本申请属于芯片测试技术领域，提供了一种同步测试装置与同步测试方法。一种同步测试装置，包括：数字激励响应单元、信号源单元、信号分析单元和电源单元；数字激励响应单元被配置为，分别向被测芯片与信号源单元输出控制信号与第一触发信号，由于控制信号与第一触发信号在时域上同步关联，且控制信号用于指示被测芯片的工作状态，因此信号源单元通过响应该第一触发信号时，能够在输出射频输入信号至被测芯片的同时，输出第二触发信号至信号分析单元和电源单元，触发电源单元给被测芯片供电，在无需配置测试用例的条件下，使得在对被测芯片进行测试时，以更精简的方式实现了工作协同与动作同步，简化了对被测芯片测试的过程，提高测试效率。试效率。试效率。
【技术实现步骤摘要】
一种同步测试装置与同步测试方法
[0001]本专利技术属于芯片测试
，尤其涉及一种同步测试装置与同步测试方法。
技术介绍
[0002]目前，在对芯片进行测试时，通过配置相应的测试用例，由自动测试设备通过执行该测试用例实现对芯片的测试。然而，目前的自动测试设备中设置有多种不同测试功能的测试组件，相应地，在配置芯片的测试用例时，需要考虑多种不同测试功能的测试组件之间的协同或同步，从而导致测试用例的配置过于繁琐，不利于提高芯片的测试与生产。
技术实现思路
[0003]有鉴于此，本申请实施例提供了一种同步测试装置与同步测试方法，以解决现有技术中对芯片进行测试存在的测试效率较低的问题。
[0004]本申请实施例的第一方面提供了一种同步测试装置，包括：数字激励响应单元、信号源单元、信号分析单元和电源单元；
[0005]数字激励响应单元，被配置为输出控制信号至被测芯片，输出第一触发信号至信号源单元；所述控制信号与所述第一触发信号在时域上同步关联，所述控制信号用于指示所述被测芯片的工作状态；
[0006]所述信号源单元被配置为，响应所述第一触发信号以输出射频输入信号至所述被测芯片，以及输出第二触发信号至所述信号分析单元和所述电源单元，其中，射频输入信号用于输入至所述被测芯片中进行处理，输出射频输出信号，所述第二触发信号用于触发所述信号分析单元对所述射频输出信号进行分析处理，以及触发所述电源单元给所述被测芯片供电。
[0007]进一步地，所述同步测试装置还包括：控制背板以及设置在所述控制背板上的多组测试卡位单元，每组测试卡位单元包括至少一个测试连接卡位，所述测试连接卡位用于连接所述数字激励响应单元、所述信号源单元和所述电源单元。
[0008]进一步地，同一测试卡位单元上的不同测试连接卡位之间相互连接以触发同步，不同测试卡位单元上的不同测试连接卡位之间通过配置触发总线以触发同步。
[0009]进一步地，以初始状态为低电平的触发总线连接所述控制背板和所有所述测试连接卡位，所有所述测试连接卡位均以所述触发总线被拉高为高电平作为触发信号，或者，以初始状态为高电平的触发总线连接所述控制背板和所有所述测试连接卡位，所有所述测试连接卡位均以所述触发总线被拉低为低电平作为触发信号。
[0010]本申请实施例的第二方面提供了一种同步测试方法，应用于同步测试装置，包括：
[0011]数字激励响应单元输出控制信号至被测芯片，以及输出第一触发信号至信号源单元；所述控制信号与所述第一触发信号在时域上同步关联，所述控制信号用于指示所述被测芯片的工作状态；
[0012]所述信号源单元响应所述第一触发信号以输出射频输入信号至所述被测芯片，以
及输出第二触发信号至所述信号分析单元和所述电源单元；
[0013]所述电源单元基于所述第一触发信号给所述被测芯片供电；
[0014]所述被测芯片对所述射频输入信号进行放大处理，输出射频输出信号；
[0015]所述信号分析单元基于所述第二触发信号对所述射频输出信号进行分析处理。
[0016]进一步地，控制背板获取预设脚本文件，所述预设脚本文包括背板配置脚本段；
[0017]所述控制背板根据所述背板配置脚本段，发送触发指令至所述数字激励响应单元，以触发所述数字激励响应单元输出控制信号至被测芯片，以及输出第一触发信号至信号源单元。
[0018]进一步地，所述预设脚本文还包括触发配置脚本段，所述触发配置脚本段包括触发方式、第一组传输端口和第二组传输端口；
[0019]所述数字激励响应单元响应触发指令，输出控制信号至被测芯片，以及输出第一触发信号至信号源单元，包括：
[0020]所述数字激励响应单元响应触发指令，按照所述触发方式，通过所述第一组传输端口向所述被测芯片输出所述控制信号，通过所述第二组传输端口向所述信号源单元输出所述第一触发信号。
[0021]进一步地，所述触发配置脚本段包括第一标记信号；
[0022]所述数字激励响应单元响应触发指令，按照所述触发方式，通过所述第一组传输端口向所述被测芯片输出所述控制信号，通过所述第二组传输端口向所述信号源单元输出所述第一触发信号，包括：
[0023]所述数字激励响应单元响应触发指令，基于所述第一标记信号，通过所述第一组传输端口向所述被测芯片输出控制信号，通过所述第二组传输端口向所述信号源单元输出第一触发信号。
[0024]进一步地，所述预设脚本文还包括信号源配置脚本段，所述信号源配置脚本段包括第二标记信号；
[0025]所述信号源单元响应所述第一触发信号以输出射频输入信号至所述被测芯片，以及输出第二触发信号至所述信号分析单元和所述电源单元，包括：
[0026]所述信号源单元基于所述第二标记信号，在检测到所述第一触发信号时，输出射频输入信号至所述被测芯片，以及输出第二触发信号至所述信号分析单元和所述电源单元。
[0027]进一步地，所述第一触发信号为第一上升沿信号或第一下降沿信号，所述第二触发信号为第二上升沿信号或第二降沿信号。
[0028]实施本申请实施例提供的一种同步测试装置与同步测试方法，具有以下有益效果：
[0029]本申请实施例提供的同步测试装置，包括：数字激励响应单元、信号源单元、信号分析单元和电源单元；数字激励响应单元被配置为，分别向被测芯片与信号源单元输出控制信号与第一触发信号，由于控制信号与第一触发信号在时域上同步关联，且控制信号用于指示被测芯片的工作状态，因此信号源单元通过响应该第一触发信号时，能够在输出射频输入信号至被测芯片的同时，输出第二触发信号至信号分析单元和电源单元，触发电源单元给被测芯片供电，使得被测芯片在控制信号指示的工作状态下对射频输入信号进行处
理输出射频输出信号，且触发信号分析单元对被测芯片输出的射频输出信号进行分析处理，在无需配置测试用例的条件下，使得在对被测芯片进行测试时，以更精简的方式实现了数字激励响应单元、信号源单元、信号分析单元以及电源单元之间的工作协同与动作同步，简化了对被测芯片测试的实现过程，提高了芯片的测试效率。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]图1是本申请实施例提供的一种同步测试装置的结构示意图；
[0032]图2是本申请另一实施例提供的一种同步测试装置的结构示意图；
[0033]图3是本申请实施例提供的一种同步测试方法的实现流程图；
[0034]图4是本申请另一实施例提供的一种同步测试方法的实现流程图。
具体实施方式
[0035]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种同步测试装置，其特征在于，包括：数字激励响应单元、信号源单元、信号分析单元和电源单元；数字激励响应单元，被配置为输出控制信号至被测芯片，以及输出第一触发信号至信号源单元；所述控制信号与所述第一触发信号在时域上同步关联，所述控制信号用于指示所述被测芯片的工作状态；所述信号源单元被配置为，响应所述第一触发信号以输出射频输入信号至所述被测芯片，以及输出第二触发信号至所述信号分析单元和所述电源单元，其中，射频输入信号用于输入至所述被测芯片中进行处理，输出射频输出信号，所述第二触发信号用于触发所述信号分析单元对所述射频输出信号进行分析处理，以及触发所述电源单元给所述被测芯片供电。2.根据权利要求1所述的同步测试装置，其特征在于，所述同步测试装置还包括：控制背板以及设置在所述控制背板上的多组测试卡位单元，每组测试卡位单元包括至少一个测试连接卡位，所述测试连接卡位用于连接所述数字激励响应单元、所述信号源单元和所述电源单元。3.根据权利要求2所述的同步测试装置，其特征在于，同一测试卡位单元上的不同测试连接卡位之间相互连接以触发同步，不同测试卡位单元上的不同测试连接卡位之间通过配置触发总线以触发同步。4.根据权利要求3所述的同步测试装置，其特征在于，以初始状态为低电平的触发总线连接所述控制背板和所有所述测试连接卡位，所有所述测试连接卡位均以所述触发总线被拉高为高电平作为触发信号，或者，以初始状态为高电平的触发总线连接所述控制背板和所有所述测试连接卡位，所有所述测试连接卡位均以所述触发总线被拉低为低电平作为触发信号。5.一种同步测试方法，其特征在于，应用于同步测试装置，包括：数字激励响应单元输出控制信号至被测芯片，以及输出第一触发信号至信号源单元；所述控制信号与所述第一触发信号在时域上同步关联，所述控制信号用于指示所述被测芯片的工作状态；所述信号源单元响应所述第一触发信号以输出射频输入信号至所述被测芯片，以及输出第二触发信号至所述信号分析单元和所述电源单元；所述电源单元基于所述第二触发信号给所述被测芯片供电；所述被测芯片对所述射频输入信号进行放大处理，输出射频输出信号；所述信号分析单元基于所...
【专利技术属性】
技术研发人员：林楷辉，陈宏毅，倪建兴，
申请(专利权)人：锐石创芯深圳科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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