全智能芯片老化测试分选设备制造技术

本发明专利技术公开了全智能芯片老化测试分选设备，包括试验箱，试验箱的一侧固定有水箱，水箱上固定有盖板，盖板上固定嵌入有抽水管，盖板上固定有水泵，水泵的端口与抽水口对接固定，盖板上固定嵌入有进水口，进水口上铰接有挡板，挡板上设置有气孔，试验箱的内壁上安装有立柱，立柱上固定有滑块，滑块上滑动设置有置物座。本发明专利技术通过外置的水箱可确保试验箱恒湿过程的水量供应，无需频繁的将试验箱的储水结构取出加水，通过浮球在水箱内水位较低时下降，使得两个铜块接触，从而让蜂鸣器响起，进行水量过低预警，避免试验箱出现无水空加湿的情况。况。况。

【技术实现步骤摘要】
全智能芯片老化测试分选设备


[0001]本专利技术涉及半导体测试的机台
，具体为全智能芯片老化测试分选设备。

技术介绍

[0002]针对半导体领域，老化测试通常是采用极端条件对半导体器件的相关参数进行检测，直至半导体器件的参数出现异常，通常采用的极端条件为高温、高压、或高湿度等。
[0003]目前，半导体器件老化测试分选的机体多采用恒温恒湿试验箱进行预先模拟，这类箱体可实现高温、低温、湿度、干燥度的控制，可全面的模拟半导体器件的老化环境。
[0004]但由于箱体的湿度控制需要采用水进行加湿，而常规的恒温恒湿试验箱的内部水箱体积较小，在持续的工作状态下，需要频繁的取出加水，费时费力，相对繁琐。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供全智能芯片老化测试分选设备，以解决吃箱体恒湿状态供水量的问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：全智能芯片老化测试分选设备，包括试验箱，所述试验箱的一侧固定有水箱，所述水箱上固定有盖板，所述盖板上固定嵌入有抽水管，所述盖板上固定有水泵，所述水泵的端口与抽水口对接固定，所述盖板上固定嵌入有进水口，所述进水口上铰接有挡板，所述挡板上设置有气孔，所述试验箱的内壁上安装有立柱，所述立柱上固定有滑块，所述滑块上滑动设置有置物座，所述试验箱的一侧固定有分选台。
[0007]优选的，所述盖板上固定有筒体，筒体的上端固定有蜂鸣器，能够在水位较低时进行预警。
[0008]优选的，所述筒体的内壁上固定有密封圈，密封圈内滑动贯穿有方形杆，通过形状限位，能够直上直下的运动。
[0009]优选的，所述方形杆的下端固定有浮球，方形杆的上端固定有与筒体滑动套设的防脱板，浮球可随着水位进行上下漂浮移动。
[0010]优选的，所述密封圈上固定有第一铜块，所述防脱板上固定有第二铜块，第一铜块与蜂鸣器的负极连接，蜂鸣器的负极与电源的正极连接，电源的正极与开关的负极连接，开关的正极与第二铜块连接，第一铜块与第二铜块接触连接，通过行程结构，实现蜂鸣器的准确预警。
[0011]优选的，所述置物座上设置有定位孔，定位孔内滑动套设有定位销，定位销配合定位槽能够能够实现置物座与滑块的安装对接。
[0012]优选的，所述定位销上缠绕有弹簧，弹簧的两端分别与定位销和置物座连接，保证定位销的伸缩复位稳定。
[0013]优选的，所述滑块上设置有定位槽，所述定位销与定位槽滑动插入设置，拉动定位销即可完成置物座与立柱的安装，简单快捷。
[0014]优选的，所述试验箱内固定有螺纹杆，立柱上固定有与螺纹杆滑动套设的套环，可根据实际需要进行立柱的安装和拆卸。
[0015]优选的，所述螺纹杆上螺纹设置有螺纹帽，螺纹帽与螺纹杆相互螺纹设置，螺纹帽可手动扭动，无需工具，即可操作。
[0016]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0017]1.本专利技术通过外置的水箱可确保试验箱恒湿过程的水量供应，无需频繁的将试验箱的储水结构取出加水。
[0018]2.本专利技术通过浮球在水箱内水位较低时下降，使得两个铜块接触，从而让蜂鸣器响起，进行水量过低预警，避免试验箱出现无水空加湿的情况。
附图说明
[0019]图1为本专利技术的整体结构示意图；
[0020]图2为本专利技术的水箱局部放大示意图；
[0021]图3为本专利技术的a处放大示意图；
[0022]图4为本专利技术的b处放大示意图。
[0023]图中：1、试验箱；11、水箱；12、盖板；13、抽水管；14、水泵；15、进水口；16、挡板；17、立柱；18、置物座；19、滑块；110、分选台；2、筒体；21、蜂鸣器；22、密封圈；23、方形杆；24、浮球；25、防脱板；3、第一铜块；31、第二铜块；4、定位孔；41、定位销；42、弹簧；43、定位槽；5、螺纹杆；51、套环；52、螺纹帽。
具体实施方式
[0024]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0025]实施例Ⅰ[0026]请参阅图1和图2，全智能芯片老化测试分选设备，包括试验箱1，试验箱1的一侧固定有水箱11，水箱11上固定有盖板12，盖板12上固定嵌入有抽水管13，盖板12上固定有水泵14，水泵14的端口与抽水口对接固定，盖板12上固定嵌入有进水口15，进水口15上铰接有挡板16，挡板16上设置有气孔，试验箱1的内壁上安装有立柱17，立柱17上固定有滑块19，滑块19上滑动设置有置物座18，试验箱1的一侧固定有分选台110，分选台110上可摆放对应半导体芯片的测试设备，然后进行最终的测试筛分，分选过程包括预模拟和筛分，先将半导体芯片进行老化模拟，然后测试筛分。
[0027]请参阅图1和图2，盖板12上固定有筒体2，筒体2的上端固定有蜂鸣器21，能够在水位较低时进行预警。
[0028]请参阅图1和图2，筒体2的内壁上固定有密封圈22，密封圈22内滑动贯穿有方形杆23，通过形状限位，能够直上直下的运动。
[0029]请参阅图1和图2，方形杆23的下端固定有浮球24，方形杆23的上端固定有与筒体2滑动套设的防脱板25，浮球24可随着水位进行上下漂浮移动。
[0030]请参阅图1和图2，密封圈22上固定有第一铜块3，防脱板25上固定有第二铜块31，第一铜块3与蜂鸣器21的负极连接，蜂鸣器21的负极与电源的正极连接，电源的正极与开关的负极连接，开关的正极与第二铜块31连接，第一铜块3与第二铜块31接触连接，通过行程结构，实现蜂鸣器21的准确预警。
[0031]本实施例在使用时：水泵14通过导线与室内220V电源插排插接通电。
[0032]实施例Ⅱ[0033]请参阅图1和图2，本实施方式对于实施例1进一步说明，全智能芯片老化测试分选设备，包括试验箱1，试验箱1的一侧固定有水箱11，水箱11上固定有盖板12，盖板12上固定嵌入有抽水管13，盖板12上固定有水泵14，水泵14的端口与抽水口对接固定，盖板12上固定嵌入有进水口15，进水口15上铰接有挡板16，挡板16上设置有气孔，试验箱1的内壁上安装有立柱17，立柱17上固定有滑块19，滑块19上滑动设置有置物座18。
[0034]请参阅图1和图3，置物座18上设置有定位孔4，定位孔4内滑动套设有定位销41，定位销41配合定位槽43能够能够实现置物座18与滑块19的安装对接。
[0035]请参阅图1和图3，定位销41上缠绕有弹簧42，弹簧42的两端分别与定位销41和置物座18连接，保证定位销41的伸缩复位稳定。
[0036]请参阅图1和图3，滑块19上设置有定位槽43，定位销41与定位槽43滑动插入设置，拉动定位销41即可完成置物座18与立柱17的安本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.全智能芯片老化测试分选设备，包括试验箱(1)，其特征在于：所述试验箱(1)的一侧固定有水箱(11)，所述水箱(11)上固定有盖板(12)，所述盖板(12)上固定嵌入有抽水管(13)，所述盖板(12)上固定有水泵(14)，所述水泵(14)的端口与抽水口对接固定，所述盖板(12)上固定嵌入有进水口(15)，所述进水口(15)上铰接有挡板(16)，所述挡板(16)上设置有气孔，所述试验箱(1)的内壁上安装有立柱(17)，所述立柱(17)上固定有滑块(19)，所述滑块(19)上滑动设置有置物座(18)，所述试验箱(1)的一侧固定有分选台(110)。2.根据权利要求1所述的全智能芯片老化测试分选设备，其特征在于：所述盖板(12)上固定有筒体(2)，筒体(2)的上端固定有蜂鸣器(21)。3.根据权利要求2所述的全智能芯片老化测试分选设备，其特征在于：所述筒体(2)的内壁上固定有密封圈(22)，密封圈(22)内滑动贯穿有方形杆(23)。4.根据权利要求3所述的全智能芯片老化测试分选设备，其特征在于：所述方形杆(23)的下端固定有浮球(24)，方形杆(23)的上端固定有与筒体(2)滑动套设的防脱板(25)。5.根据权利要求4所述的全智能芯片老化测试分选设备，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈冬兵，
申请(专利权)人：苏州欣华锐电子有限公司，
类型：发明
国别省市：