集成电路质量评价方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种集成电路质量评价方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取集成电路产品质量的质量影响要素集，其中，质量影响要素集包括n个级联的质量影响要素，且第i+1级质量影响要素为第i级质量影响要素的影响因子，1≤i≤n，且n为大于等于2的正整数；并根据质量影响要素集构建质量评价指标体系；进而根据质量评价指标体系对集成电路的产品质量进行评价。通过本方法增加了每级质量评价要素的全面性及关联性，使得集成电路的质量评价体系更加全面和具体，增加了集成电路质量评价体系的准确度。成电路质量评价体系的准确度。成电路质量评价体系的准确度。

【技术实现步骤摘要】
集成电路质量评价方法、装置、计算机设备和存储介质


[0001]本申请涉及微电子器件
，特别是涉及一种集成电路质量评价方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。

技术介绍

[0002]集成电路(Integrated Circuit，IC)作为电子设备的一个重要组成部分，是电子设备完成最终功能的基本单元，对系统的发挥起到关键作用。就集成电路而言，有其特殊性，它具有品种多、批量大、数量多、质量和安全要求高等特点，其质量的好坏直接关系到电子设备功能性能的发挥，关系到我国高效率计算、移动通讯、装备能力能否达到国际水平。通常，采用产品检验并生成检验报告的方式对集成电路的产品质量进行评价。但由于检验报告仅可将产品区分为合格品与不合格品两类，且除了给出技术要求及测试值外，并没有分析该测试值处于何种水平、质量有多好，不能更通俗、明了地表述该产品质量水平的高低，使得人们无法进一步对同是合格品的产品进行质量水平高低的比较。
[0003]目前，人们基于产品质量概念模型，提出了从质量符合性、质量适用性和质量外部性三个维度对产品质量进行评价，并构建了本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路质量评价方法，其特征在于，所述方法包括：获取集成电路产品质量的质量影响要素集，其中，所述质量影响要素集包括n个级联的质量影响要素，且第i+1级质量影响要素为第i级质量影响要素的影响因子，1≤i≤n，且n为大于等于2的正整数；根据所述质量影响要素集构建质量评价指标体系；根据所述质量评价指标体系对所述集成电路的产品质量进行评价。2.根据权利要求1所述的集成电路质量评价方法，其特征在于，所述获取集成电路产品质量的质量影响要素集，包括：根据所述集成电路的评价数据库确定所述集成电路产品质量的第一质量影响要素集；根据所述集成电路的产品设计数据、工艺制造数据、产品使用数据对所述第一质量影响要素集进行补充，得到所述集成电路产品质量的质量影响要素集。3.根据权利要求2所述的集成电路质量评价方法，其特征在于，所述根据所述集成电路的产品设计数据、工艺制造数据、产品使用数据对所述第一质量影响要素集进行补充，得到所述集成电路产品质量的质量影响要素集，包括：根据所述集成电路的产品设计数据、工艺制造数据、产品使用数据和预设独立性规则确定多个第一级质量影响要素；根据所述集成电路的产品设计数据、工艺制造数据、产品使用数据和预设独立性规则确定多个第二级质量影响要素；根据所述集成电路的产品设计数据、工艺制造数据、产品使用数据和所述预设独立性规则确定多个第三级质量影响要素；根据所述第一级质量影响要素、所述第二级质量影响要素和所述第三级质量影响要素，得到所述质量影响要素集。4.根据权利要求3所述的集成电路质量评价方法，其特征在于，所述多个第一级质量影响要素包括：质量基础要素、质量符合性要素、质量适用性要素和质量外部性要素；所述多个第二级质量影响要素包括：质量管理水平要素、核心技术基础水平要素、可靠性要素、合格率要素、顾客满意度要素、问题解决时效要素、投诉率要素、损失率要素；所述第三级质量影响要素为知识产权成果要素，所述知识产权成果要素为所述核心技术基础水平要素的所述影响因子。5.根据权利要求1所述的集成电路质量评价方法，其特征在于，所述根据所述质量影响要素集构建质量评价指标体系，包括：根据专家评分法得到每级所述质量影响要素的指标评分；根据所述指标评分构建所述质量评...

【专利技术属性】
技术研发人员：曲晨冰，路国光，林晓玲，高汭，孙宸，恩云飞，陈义强，王力纬，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：