集成电路测试分选收料机构制造技术

本实用新型专利技术技术方案公开了一种集成电路测试分选收料机构，包括机架主体及设置于机架主体上用于运载元件物料的入料线，入料线一侧上方设有用于将入料线上的各物料向下方推送的竖轴气缸，机架主体两侧底部分别设有第一放料堆垛及第二放料堆垛，第一放料堆垛及第二放料堆垛均包括转盘，及转盘上设有用于接收竖轴气缸推送元件物料的定位柱，竖轴气缸一侧设有横向位移的横轴气缸，横轴气缸与第二放料堆垛连接。本实用新型专利技术技术方案解决了现有技术中的元件物料缺乏高效且高质量初加工的结构设备，不能满足高效高质量的生产需求的问题。不能满足高效高质量的生产需求的问题。不能满足高效高质量的生产需求的问题。

【技术实现步骤摘要】
集成电路测试分选收料机构


[0001]本技术技术方案涉及电路元件加工领域，特别涉及一种集成电路测试分选收料机构。

技术介绍

[0002]目前在对集成电路上的元器件进行加工前，通常会进行元件物料的初加工或将物料堆放好，以便于后续加工。现有技术中由人工进行初步贴板或手工进行堆放，但由于是手工操作，其效率及质量得不到保障。本技术技术方案为解决上述问题，提出一种集成电路测试分选收料机构，采用专门的转动式收料机构，以及可用作贴板、贴片的自动机构，这种自动化结构不仅大大提高了收料的效率，在需要进行初步加工时，也保证了初加工的质量，结构简单，耐用性强，采用可拆卸装配结构，可实现各种客制化尺寸，适用性较强。

技术实现思路

[0003]本技术技术方案旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本技术技术方案的主要目的在于提供一种集成电路测试分选收料机构，旨在解决现有技术中的元件物料缺乏高效且高质量初加工的结构设备，不能满足高效高质量的生产需求的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术技术方案提供一种集成电路测试分选收料机构，包括机架主体及设置于机架主体上用于运载元件物料的入料线，入料线一侧上方设有用于将入料线上的各物料向下方推送的竖轴气缸，机架主体两侧底部分别设有第一放料堆垛及第二放料堆垛，第一放料堆垛及第二放料堆垛均包括转盘，及转盘上设有用于接收竖轴气缸推送元件物料的定位柱，竖轴气缸一侧设有横向位移的横轴气缸，横轴气缸与第二放料堆垛连接。
[0005]在其中一个实施例中，第二放料堆垛的定位柱上设有用于装载元件物料的底板，横轴气缸横向位移，与元件物料底部活动连接。
[0006]在其中一个实施例中，第一放料堆垛及第二放料堆垛上设置有至少4组用于放置元件物料，及用于固定的定位柱，且每组定位柱数量为2根。
[0007]在其中一个实施例中，转盘均连接有一个调速齿轮及电路。
[0008]在其中一个实施例中，入料线通过吊件与机架主体顶部固定连接。
[0009]在其中一个实施例中，机架主体为三段式机架。
[0010]在其中一个实施例中，定位柱上设有测高传感器。
[0011]在其中一个实施例中，转盘底部通过一块安装盘固定于机架主体底部的两个杆体上。
[0012]本技术技术方案的有益效果如下：
[0013]本技术技术方案提出的集成电路测试分选收料机构，采用专门的转动式收料机构，以及可用作贴板、贴片的自动机构，这种自动化结构不仅大大提高了收料的效率，在
需要进行初步加工时，也保证了初加工的质量，结构简单，耐用性强，采用可拆卸装配结构，可实现各种客制化尺寸，适用性较强。
附图说明
[0014]为了更清楚地说明本技术技术方案实施例或现有技术中的技术技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术技术方案的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0015]图1为本技术技术方案中的机架主体及横轴气缸、竖轴气缸及各部件整体结构示意图。
[0016]图2为本技术技术方案中的横轴气缸、定位柱及结构整体一侧平面示意图。
[0017]图3为本技术技术方案中的第一放料堆垛及第二放料堆垛另一侧平面结构示意图。
[0018]【主要部件/组件附图标记说明表】
[0019]标号名称标号名称1机架主体2第一放料堆垛10入料线20转盘11竖轴气缸21定位柱12横轴气缸3第二放料堆垛
具体实施方式
[0020]为了使本技术技术方案的目的、技术技术方案的优点更加清楚明白，下面将结合本技术技术方案实施例中的附图，对本技术技术方案实施例中的技术技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本技术技术方案的一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0021]基于本技术技术方案中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术技术方案保护的范围。
[0022]需要说明，本技术技术方案实施例中所有方向性指示(例如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定状态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0023]在本技术技术方案中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。
[0024]在本技术技术方案的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
[0025]在本技术技术方案中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体成型；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人
员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术技术方案中的具体含义。
[0026]另外，本技术技术方案中各个实施例之间的技术技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术技术方案的结合不存在，也不在本技术技术方案要求的保护范围之内。
[0027]本技术技术方案的具体实施例如下：
[0028]实施例1：
[0029]参照图1～图3，一种集成电路测试分选收料机构，包括机架主体1及设置于机架主体1上用于运载元件物料的入料线10，入料线10一侧上方设有用于将入料线10上的各物料向下方推送的竖轴气缸11，机架主体1两侧底部分别设有第一放料堆垛2及第二放料堆垛3，第一放料堆垛2及第二放料堆垛3均包括转盘20，及转盘20上设有用于接收竖轴气缸11推送元件物料的定位柱21，竖轴气缸11一侧设有横向位移的横轴气缸12，横轴气缸12与第二放料堆垛3连接。
[0030]集成电路测试分选收料机构，采用专门的转动式收料机构，以及可用作贴板、贴片的自动机构，这种自动化结构不仅大大提高了收料的效率，在需要进行初步加工时，也保证了初加工的质量，结构简单，耐用性强，采用可拆卸装配结构，可实现各种客制化尺寸，适用性较强。工作时，入料线10将元件物料送往竖轴气缸11下方，竖轴气缸11将元件物料推送至下方转盘20的各个定位柱21上，竖轴气缸11附近设有光学CCD或其他检测组件，NG或0K的元件物料在转盘20上分开装载。另一侧的第二放料堆垛3可以作为初步加工的堆料装置，例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试分选收料机构，其特征在于，包括机架主体及设置于所述机架主体上用于运载元件物料的入料线，所述入料线一侧上方设有用于将所述入料线上的各物料向下方推送的竖轴气缸，所述机架主体两侧底部分别设有第一放料堆垛及第二放料堆垛，所述第一放料堆垛及所述第二放料堆垛均包括转盘，及所述转盘上设有用于接收所述竖轴气缸推送元件物料的定位柱，所述竖轴气缸一侧设有横向位移的横轴气缸，所述横轴气缸与所述第二放料堆垛连接。2.根据权利要求1所述的集成电路测试分选收料机构，其特征在于，所述第二放料堆垛的所述定位柱上设有用于装载元件物料的底板，所述横轴气缸横向位移，与元件物料底部活动连接。3.根据权利要求1所述的集成电路测试分选收料机构，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈永金，沈元信，解维虎，梅小杰，
申请(专利权)人：东莞市金誉半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：