全智能芯片老化测试分选设备制造技术

本发明专利技术公开了全智能芯片老化测试分选设备，包括试验箱，试验箱的一侧固定有水箱，水箱上固定有盖板，盖板上固定嵌入有抽水管，盖板上固定有水泵，水泵的端口与抽水口对接固定，盖板上固定嵌入有进水口，进水口上铰接有挡板，挡板上设置有气孔，试验箱的内壁上安装有立柱，立柱上固定有滑块，滑块上滑动设置有置物座。本发明专利技术通过外置的水箱可确保试验箱恒湿过程的水量供应，无需频繁的将试验箱的储水结构取出加水，通过浮球在水箱内水位较低时下降，使得两个铜块接触，从而让蜂鸣器响起，进行水量过低预警，避免试验箱出现无水空加湿的情况。况。况。

【技术实现步骤摘要】
全智能芯片老化测试分选设备


[0001]本专利技术涉及半导体测试的机台
，具体为全智能芯片老化测试分选设备。

技术介绍

[0002]针对半导体领域，老化测试通常是采用极端条件对半导体器件的相关参数进行检测，直至半导体器件的参数出现异常，通常采用的极端条件为高温、高压、或高湿度等。
[0003]目前，半导体器件老化测试分选的机体多采用恒温恒湿试验箱进行预先模拟，这类箱体可实现高温、低温、湿度、干燥度的控制，可全面的模拟半导体器件的老化环境。
[0004]但由于箱体的湿度控制需要采用水进行加湿，而常规的恒温恒湿试验箱的内部水箱体积较小，在持续的工作状态下，需要频繁的取出加水，费时费力，相对繁琐。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供全智能芯片老化测试分选设备，以解决吃箱体恒湿状态供水量的问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：全智能芯片老化测试分选设备，包括试验箱，所述试验箱的一侧固定有水箱，所述水箱上固定有盖板，所述盖板上固定嵌入有抽水管，所述盖板上固定有水泵，所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.全智能芯片老化测试分选设备，包括试验箱(1)，其特征在于：所述试验箱(1)的一侧固定有水箱(11)，所述水箱(11)上固定有盖板(12)，所述盖板(12)上固定嵌入有抽水管(13)，所述盖板(12)上固定有水泵(14)，所述水泵(14)的端口与抽水口对接固定，所述盖板(12)上固定嵌入有进水口(15)，所述进水口(15)上铰接有挡板(16)，所述挡板(16)上设置有气孔，所述试验箱(1)的内壁上安装有立柱(17)，所述立柱(17)上固定有滑块(19)，所述滑块(19)上滑动设置有置物座(18)，所述试验箱(1)的一侧固定有分选台(110)。2.根据权利要求1所述的全智能芯片老化测试分选设备，其特征在于：所述盖板(12)上固定有筒体(2)，筒体(2)的上端固定有蜂鸣器(21)。3.根据权利要求2所述的全智能芯片老化测试分选设备，其特征在于：所述筒体(2)的内壁上固定有密封圈(22)，密封圈(22)内滑动贯穿有方形杆(23)。4.根据权利要求3所述的全智能芯片老化测试分选设备，其特征在于：所述方形杆(23)的下端固定有浮球(24)，方形杆(23)的上端固定有与筒体(2)滑动套设的防脱板(25)。5.根据权利要求4所述的全智能芯片老化测试分选设备，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈冬兵，
申请(专利权)人：苏州欣华锐电子有限公司，
类型：发明
国别省市：