一种用于单晶组件的测试装置制造方法及图纸

技术编号:32983860 阅读:20 留言:0更新日期:2022-04-09 12:29
本实用新型专利技术公开了一种用于单晶组件的测试装置,包括测试箱,所述测试箱内腔的顶部设置有日光灯,所述测试箱内腔的左侧设置有温度传感器,所述测试箱内腔的底部通过支架固定安装有放置台,所述放置台内腔的右侧固定安装有步进电机,所述步进电机的输出轴固定安装有螺杆,所述螺杆的表面螺纹连接有螺块,所述螺块的顶部通过支架固定安装有右夹板。本实用新型专利技术设置了测试箱、风机、金属管、调温箱、箱门、左夹板、放置台、右夹板、日光灯、加热棒、盘管、制冷器、螺杆、步进电机、螺块和温度传感器,解决了传统的单晶组件测试设备使用效果不好,不便于对组件进行夹紧固定,且不便于调节环境温度的问题。问题。问题。

【技术实现步骤摘要】
一种用于单晶组件的测试装置


[0001]本技术涉及单晶组件
,具体为一种用于单晶组件的测试装置。

技术介绍

[0002]单晶组件即单晶硅太阳电池组件,包括单晶硅太阳电池单体和封装方框,其中,单晶硅太阳能电池,是以高纯的单晶硅棒为原料的太阳能电池,是当前开发得最快的一种太阳能电池,它的构造和生产工艺已定型,产品已广泛用于空间和地面,封装方框是正方形结构,单晶硅太阳电池单体安装于封装方框内,在单晶组件加工的过程中需要使用到测试设备,对其性能和安全性进行检测,但传统的单晶组件测试设备使用效果不好,不便于对组件进行夹紧固定,且不便于调节环境温度,为此,我们提出一种用于单晶组件的测试装置。

技术实现思路

[0003]解决的技术问题
[0004]针对现有技术的不足,本技术提供了一种用于单晶组件的测试装置,具备使用效果好的优点,解决了传统的单晶组件测试设备使用效果不好,不便于对组件进行夹紧固定,且不便于调节环境温度的问题。
[0005]技术方案
[0006]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种用于单晶组件的测试装置,包括测试箱,所述测试箱内腔的顶部设置有日光灯,所述测试箱内腔的左侧设置有温度传感器,所述测试箱内腔的底部通过支架固定安装有放置台,所述放置台内腔的右侧固定安装有步进电机,所述步进电机的输出轴固定安装有螺杆,所述螺杆的表面螺纹连接有螺块,所述螺块的顶部通过支架固定安装有右夹板,所述放置台顶部的左侧固定安装有左夹板,所述测试箱左侧的顶部通过安装座固定安装有风机,且风机的输入端通过管道与测试箱连通,所述测试箱的顶部固定安装有调温箱,所述调温箱内腔的顶部设置有若干个加热棒,所述调温箱内腔的底部设置有制冷器,所述风机的输出端连通有金属管,所述金属管的另一端连通有盘管,且盘管的另一端通过管道与测试箱连通,所述测试箱的正面通过铰链活动连接有箱门。
[0007]优选的,所述调温箱顶部的右侧连通有加液管,且加液管的顶部设置有旋盖。
[0008]优选的,所述调温箱右侧的底部连通有排液管,所述排液管的内腔设置有电磁阀。
[0009]优选的,所述测试箱的左侧通过支架固定安装有管卡,且管卡与金属管固定连接。
[0010]优选的,所述测试箱的右侧设置有控制开关,且控制开关的表面设置有防护膜。
[0011]优选的,所述测试箱右侧的底部固定安装有电池箱,且电池箱的内腔设置有蓄电池。
[0012]优选的,所述调温箱内腔的上下两端均通过支架固定安装有稳定环,且稳定环与盘管固定连接。
[0013]优选的,所述螺块的底部通过支架设置有滑块,所述放置台内腔的底部开设有与
滑块配合使用的滑槽。
[0014]有益效果
[0015]与现有技术相比,本技术提供了一种用于单晶组件的测试装置,具备以下有益效果:
[0016]1、本技术打开箱门将单晶组件放在放置台的顶部,打开步进电机带动螺杆旋转,螺杆带动螺块向左移动,螺块带动右夹板移动,通过左夹板的配合,可将单晶组件夹紧,打开制冷器和风机,测试箱内空气被风机吸入,然后通过金属管进入盘管,制冷器可对调温箱内的水进行降温,水对盘管内的空气换热,空气沿管道回到测试箱内,从而对测试箱内进行降温,温度传感器可对测试箱内温度进行检测,便于工作人员检测单晶组件在不同低温状态下的性能,同理,打开加热棒和风机,加热棒可对调温箱内的水加热,从而使测试箱内温度升高,从而便于工作人员检测单晶组件在不同高温状态下的性能,打开日光灯可为单晶组件提供光能,解决了传统的单晶组件测试设备使用效果不好,不便于对组件进行夹紧固定,且不便于调节环境温度的问题。
[0017]2、本技术加液管方便人们向调温箱内添加水,打开电磁阀方便人们将调温箱内的水沿排液管放出更换,管卡使金属管更加的稳固,稳定环使盘管更加的稳固,控制开关方便人们控制各个电器的开关,电池箱内的蓄电池为装置提供备用电能,滑槽和滑块使螺块移动时稳固。
附图说明
[0018]图1为本技术结构示意图;
[0019]图2为本技术剖视结构示意图;
[0020]图3为本技术放置台剖视放大结构示意图。
[0021]图中:1、测试箱;2、风机;3、管卡;4、金属管;5、调温箱;6、加液管;7、电磁阀;8、排液管;9、控制开关;10、电池箱;11、箱门;12、左夹板;13、放置台;14、右夹板;15、日光灯;16、加热棒;17、盘管;18、制冷器;19、稳定环;20、滑槽;21、螺杆;22、滑块;23、步进电机;24、螺块;25、温度传感器。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0023]请参阅图1

3,一种用于单晶组件的测试装置,包括测试箱1,测试箱1的右侧设置有控制开关9,且控制开关9的表面设置有防护膜,控制开关9方便人们控制各个电器的开关,测试箱1右侧的底部固定安装有电池箱10,且电池箱10的内腔设置有蓄电池,电池箱10内的蓄电池为装置提供备用电能,测试箱1内腔的顶部设置有日光灯15,测试箱1内腔的左侧设置有温度传感器25,测试箱1内腔的底部通过支架固定安装有放置台13,放置台13内腔的右侧固定安装有步进电机23,步进电机23的输出轴固定安装有螺杆21,螺杆21的表面螺纹连接有螺块24,螺块24的底部通过支架设置有滑块22,放置台13内腔的底部开设有与滑
块22配合使用的滑槽20,滑槽20和滑块22使螺块24移动时稳固,螺块24的顶部通过支架固定安装有右夹板14,放置台13顶部的左侧固定安装有左夹板12,测试箱1左侧的顶部通过安装座固定安装有风机2,且风机2的输入端通过管道与测试箱1连通,测试箱1的顶部固定安装有调温箱5,调温箱5顶部的右侧连通有加液管6,且加液管6的顶部设置有旋盖,加液管6方便人们向调温箱5内添加水,调温箱5右侧的底部连通有排液管8,排液管8的内腔设置有电磁阀7,打开电磁阀7方便人们将调温箱5内的水沿排液管8放出更换,调温箱5内腔的顶部设置有若干个加热棒16,调温箱5内腔的底部设置有制冷器18,风机2的输出端连通有金属管4,测试箱1的左侧通过支架固定安装有管卡3,且管卡3与金属管4固定连接,管卡3使金属管4更加的稳固,金属管4的另一端连通有盘管17,且盘管17的另一端通过管道与测试箱1连通,调温箱5内腔的上下两端均通过支架固定安装有稳定环19,且稳定环19与盘管17固定连接,稳定环19使盘管17更加的稳固,测试箱1的正面通过铰链活动连接有箱门11,打开箱门11将单晶组件放在放置台13的顶部,打开步进电机23带动螺杆21旋转,螺杆21带动螺块24向左移动,螺块24带动右夹板14移动,本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于单晶组件的测试装置,包括测试箱(1),其特征在于:所述测试箱(1)内腔的顶部设置有日光灯(15),所述测试箱(1)内腔的左侧设置有温度传感器(25),所述测试箱(1)内腔的底部通过支架固定安装有放置台(13),所述放置台(13)内腔的右侧固定安装有步进电机(23),所述步进电机(23)的输出轴固定安装有螺杆(21),所述螺杆(21)的表面螺纹连接有螺块(24),所述螺块(24)的顶部通过支架固定安装有右夹板(14),所述放置台(13)顶部的左侧固定安装有左夹板(12),所述测试箱(1)左侧的顶部通过安装座固定安装有风机(2),且风机(2)的输入端通过管道与测试箱(1)连通,所述测试箱(1)的顶部固定安装有调温箱(5),所述调温箱(5)内腔的顶部设置有若干个加热棒(16),所述调温箱(5)内腔的底部设置有制冷器(18),所述风机(2)的输出端连通有金属管(4),所述金属管(4)的另一端连通有盘管(17),且盘管(17)的另一端通过管道与测试箱(1)连通,所述测试箱(1)的正面通过铰链活动连接有箱门(11)。2.根据权利要求1所述的一种用于单晶组件的测试装置,其特征在于:所述调温箱(5)顶部的右侧...

【专利技术属性】
技术研发人员:王金花
申请(专利权)人:苏州天利光伏科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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