一种测量线圈制造技术

技术编号:33020995 阅读:30 留言:0更新日期:2022-04-15 08:54
本申请涉及电气元件的领域,尤其是涉及一种测量线圈,其包括材料不同的第一芯环和第二芯环,第一芯环与第二芯环上下叠置,第一芯环和第二芯环之间设有用于连接第一芯环和第二芯环的连接件。连接件为连接环,连接环设置在第一芯环朝向第二芯环的一面上,第二芯环朝向第一芯环的一面上开设有供连接环卡接的卡槽。本申请具有一组测量线圈适应满足大小不同电流精度的线性度测量的效果。流精度的线性度测量的效果。流精度的线性度测量的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种测量线圈


[0001]本申请涉及电气元件的领域,尤其是涉及一种测量线圈。

技术介绍

[0002]使用测量线圈进行电流的测量时,通过改变测量线圈内芯的材料,能够对测量线圈的测量范围进行调整。常见的测量线圈的内芯一般为微晶、硅钢等材料。微晶内芯制成的测量线圈适合大电流的测量,硅钢制成的测量线圈适合小电流的测量,测量线圈的测量范围局限性较大。

技术实现思路

[0003]为了一组测量线圈适应满足大小不同电流精度的线性度测量,本申请提供一种测量线圈。
[0004]本申请提供一种测量线圈,采用如下的技术方案:一种测量线圈,包括材料不同的第一芯环和第二芯环,所述第一芯环上开设有让位槽,所述第二芯环设置在所述让位槽内。
[0005]通过采用上述技术方案,将第二芯环卡接在第一芯环让位槽内的方式,将两种不同的材料复合,使制成的测量线圈既能够适应大电流的测量,又能够适应小电流的测量,扩大测量线圈的测量范围,方便对测量线圈对不同的电流进行测量。
[0006]本申请还提供一种测量线圈,采用如下的技术方案:一种测量线圈,包括材料不同的第一芯环和第二芯环,所述第一芯环与第二芯环上下叠置,所述第一芯环和第二芯环之间设有用于连接第一芯环和第二芯环的连接件。
[0007]通过采用上述技术方案,将两种不同的材料复合,使制成的测量线圈既能够适应大电流的测量,又能够适应小电流的测量,扩大测量线圈的测量范围,方便对测量线圈对不同的电流进行测量。同时利用连接件提升第一芯环与第二芯环之间的连接稳定性,方便在第一芯环和第二芯环上缠绕测量线圈。
[0008]可选的,所述连接件为连接环,所述连接环设置在第一芯环朝向第二芯环的一面上,所述第二芯环朝向第一芯环的一面上开设有供连接环卡接的卡槽。
[0009]通过采用上述技术方案,连接条卡接在卡槽内,第一芯环与第二芯环分离需要克服连接环从卡槽中脱出的摩擦力,提升第一芯环与第二芯环连接的稳定性,方便在第一芯环和第二芯环上缠绕测量线圈。
[0010]可选的,所述卡槽的内壁上防松棱,所述防松棱沿卡槽的长度方向延伸,所述连接环的侧壁上开设有供防松棱卡接的防松槽。
[0011]通过采用上述技术方案,防松棱卡接在防松槽内,进一步提升第一芯环与第二芯环连接的稳定性,方便在第一芯环和第二芯环上缠绕测量线圈。
[0012]可选的,所述连接件为卡块;所述第一芯环包括多根第一芯条,多根所述第一芯条首尾相接拼接成第一芯环,
每根所述第一芯条两端的端面上均开设有供卡块卡接的第一连接槽;所述第二芯环包括多根第二芯条,多根所述第二芯条首尾相接拼接成第二芯环,每根所述第二芯条两端的端面上均开设有供卡块卡接的第二连接槽。
[0013]通过采用上述技术方案,第一芯环和第二芯环可拆卸连接,方便对第一芯环和第二芯环进行更换。第一芯环和第二芯环的拼接结构,更方便对第一芯环和第二芯环进行更换和组装。
[0014]本申请还提供一种测量线圈,采用如下的技术方案:一种测量线圈,包括材料不同的第一芯环和第二芯环,所述第一芯环套设在第二芯环上。
[0015]通过采用上述技术方案,将两种不同的材料复合,使制成的测量线圈既能够适应大电流的测量,又能够适应小电流的测量,扩大测量线圈的测量范围,方便对测量线圈对不同的电流进行测量。
[0016]可选的,所述第一芯环包括多根拼接条,多根所述拼接条首尾相接拼接成第一芯环,相邻所述拼接条之间通过拼接件连接。
[0017]通过采用上述技术方案,第一芯环采用拼接结构,方便对第一芯环进行拆装,方便对测量线圈进行维护和更换。
[0018]可选的,所述拼接件为锁紧块,所述拼接条两端的端面上开设有供锁紧块卡接的插槽。
[0019]通过采用上述技术方案,通过拆装锁紧块,能够快速进行第一芯环的拆装,方便对测量线圈进行维护和更换。
[0020]可选的,所述第一芯环和第二芯环之间设有扣接组件。
[0021]通过采用上述技术方案,第一芯环和第二芯环通过扣接组件组件连接,方便第一芯环和第二芯环更换和拆卸,方便对测量线圈进行维护和更换。同时扣接组件提升第一芯环和第二芯环的连接稳定性,方便在第一芯环和第二芯环上缠绕测量线圈。
[0022]可选的,所述扣接组件包括拼接块和拼接环,所述拼接块设置在拼接条朝向第二芯环的一面上,所述拼接环设置在第二芯环朝向拼接条的一面上,所述拼接块和拼接环卡接。
[0023]通过采用上述技术方案,拼接块卡接在拼接环上,提升第一芯环与第二芯环的连接稳定性,方便在第一芯环和第二芯环上缠绕测量线圈。
[0024]综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:1. 将第二芯环卡接在第一芯环让位槽内的方式,将两种不同的材料复合,使制成的测量线圈既能够适应大电流的测量,又能够适应小电流的测量,扩大测量线圈的测量范围,方便对测量线圈对不同的电流进行测量;2.设置连接件将第一芯环和第二芯环连接,提升第一芯环与第二芯环连接的稳定性,方便在第一芯环和第二芯环上缠绕测量线圈。
附图说明
[0025]图1是实施例1的整体结构示意图。
[0026]图2是实施例2的剖视图。
[0027]图3是图2中A处的局部放大示意图。
[0028]图4是体现实施例3结构的爆炸图。
[0029]图5是体现实施例3结构的剖视图。
[0030]附图标记说明:1、第一芯环;2、第二芯环;3、让位槽;4、连接环;5、卡槽;6、防松棱;7、防松槽;8、第一连接槽;9、第二连接槽;10、卡块;11、第一芯条;12、拼接条;13、扣接组件;131、拼接块;132、拼接环;14、插槽;15、锁紧块;21、第二芯条。
具体实施方式
[0031]以下结合附图1

5对本申请作进一步详细说明。
[0032]实施例1:参照图1,一种测量线圈包括第一芯环1和第二芯环2,第一芯环1采用硅钢制成,第二芯环2采用微晶制成,第一芯环1的顶面上开设有让位槽3,第二芯环2卡接在让位槽3内。第二芯环2卡接在第一芯环1内,将硅钢和微晶两种材料符合,使得测量线圈能够同时适应大电流和小电流的测量,扩大了测量线圈的测量范围,方便对不同大小的电流进行测量。
[0033]在一些其他实施例中,也可以用微晶制成第一芯环1,用硅钢制成第二芯环2。让位槽3可以开设在第一芯环1的内壁或者外壁上。
[0034]本申请实施例1的实施原理为:设置第一芯环1和第二芯环2分别为适应大电流的材料和适应小电流的材料,通过将第一芯环1和第二芯环2拼接在一起,将两种材料复合,使制成的测量线圈既能够适应大电流的测量,又能够适应小电流的测量,扩大测量线圈的测量范围,方便对测量线圈对不同的电流进行测量。
[0035]实施例2:参照图2和图3,实施例2与实施例1的不同在于:第一芯环1叠置在第二芯环2上,第一芯环1与第二芯环2之间通过连接件连接。本实施例中,连接件具体为连接环4,连接环4一体成型在本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量线圈,其特征在于:包括材料不同的第一芯环(1)和第二芯环(2),所述第一芯环(1)上开设有让位槽(3),所述第二芯环(2)设置在所述让位槽(3)内。2.一种测量线圈,其特征在于:包括材料不同的第一芯环(1)和第二芯环(2),所述第一芯环(1)与第二芯环(2)上下叠置,所述第一芯环(1)和第二芯环(2)之间设有用于连接第一芯环(1)和第二芯环(2)的连接件。3.根据权利要求2所述的一种测量线圈,其特征在于:所述连接件为连接环(4),所述连接环(4)设置在第一芯环(1)朝向第二芯环(2)的一面上,所述第二芯环(2)朝向第一芯环(1)的一面上开设有供连接环(4)卡接的卡槽(5)。4.根据权利要求3所述的一种测量线圈,其特征在于:所述卡槽(5)的内壁上防松棱(6),所述防松棱(6)沿卡槽(5)的长度方向延伸,所述连接环(4)的侧壁上开设有供防松棱(6)卡接的防松槽(7)。5.根据权利要求2所述的一种测量线圈,其特征在于:所述连接件为卡块(10);所述第一芯环(1)包括多根第一芯条(11),多根所述第一芯条(11)首尾相接拼接成第一芯环(1),每根所述第一芯条(11)两端的端面上均开设有供卡块(10)卡接的第一连接槽(8);所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:何嘉杰
申请(专利权)人:上海嘉益电器设备有限公司
类型:发明
国别省市:

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