一种内存芯片的测试方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种内存芯片的测试方法、装置、设备及介质，涉及半导体芯片测试技术领域，所述方法应用于测试电脑中，包括：若接收到测试指令，发送系统级测试开始命令到手机测试主板；接收所述手机测试主板反馈的模拟真实环境测试的结果；若所述模拟真实环境测试的结果为失败，则发送第一停止测试命令到所述手机测试主板，以及发送第二停止测试命令到集成电路自动测试机。因此，通过对内存芯片先进行模拟真实环境测试后，再根据所述模拟真实环境测试的结果再决定是否进行自动化量产测试，使得测试时间缩短，提高了测试效率。提高了测试效率。提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种内存芯片的测试方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及半导体芯片测试
，尤其涉及一种内存芯片的测试方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]目前主流的LPDDR封装成品测试方式可分为三个阶段：第一阶段是EVB，第二阶段是ATE，第三阶段是SLT。一般EVB指的是实验室测试阶段，这段时间是在验证芯片设计的正确性，ATE是自动化量产测试，一般测试芯片的功能和性能是否失效。SLT是要模拟真实环境测试，系统级的测试。
[0003]现有技术是先进行自动化量产测试后进行模拟真实环境测试，而由于自动化量产测试中是利用大量时间从而分出很多有用的不同等级的产品，但是到了模拟真实环境测试还是有可能直接被认定为不良品，那么导致前面自动化量产测试(即ATE)所花费的大量时间和人力就白白浪费了。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种内存芯片的测试方法、装置、设备及介质，以解决现有技术对内存芯片先进行自动化量产测试后进行模拟真实环境测试而导致花费更多的大量时间和人力的问题。
[0005]为了解决上述问题，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内存芯片的测试方法，其特征在于，应用于测试电脑中，包括：若接收到测试指令，发送系统级测试开始命令到手机测试主板，所述系统级测试开始命令用于使所述手机测试主板对内存芯片进行模拟真实环境测试；接收所述手机测试主板反馈的模拟真实环境测试的结果；若所述模拟真实环境测试的结果为失败，则发送第一停止测试命令到所述手机测试主板，以及发送第二停止测试命令到集成电路自动测试机，所述第一停止测试命令用于使所述手机测试主板停止对所述内存芯片的模拟真实环境测试，所述第二停止测试命令用于使所述集成电路自动测试机停止对所述内存芯片进行等级测试。2.根据权利要求1所述的内存芯片的测试方法，其特征在于，所述接收所述手机测试主板反馈的模拟真实环境测试的结果之后，所述方法还包括：若所述模拟真实环境测试的结果为通过，则发送等级测试开始命令到所述集成电路自动测试机中，所述等级测试开始命令用于使所述集成电路自动测试机根据预设的测试软件以及预设的条件对所述内存芯片进行等级测试。3.根据权利要求2所述的内存芯片的测试方法，其特征在于，所述所述集成电路自动测试机根据预设的测试软件以及预设的条件对所述内存芯片进行等级测试，包括：所述集成电路自动测试机根据预设条件中的条件层级从高到低依次判断所述内存芯片是否符合所述预设条件的条件层级；若是，将所述内存芯片的等级判定为所述内存芯片所符合的条件层级对应的等级。4.根据权利要求3所述的内存芯片的测试方法，其特征在于，所述所述集成电路自动测试机根据预设的测试软件以及预设的条件对所述内存芯片进行等级测试，还包括：若否，将所述内存芯片判定为不良品。5.根据权利要求1所述的内存芯片的测试方法，其特征在于，所述接收所述手机测试主板反馈的模拟真实环境测试的结果之后，所述方...

【专利技术属性】
技术研发人员：李创锋，
申请(专利权)人：深圳市金泰克半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：