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本发明公开了全智能芯片老化测试分选设备，包括试验箱，试验箱的一侧固定有水箱，水箱上固定有盖板，盖板上固定嵌入有抽水管，盖板上固定有水泵，水泵的端口与抽水口对接固定，盖板上固定嵌入有进水口，进水口上铰接有挡板，挡板上设置有气孔，试验箱的内壁上...
该专利属于苏州欣华锐电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州欣华锐电子有限公司授权不得商用。

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