壳体80的外部。
[0034]扫描范围RA是为了光测距装置200进行测距而使激光DL扫描的范围。通过由旋转角度传感器54检测旋转部52的旋转角度,并且由后述的控制部110使旋转部52旋转,来实现扫描范围RA内的扫描。若受光部60接收到来自扫描范围RA内的对象物,例如物体OB的反射
光RL,则将与入射光的受光状态相应的信号输出至位置偏差检测装置100。
[0035]位置偏差检测装置100具备公知的微处理器、存储器,通过微处理器执行预先准备的程序,来控制控制部110、加法部120、信号强度分布生成部130、峰值检测部140、测距部150、位置偏差计算部160以及校正部170各部。在本实施方式中,位置偏差检测装置100使用受光部60输出的信号,来执行距存在于扫描范围RA内的物体OB的距离的测定即测距以及反射镜51的旋转角度的偏差量的检测。位置偏差检测装置100也可以每次执行测距就执行多次偏差量的检测,也可以在停止车辆时、起动车辆时、起动光测距装置200时等特定的定时进行。所谓“反射镜51的旋转角度的偏差量”表示反射镜51的旋转角度与由旋转角度传感器54检测到的旋转部52的检测角度的偏差量。例如,旋转角度与检测角度的偏差因在光测距装置200起动时旋转部52的旋转角度的绝对位置变动而产生。
[0036]控制部110进行包含发光部40、扫描部50以及受光部60的各部的控制。更具体而言,控制部110除了对发光部40输出使激光二极管发光的指令信号、输出使受光部60的受光元件68激活的地址信号以外,还输出使信号强度分布生成部130生成直方图的指示信号、针对扫描部50的本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种光测距装置(200、200b、200c、200d、200e),具备:壳体(80);发光部(40),射出激光(DL);反射镜(51),配置于上述壳体的内部,使从上述发光部射出的上述激光反射;旋转部(52),使上述反射镜旋转;受光部(60),具有用于接收入射光的受光元件(68);窗部(82),布置于上述壳体,用于将由上述反射镜反射的激光射出至上述壳体的外部;以及基准角度标识(70、70b1、70b2、70c1、70c2、70d、70e、70f1、70f2),布置于上述壳体或者上述窗部中的至少任意一方,当上述反射镜的旋转角度为预先规定的基准旋转角度(AT、ATb1、ATb2、AT3、ATf1、ATf2)时被上述受光部检测出。2.根据权利要求1所述的光测距装置,其中,上述旋转部使上述反射镜沿着一个方向扫描,上述发光部射出在与上述一个方向交叉的方向上具有预先规定的宽度的激光,上述受光部具备多个上述受光元件,多个上述受光元件被排列成对应于上述预先规定的宽度。3.根据权利要求1或2所述的光测距装置,其中,上述基准角度标识包含上述窗部与上述壳体的边界(82e1、82e2)。4.根据权利要求1~3中任一项所述的光测距装置,其中,上述基准角度标识包含布置于上述窗部的加热器(83)的电极(84、85)或布线。5.根据权利要求1~4中任一项所述的光测距装置,其中,还具备:旋转角度传感器(54、54e),检测上述反射镜的旋转角度;以及位置偏差检测装置(100),检测上述反射镜的旋转角度与由上述旋转角度传感器检测到的上述反射镜的旋转角度的检测角度的偏差量,上述位置偏差检测装置进行如下处理:控制上述旋转部,在包含上述基准旋转角度的角度范围内每次旋转预先规定的单位检测角度(TD)地使上述反射镜旋转;获取由上述受光部检测的每个上述预先规定的单位检测角度的受光信号,并生成上述受光信号的分布或者使用上述受...

【专利技术属性】
技术研发人员:植野晶文木村祯祐水野文明
申请(专利权)人:株式会社电装
类型:发明
国别省市:

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